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這裡應該是您把DRC和LVS的error放一起講了,
' r/ ~3 c* Z0 k1 ?4 R5 P& T我把兩種error分開來解釋好了.0 M, B9 L3 D/ t$ Z2 }
以下先講DRC的error.
% U' q/ i3 k4 Z( e
/ k6 g7 }7 g$ n i% J1 V% H( p4 @+ b====================DRC Error=====================6 l4 B$ L: {5 X# B' w- u! ~5 d( z. T5 b, u
2 ERC Warning : Latchup rule LAT3 distance s/d diff ngate net_subtap > 200 Q* Q* X$ O' o' k K5 A6 {6 e
: T, F# i( \& b: k若是在我們這裡經常使用CIC提供的TSMC 0.35um製程的話,, {9 p+ f) [: ^: M
此類錯誤在DRC驗證時就會出現了,8 ^0 M' u8 {0 D: n* B- E
不過這要看rule是怎麼寫的, 它其實並沒有一定得在做何種驗證時出現的必然性,! [, g+ A! x5 ]' t# T3 o
只是我自己把它歸在DRC Error而已.6 l9 E/ B$ t4 W9 B" j
上面這一條, 根據我長久以來的觀察結果...通常都是佈局者忘記打substrate contact了.: b# o( Y7 m) w; ]
如果DRC hightlight跑出來亮的是一大片的話, 那就是您忘記打substrate contact了.
1 x9 U1 T+ `6 b- _" y但也有可能像海闊天空大大說的...您或許有nmos或n-type device的substrate contact離device本身大於20um所致.
' k5 _0 [+ O2 J1 o& N7 _
8 f0 o% N) C' W" D- Q9 F1 M1R1 Minimum density of MET1 area [%] =30
7 u/ v) h7 K3 D) B7 |' l8 g1 M2R1 Minimum density of MET2 area [%] =30/ ~& a+ s+ L7 t# h) R& v
1 M3R1 Minimum density of MET3 area [%] =304 r6 p7 |8 ?: ~' V5 s$ x( w
1 M4R1 Minimum density of MET4 area [%] =30# f" n0 A5 V% e! y- V, m
% T! i2 z$ k6 y% Z: y) ], }6 L% w3 ]
以上四條, 同樣如海闊天空大大所說, 為metal density的問題.7 W% f! A1 {. S! W' p2 K
為確保製程良率, foundry通常會制定這樣的rule,
8 \( p4 i/ U G" Q) |) w不過到底是不是您要自己把metal density補到夠, 或是它們是可以忽略的"假錯",, \2 w' v; ^, K
以及要用來補metal density的dummy cell的size及其所需間隔的space,
/ f- \* H8 V2 b: E6 Z2 \則需視您所使用的製程(哪家foundry? 多少的製程?)來決定, Design Rule裡面通常會有的, ( Y0 P, W9 T; o- J% v0 Y& m$ x- v
應該在蠻後面的地方, 您可以翻Design Rule看看.
2 x! ]& T3 G) s5 R% B2 l2 S) ?4 ^4 d, u
1 POC1 Minimum POLY1 to DIFF spacing = 0.2% j) F! Y6 ], [! f4 @& v1 S
7 G1 e; |9 E. l2 u& i4 J$ f+ |
上面這條呢, 是講說您的POLY1與DIFF的space小於0.2了,
. Z! q% n0 }/ v' R& n4 P& D& G用RVE 把發生錯誤的地方highlight起來, 您應該就能看到錯誤發生在哪裡了./ o( w$ f' v4 P
個人猜想, 以及根據經驗的猜測呢...
$ @- I' J! z$ \: u9 {7 U很有可能是endcap轉彎要打poly contact的地方與DIFF的space小於0.2的關係,# {1 p" G% [, G7 c
或者是用POLY1繞的線與其旁邊的DIFF的space小於0.2...諸如此類的關係,' D7 `9 e7 P4 |
而此點與上述的metal density無關, 是一定要修改的DRC Error.9 C5 r- X; b% i, w$ H @6 T8 r
: p6 `, q8 L% X" ^
====================LVS Error=====================
0 p! F5 n' m9 x( {- Z9 {再來是LVS的Error:; M) A$ i1 ~. u1 n4 d# m: }
* f2 [1 {# j+ N3 }# W4 Label/Pin is on a net with a different name
' m9 k6 L. G( g3 |! n _
$ D; F: ^) w K+ f; [% ?. A這一條的話呢, 看來您是在同一條metal線上, 打了兩個不同名字的pin了.
, o% U4 H# r V1 g3 l. W廣義的來說, 一條metal線(或應該說是一個節點),
. }: p- Y4 T* E. k Z# I* e絕對只能有一個名字, 也就是它就應該只能打一個pin,
8 U% M- {4 a* u! x2 O8 x" k) U我想可能也不見得要檢查電路圖...雖然說是我的話我可能也還是會看一下電路圖啦...
1 v3 r& p8 e* v# C- A$ @) B或許請您到佈局裡面看看那些metal線上是否發生了一條metal上面有不只一個pin這樣的問題,
1 @! R9 o9 a1 R) t那麼這一條error應該就能夠解決了.8 C5 e) ]; V5 S- Z2 n; U% O
( k& G0 P3 v, M1 Figure Causing Multiple Stamped Connections
9 J+ c+ U8 S7 M. \! ] S1 Figure Having Multiple Stamped Connections$ w k9 G1 x2 j8 y) v
" m$ _" S1 I3 {9 `# B7 M這兩條的話呢, 如果沒有意外的話,6 w3 R8 o+ n5 y) W1 R" f- G
其實也如海闊天空大大所說, 其實跟上面那一條是基本上一樣的...4 V2 B! Q% }& d5 y
所以若是您解決了上面LVS的第一條Label/Pin的問題之後,
! n$ a+ b# l4 ]# ^: @- E) X' A照理說這兩條就不應該再出現了,! t" U! i4 w: s, d) _
若有再出現的話, 就要看它們是否還有再搭配其它的error存在了.
" Q% v+ \6 X [4 o: R& W W9 X. B' z6 f& V0 u6 \
最後補充一點點東西...
6 x! ~7 J! h, [, Z看您發問時候的問題排版, ERC那條排在最上面,
. y. B9 x9 t! \, v1 ~ P. P所以我猜有這幾種情況:: J+ R; K+ j2 Q- w; {7 ^
1. 或許您的ERC驗證是另外做的, 不像我們跑的LVS驗證裡就有含ERC rule了.: C; I0 u4 O) n) t: v I
2. 又或許您的ERC含在LVS驗證裡, 兩種一起做的, 所以它會和LVS Error排在一起.
+ {( i0 y* q( F* n3. 還是我想太多, 只是您把各種Error混著排罷了, 它們的位置本身是沒關係的呢? 呵呵...
& K" u% o9 s, R6 D$ e' r* V. q- E$ O( [( j# c! m( i" ~& G
一點點經驗, 希望有幫上您的忙!! |
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