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[問題求助] 請教 Band-gap BJT 如果 layout 不 match

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1#
發表於 2008-11-30 12:03:32 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
有一問題想跟大大们請益??
8 D+ }8 t& B( K. K& ^" x6 Y如果是 bandgap 內bipolar layout 因製程變異; 導致silicon 上所見 並非如 cuicuit 上所建 1:8;3 X- `( I4 y: y
8 g/ {% l( {5 L+ h6 ^* e
那麼在 silicon 上所見到的 reference voltage electric 特性會變怎樣.2 n3 i' R5 W9 V9 m3 a

2 r( P& t+ L( U3 r9 C歡迎大家發言...) M. v5 |6 D4 y  T
謝謝) O6 b+ \  r2 `8 B5 }
+ }( M" h  c' s
" j+ K1 r. g& ~. L
以下是 bandgap voltage reference 的相關討論:
: B$ a  p  |1 y5 W+ }! L! Q$ \; Tbandgap無法將壓差降低  6 ?& n. P' W/ Z2 a% M, K# x: [: Y
bandgap voltage reference? 9 d1 Z; m9 S' E! _, Q- w, y
關於CMOS的正負Tc
* J+ A. f; i  s, E$ y5 Y如何在CMOS process 中做好溫度感應器?
* y) `* W1 V1 U9 Y& c2 V3 k請問有關 bandgap 內 op的 spec ....- u# G" o3 J. V) f7 N: V" R" J- T0 @
bandgap的模擬問題 (單N,PMOS組成)
! K" o! e  B& f' i7 kBandgapDC扫描温度特性时,不能正常工作
. v* p6 |4 ]- J3 w, x% r# `: x2 s. _+ y  ^0 u5 H, P) P7 R- r2 M8 l
& d: H- z7 B, E4 i7 `( Q! p
# g. F! V5 V5 `( Z
[ 本帖最後由 sjhor 於 2009-3-17 05:54 PM 編輯 ]
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2#
發表於 2008-11-30 20:23:31 | 只看該作者
1:8的设计一般不会出问题的,倒是Res的matching倒是要注意
3#
 樓主| 發表於 2008-11-30 21:31:58 | 只看該作者
Dear S 大:
. r2 O! B$ B" n5 W) W/ \9 E$ ?% @% y/ t 怎樣說 為何通常 bjt 不會有大問題 ? ) D: @! e' W* ?0 \5 l' _% N9 p
例如 九公格內的單一unit 是 1umx1um 好 還是 10umx10um 好 ??
3 d( w& N+ ^6 n7 s8 y$ Y7 ?& h
2 Z7 g6 u6 `4 |, D- t5 l如果沒選好 ....影響有多大 ???9 A. a7 B; [; W) O! w: ~" S- u
這能用 monte carole 來仿看看嗎 ??
. ~, q& q! `6 p$ y8 r" D/ _
' a) R5 i, u4 d多謝." @% A  w5 e) ~
4#
發表於 2008-12-1 00:13:48 | 只看該作者
我個人都是選10x10的BJT0 S" {0 D0 @7 J+ Z
以前我們曾從HSPICE Model來看,發覺到10X10在溫度係數上相較於其他size是比較穩的,不過,各家製程廠不見得都會是這種情況,所以,必需以各家所提供的HSICE model比較後才會知道+ ]- Z+ f0 \/ I5 z  T  U- \
至於1:8,若沒有照九宮格的layout排法,在製程上是不會有問題,但出現的performance可能會有一些小問題,但影響多大,其實很難說,畢竟T公司的技術比起其他三級的製程廠技術來說,這些小地方就決定了T公司的價值存在,有些三級製程廠所提供的HSPICE model還不見得很準,有時還得下test key來驗證一下它的HSPICE model的準確性
( J8 L5 Z4 I% @, h) |至於monte carole能不能模擬出來看,當然有辦法模擬,但成效如何,其實還是得看製程廠的技術和提供的model
5#
發表於 2008-12-1 16:02:04 | 只看該作者
是的,一般Foundry提供 5×5的;10×10的;20×20的。实际可以看情况!取10×10的是面积和精度的折衷!
6#
發表於 2008-12-2 18:22:26 | 只看該作者
我曾經下過顆包含BJT的Bandgap電路0 ~( l& H$ r7 m; @# b
1 l) z+ z3 d2 k$ c" O' y' G: S
只是測量晶片時% C* s3 l" W0 Y  R: Q# W( |/ X

