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[問題求助] 畫電阻時為何需要考慮邊緣與彎曲的地方?

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1#
發表於 2007-8-12 20:25:21 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
小妹又來了。
% ~8 B8 o* n0 ~這次我的問題是:
. I0 c, G! i. Y$ g. ]1.當在畫電阻時會以contact來連接,以做成較大的電阻,聽說contact的邊緣與電阻也有關係,要考慮進去這是為什麼?
8 M, a) [0 ^& |  \4 d7 {2.當電阻彎曲時,也會使電阻產生不確定的因素,why?(如下圖)
0 I. J$ F1 O/ f! W1 i- x7 ^; H
2 \& T; X. `4 a& {; q4 }3.以non-silicided poly畫電阻對Body會產生較小的寄生電容(與silicided poly相較),why?
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2#
發表於 2007-8-12 23:22:49 | 只看該作者
1、一般1個contact的resistor是固定的,可參考foundary的資料,一般L=Lm+dL,W=Wm。, I" T0 ?: Z/ h+ [$ }0 i0 _
2、彎曲電阻的不確定性只要考慮current的流動(想像水的流動)你就知道了。
3 `0 S+ E/ N' _. [3、查capacitor的公式就知道了,C=eA/d,e表示介電常數(為2個級板),現在substrate是silicon,所以.以non-silicided poly  4 _: ^+ O4 X: Q
     畫電阻對Body會產生較小的寄生電容。

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參與人數 1 +2 收起 理由
woo240 + 2 熱心回覆! 謝謝回答唷,對我很有幫助!

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3#
發表於 2007-8-14 10:25:16 | 只看該作者

作 TFT 的人之淺見

1. contact hole 的 edge 很容易因曝光而產生差異,曝光不足或過量,都會有形變而造成 contact面積上的變化。再者,edge 容易有爬坡問題,其所造成阻抗變動,較難估算(此為 TFT Thin Film Process 易遇到的 issue)。但就發問同學所提問內容,應是考慮 R=Rs*L/W 的式子,在 contact hole 處所代入的 W 及 L;但這有很多人作過相關研究了喔,查一下應該有數據或公式可以直接代的喔。. \% B( @  V" u! A1 }
8 B6 o3 e. S- M1 n4 f5 R
2.同上。轉角處的電阻,印象中的數據,以方格電阻計,為一正方格的 2/3 還是 3/5 ..... 忘記了.....
, T: n2 o1 K% L
0 x) A$ z/ I, w2 f$ I! O6 y) }3.以下純屬猜測:是因為等阻值 Layout,non-silicided poly 佔用較小面積,而 silicided poly 需佔用較大面積嗎 ?

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參與人數 1 +2 收起 理由
woo240 + 2 熱心回覆!TFT方面的回答對我也很有幫 ...

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4#
 樓主| 發表於 2007-8-16 16:59:16 | 只看該作者
小妹還有個問題7 c% S& h4 A1 e, o4 k
1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的5 _# b0 P* _( A/ J$ `
  是否說"對低阻抗而言電流擁擠與轉角的不協調是不重要的”
5#
發表於 2007-8-16 23:09:18 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-16 04:59 PM 發表 , k2 a+ Y# V6 J7 y6 L( d
小妹還有個問題
1 I; ?1 w. L' ~1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的
& q- g2 }3 \: h8 }) p4 O  是否說"對低阻抗而言電流擁擠與轉角的不協調是不重要的”

