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這裡應該是您把DRC和LVS的error放一起講了,
0 G) @0 q5 k2 K; k我把兩種error分開來解釋好了.% ]( T0 o6 X" E6 Z( O C: G
以下先講DRC的error.
. d0 \- I. I N
$ l Z( B, o9 [- y/ L8 K# S; _====================DRC Error=====================
7 H! U) G8 |$ Z$ \! `2 ERC Warning : Latchup rule LAT3 distance s/d diff ngate net_subtap > 200 H: j; L9 |6 J' C3 P. p
+ P/ ~ C7 c) L/ G# Y; k
若是在我們這裡經常使用CIC提供的TSMC 0.35um製程的話,
2 U2 s( { M1 [: v此類錯誤在DRC驗證時就會出現了,
( T+ G6 {; i! z# ]5 ]不過這要看rule是怎麼寫的, 它其實並沒有一定得在做何種驗證時出現的必然性,& J+ ~, K7 T3 V/ w0 n
只是我自己把它歸在DRC Error而已.
1 j, y! V. r( G$ R! |3 F上面這一條, 根據我長久以來的觀察結果...通常都是佈局者忘記打substrate contact了.
6 V1 _! ]: m$ X* x5 v) j' c$ [. q如果DRC hightlight跑出來亮的是一大片的話, 那就是您忘記打substrate contact了.
/ a6 j6 ^* M' W5 A6 c但也有可能像海闊天空大大說的...您或許有nmos或n-type device的substrate contact離device本身大於20um所致.
0 ?( w7 |* Z" N0 M2 c3 E8 g) D4 ^: D1 r* q) l% M
1 M1R1 Minimum density of MET1 area [%] =302 N+ ^3 X/ g3 {$ m+ M7 G
1 M2R1 Minimum density of MET2 area [%] =30
0 V4 V/ `4 Z0 ]1 e1 M3R1 Minimum density of MET3 area [%] =30! W( ?& P+ o3 t# T& l3 |8 \
1 M4R1 Minimum density of MET4 area [%] =30
) @& Z# n6 I k; f% P% B' R1 e: s3 e8 P7 O/ l4 v
以上四條, 同樣如海闊天空大大所說, 為metal density的問題.
! f- z4 o; i( K+ c F為確保製程良率, foundry通常會制定這樣的rule,
7 U% B b0 n4 [8 I不過到底是不是您要自己把metal density補到夠, 或是它們是可以忽略的"假錯",
; X8 n! |/ j7 d以及要用來補metal density的dummy cell的size及其所需間隔的space,
9 G1 u$ v8 b6 l) k4 |! a- s9 P則需視您所使用的製程(哪家foundry? 多少的製程?)來決定, Design Rule裡面通常會有的, & h4 R- B. j9 ]4 \2 l
應該在蠻後面的地方, 您可以翻Design Rule看看.
H( N/ h8 e* a1 m" Y, R# K2 t) `/ E: F8 a! d6 O% {
1 POC1 Minimum POLY1 to DIFF spacing = 0.2( R. q/ L' D& b+ a
! ?/ k7 ^% W2 [0 r4 }- ^上面這條呢, 是講說您的POLY1與DIFF的space小於0.2了,& n/ t% g8 S9 d' @6 z9 a
用RVE 把發生錯誤的地方highlight起來, 您應該就能看到錯誤發生在哪裡了.8 W0 P- y c1 V, @/ g+ e! `4 i/ z
個人猜想, 以及根據經驗的猜測呢...0 V3 l% ]- f6 V- c' M2 o5 `0 I
很有可能是endcap轉彎要打poly contact的地方與DIFF的space小於0.2的關係,
/ w1 A8 q% o; P, j& g% }, U' P或者是用POLY1繞的線與其旁邊的DIFF的space小於0.2...諸如此類的關係,: u) ?% p+ }/ A) n
而此點與上述的metal density無關, 是一定要修改的DRC Error.
1 [) }. d4 A" g) L. ^1 ^
: {8 \7 v. k, H====================LVS Error=====================
% P. @6 L3 k6 ^ A/ b$ E再來是LVS的Error:* e: s' W- r% U' Q& q
$ ~3 Z' z- C4 _2 M/ l9 p
4 Label/Pin is on a net with a different name
1 b9 Z8 Z+ b9 R7 k4 P9 ^. j; Y% z ?% G0 f+ k$ a# Y! o: R" T
這一條的話呢, 看來您是在同一條metal線上, 打了兩個不同名字的pin了.
- m) }0 o2 u; q- Y廣義的來說, 一條metal線(或應該說是一個節點),
. \- c! b! Z# A" z絕對只能有一個名字, 也就是它就應該只能打一個pin, , i$ c0 Z, l' H
我想可能也不見得要檢查電路圖...雖然說是我的話我可能也還是會看一下電路圖啦...
& _2 o/ w/ a- l$ R或許請您到佈局裡面看看那些metal線上是否發生了一條metal上面有不只一個pin這樣的問題,3 ~ X: T) X: V) X& u$ p N8 O/ `9 N7 r
那麼這一條error應該就能夠解決了.9 G$ I+ e) M0 h: @( n3 ^" ?
* S1 M. {" X5 g- l9 G* |1 Figure Causing Multiple Stamped Connections* D# {* r U) Z: n$ y( y
1 Figure Having Multiple Stamped Connections
{; F8 e. z, H% [. v, E6 L
# y. C' _+ z8 ~, F' d* m這兩條的話呢, 如果沒有意外的話,$ _) k/ O: q3 f" k
其實也如海闊天空大大所說, 其實跟上面那一條是基本上一樣的...3 [! T9 _) Z- t" U0 \ J
所以若是您解決了上面LVS的第一條Label/Pin的問題之後,8 `1 ]8 N7 S9 ` y4 e
照理說這兩條就不應該再出現了,) B: ~- |- g8 ^
若有再出現的話, 就要看它們是否還有再搭配其它的error存在了.
7 c6 U3 {$ |% p% J5 I, `/ s1 Z& m% @: \4 r) z/ x" Y! f4 D+ }
最後補充一點點東西...2 G2 ^* ]8 o" [6 t. J4 L
看您發問時候的問題排版, ERC那條排在最上面,: Q$ m1 F; j0 w$ \1 v+ a
所以我猜有這幾種情況: \3 ~' A$ ^6 @
1. 或許您的ERC驗證是另外做的, 不像我們跑的LVS驗證裡就有含ERC rule了.4 `$ O: [8 Q% p# \
2. 又或許您的ERC含在LVS驗證裡, 兩種一起做的, 所以它會和LVS Error排在一起.# P2 w9 O# L5 F' u+ k& t1 E& v
3. 還是我想太多, 只是您把各種Error混著排罷了, 它們的位置本身是沒關係的呢? 呵呵...
! F1 M+ g6 G4 m( [
2 ]+ E. [' {; a: A8 R5 F一點點經驗, 希望有幫上您的忙!! |
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