# K- z, r% L6 n' fperformce降低相當多啊
' X; K6 l1 G) S- k1 M+ G! |/ r3 l; J0 v8 b) H
而且BJT有match到8 E+ u2 G3 K( e( e2 L' w

5 H4 J$ t/ O7 M8 O$ {/ Y你可以注意BJT Bandgap是否相當的關鍵重要
/ y  S, n: ~0 q, a4 g. N
* N' R+ p- b. E% P2 W. m再去考量電路的Layout架構
7#
發表於 2008-12-3 11:39:29 | 只看該作者
match对电路影响比较大,如果要降低噪声的话,需要选择较大的bjt,我们选的一般是10×10
8#
發表於 2008-12-3 12:00:30 | 只看該作者
Area 越大,matching 越好
9#
發表於 2009-1-7 18:03:08 | 只看該作者
5×5和10×10在面積上當然10*10的match更好,REF的離散性更好,另外由於E面積的區別,會造成BJT的vbe有所差別
10#
發表於 2009-1-9 14:59:23 | 只看該作者
我的看法是...如果你需要很準的reference電壓6 u4 j9 U2 v% j  M& R9 d
光想靠layout matching是很難的
+ ~8 x% u2 }  w( V2 p# Z多準備一些trim吧
' @/ J- q5 [  e0 C7 U& l( ?: i# Z基本上1:8已經是ok了
# |1 _  Q5 c* o" d' T重要的是你R的layout跟type
11#
發表於 2009-1-9 16:31:17 | 只看該作者
有種 疊2層 pnp 的 bandgap 架構  h$ b- b. Q3 _$ R

+ b  x7 X' ]7 s# u有高人說對製程偏移影響較小& h6 N& D) d9 ]2 a( m2 }
' f$ M) c& K  A! W& a
可惜我只看過 run過  沒實際下ic回來測試過...
12#
發表於 2009-1-12 22:20:18 | 只看該作者
其实可以通过仿真大致的确定一下影响# g* O1 h$ q8 O
不同结构的BG对器件的敏感度是不一样的,可能BJT的变化并无太大影响,也可能有毁坏性的作用/ Y  k" x% ?8 T
仿真中一般有dc sense仿真(好像主流的仿真工具都有)
# b& v8 a  t, }) b尝试调试一下期间的参数变化(需要design rule和fab库文件的支持),看看那些器件对BG影响最大
13#
發表於 2009-1-13 17:41:30 | 只看該作者
我们公司的bandgap不用trimming , 加上一个电压跟随器(测量用), 电压变化是正负40mv , 架构还没完全看明白,这个bandgap性能到底如何呢?
14#
發表於 2009-11-25 16:20:15 | 只看該作者
如果是我的話我也是會選擇使用 10 x 10 的 BJT
5 O9 ^+ e) W9 y6 a5 z% [! X( C) F0 @' \; s9 H( i6 t7 L: _, W
原因無他…因為layout area比較大,所以gain到的 delta offset也會比較小# z  u5 `0 _, \) B3 \: H
2 F3 z" X! W+ J# T9 F
另外,bandgap的分壓電阻我到是覺得還好…因為他是ratio式的+ t& p& s$ `/ F
% ^1 t# ^) R8 j: Q& J4 \) X
所以即使process飄掉的話也是一起飄向同一邊!!!
15#
發表於 2009-12-22 16:24:01 | 只看該作者
The area of emitter will have mismatch and is proportional to the BJT size, thus bigger is better. Also, the bigger the area is , the less sensitive it will be to the current injected.
16#
發表於 2009-12-23 15:43:13 | 只看該作者
回復 13# guang3000 * C! d8 T/ I/ D* X* v
$ g9 S% n. _/ v8 s; _8 L
    請問一下   在 Bandgap後加一級的 op buffer , 量出來 40 mV 是一堆 IC的量測值吧
, w6 }  M! E7 _- \2 }/ Q) @" p/ R0 ?5 g. E. v
    這樣子不是會把 每個 op 的 offset 也包含進來了嗎 ?
# a( `9 y* S' X  c/ i7 n1 d3 ^: A1 P: C4 L0 N$ e+ d3 W
    有的剛好與 BG 正負相抵, 有的剛好累加, 還是我的解讀有錯呢?
17#
發表於 2011-10-7 16:30:49 | 只看該作者
本帖最後由 2008ql 於 2011-10-7 04:49 PM 編輯
) ^( U* T- o$ X  H' h0 c7 L" O8 c# I  G- J# d
回復 2# semico_ljj
. \$ f/ z, N. V! l+ J7 ^# @4 n+ L* h7 S0 {) I

% d! [7 ?5 ^0 i/ ]dear semico_ljj,8 h# l( |* g! G6 w( n! X8 t
我現在做bandgap reference,覺得連接電阻的metal,以及電阻到地的metal對reference輸出的溫飄有較大影響。請問以您的經驗,這種影響大嗎,有什麽改進的措施嗎?
) I7 o* u% q. w( \5 w7 f還有從postsim的結果推斷,地電位應該是向上飄了,有這種可能嗎?* C" E. C8 Y' f; Y+ M  q& i
能具體介紹一下您說的電阻匹配嗎?$ g" f: n. s; U# _$ D9 @
謝謝!
0 R' ?! w# g/ {( p* f: s% l$ Q8 g1 I也請其他各位高手指教!
18#
發表於 2012-7-16 20:58:42 | 只看該作者
相同面積下我再公司作通常會選能畫到16或25顆的尺寸(2X2, 5X5, 10X10)
9 W) E; h6 V* |2 {9 P& t5 C2 C科數越多OP_OFFSET影響越小
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