& [# S! D5 a& K7 A: G3 a4 O% o5 ]2 [# `: P
+ w5 d3 C& C9 b; S' f
須注意相關current density的問題......................
6#
發表於 2007-8-17 10:30:07 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-12 08:25 PM 發表 6 g$ ~! ~/ ?2 C# \7 @
小妹又來了。) ~  S3 n  {/ O
這次我的問題是:. T8 c! p! K& C- z
1.當在畫電阻時會以contact來連接,以做成較大的電阻,聽說contact的邊緣與電阻也有關係,要考慮進去這是為什麼?
7 G  o2 G: a: z; G' v2.當電阻彎曲時,也會使電阻產生不確定的因素,why?(如下圖 ...
+ J  [* u4 q$ f
: p4 R6 b5 T! B
Q1:當contact連接到下層的metal時,會有接面電阻..因此要考慮的應該是contact到metal間的電阻( D; \: v# M# t& Q0 O4 B2 G
     但因為要接contact, metal必須畫大一點..但是poly的電阻是以一口來作為計算的準則. H* Y* r; i. Z0 }
     雖然電阻看起來是比較大,但是在L/W都一樣的情況下,poly電阻的大小都一樣大% W# ~" j# r! L, ^# H2 v1 {8 J( W
     例如: L/W=1/1和L/W=1.5/1.5時,兩個電阻都一樣大9 v; x( `. K: |2 {* d# l
     因此第一個contact接到metal,應該要考慮的是接面電阻
; A# x, m: e: x7 o% T& Q6 `# i% f( ^$ H6 Q4 f
Q2:在製程時,會有所謂的邊緣擴散~0 z$ b* X5 |2 `+ z
     依照這樣轉角的電阻畫法,因為排列的不相同,
! _( t+ d9 D6 Z5 W: C2 X% m% y- p     所以擴散的情況也會不同.4 r+ b3 `+ l( A5 E6 {/ u; X& Q: x
     若是轉角擴散情況嚴重,造成上下兩條直線接在一起
/ \3 y( P0 L; N/ g0 E. |  _8 I     整體的電阻值會變得無法預測..(以一般.35製程來說...實際下線的電阻値與劃出來的電阻值約會下降10%): ?! k$ ]0 r" K/ m8 S* y
     因此通常在繪製電阻時,通常會採用串聯的方式..8 D7 `# A% w: _6 V' r4 f" G
     分別繪製相同大小阻值的電阻串聯起來~來達到想要的電阻% i: U0 X# v  q+ J5 ~
     這種作法,因為每一段電阻值都相同,因此可以假測變動的情況也會相同& y: N7 }, t8 f" o  g/ R& [
     但是整體而言,因為一起變動,可以把電阻的變動直降到較低的情況7 v1 F9 X' [# l) K; C$ \
1 y5 F* P+ H) E/ f" t) ?$ I
     這種轉角的電阻畫法,還有另一種缺點:
4 z0 S+ @8 Q; H' ?. R2 Q     因為電子會在轉角處聚集較多的電子,因此在轉角處會較易過熱3 u. f+ h0 V4 d  M, k
     容易造成electromigration,也就是所謂的電子遷移..
, S! P: |/ T: j$ ~$ D# U/ G     更簡單的來說,再轉角過熱的情況,該處的金屬容易因為過熱而斷掉或因為熱擴散造成電阻值變動
& P* e2 u; d3 R) R% F: G     + [0 U8 c( j! q' \) J$ ^2 m8 r
     這兩個是轉角畫法較嚴重的問題
& n( t  `. K4 _: ]' Z
' V6 e$ \0 ?7 `/ @. a- a; V6 p0 J7 _! m, z
另外是Q1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的
: v3 t" I# h/ A3 y( T$ l8 M1 G這個問題,以實際的製程來說,電阻畫的越小,在製程時造成的邊緣擴散效應較低
- X* I. P% V: L: K6 e因此電阻值畫的越小,電阻值的變動越低1 Q' a& ^( J: ]9 L) g# ^/ u- _
換句話說,用較小尺寸的電阻做串聯時,電阻的變動會較低

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yhchang + 4 Good answer!
woo240 + 3 您的回答很詳盡,謝謝你了,以後有問題 ...

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7#
 樓主| 發表於 2007-8-20 22:30:16 | 只看該作者
6樓的樓主很謝謝你的回答
6 f$ B. n0 `: ]) ^; E2 E& [$ v不過又有了一個疑問8 t0 D, P. c2 H0 N- h, u0 Q$ a1 ~
就是在電阻應用考量時,我們在layout中是無法做出精密的電阻值,這是要考量的其中之一
( i9 d( x) S! {' p5 P! J& D6 g- N但是”小的電阻值會有較大的誤差值”
. |' u: D+ o6 S這句”小的電阻值” 我可以把它解釋為以哪一層次來做電阻嗎?(well, diffusion, poly, metal)9 K3 _5 r/ V' a9 @
是說以metal來畫電阻的話會比用poly來畫的誤差大嗎?
+ _! q5 l& V5 v- k9 s% u" ]如果是的話,那為何不用well做電阻呢?
8#
發表於 2007-8-22 09:46:14 | 只看該作者

回復 #7 woo240 的帖子

小的電阻值應該是指面積吧2 b3 |! i; N" d% }0 T; ~. O; N8 [
面積很小(nwell, diffusion, poly, metal)都一樣誤差大(這是指絕對值)+ {( |: H3 l4 r7 o5 Z
特別是用diffusion產生的電阻  
& y6 ~0 }: w4 n/ w% ^3 C( l你只要知道這材料怎麼做出來…就會了解為什誤差會~這麼大~. M% o7 H" w2 M6 L4 k& s" \
但是相對於同一個 ic 裡的同一個材料的電阻
0 ~  ?. U! {. Y: w# Y( w( ?彼此的電阻比值誤差很小 ( 前提是有考慮好matching )
9#
發表於 2007-8-22 10:17:48 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-20 10:30 PM 發表
: ~8 T+ s/ r6 p, ?- h$ I6樓的樓主很謝謝你的回答
* I! ~$ }, O  d; X5 ], Z# p不過又有了一個疑問
# `8 r  y! ^) s% r就是在電阻應用考量時,我們在layout中是無法做出精密的電阻值,這是要考量的其中之一
  w7 Z9 g9 C$ O6 l但是”小的電阻值會有較大的誤差值”
, S; l! t" E8 f* O% a. F# Y$ C這句”小的電阻值” 我可以把它解 ...
/ G/ U2 d3 X" M" n. k  n- S- C2 n

9 r! t. u5 o2 N; t! f小的电阻值的理解是错误的  这句话应该理解为: 为了保证电阻值的精度范围,需要W/L 的值越大越好;另外,单个电阻是很以实现精确的电阻值的(金属电阻除外),你需要保证的只是电阻的比例而已,而这是可以通过matching 来实现的
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