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[問題求助] 請教兩個關于ESD的問題

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1#
發表於 2008-11-29 11:40:06 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
. u1 u* d' a. i- B) |# V2 C) w第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試
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2#
發表於 2008-12-2 21:21:42 | 只看該作者
原帖由 hvpower 於 2008-11-29 11:40 發表
0 e1 {, k) X5 A' F7 k* |. c第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?, A2 U. n+ a# A- f0 J, P
第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一 ...
9 a" \, K: V7 l1 f

! M0 l0 N9 c- K  a4 Q% L我是这样理解的:$ [  j6 b8 H9 A# {6 Z
第一個:输出PAD也要做ESD保护,否则这个NMOS管也容易损坏0 W2 m% b6 `- p, l
第二個:这是根据ESD测试标准来测试的,引脚由我们提供,测试公司只负责测试;
/ T) M: _9 V  v' E! R        我们选择一些具有一些代表性的引脚出来就可以了,不需要每个都测试;
3#
發表於 2008-12-11 13:56:32 | 只看該作者
进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I╱O引脚会进行以下六种测试:
4 ~3 n) x. f5 c6 w7 ^, @1) PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
; F4 g  X( Q1 l' ~# R4 H% @2) NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
4 h- T# r" c/ X! T7 H9 n3) PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;3 o. p* _( r5 |+ @% \" D- z
4) ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;9 I- Z& m8 p2 z8 B5 e0 f" U
5) 引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空;. P6 P  }7 y4 r3 Y
6) 引脚对引脚反向模式:引脚施加负的:ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。1 v" m: \6 ~! @
VDD引脚只需进行(1)(2)项测试7 X; R2 C% _% L

" d1 c: m' X. o应该是one by one 的测试,管脚多的话,排列组合就多,很费时的。
4#
發表於 2008-12-11 13:57:33 | 只看該作者
第二个:ESD测试都是有参考引脚的,也就是说某个引脚的ESD测试不是孤立的,而是相对于某个引脚的ESD电压,通常是对电源和地。因此,ESD测试都是一对引脚一对引脚地测试的。ESD测试还有不同的模型,如HBM,CDM等
5#
 樓主| 發表於 2008-12-22 13:50:21 | 只看該作者
THANK YOU  ABOVE  
6#
發表於 2008-12-22 18:30:52 | 只看該作者
It must be tested one by one.  Or you may miss something?
7#
發表於 2010-1-12 18:22:13 | 只看該作者
1. 只要是有跟外界接觸的針腳都要加ESD保護電路
0 I, X4 a" ?' ]& a2.每隻針腳都要測試 一根一根來你可以看JEDEC standard 
8#
發表於 2010-1-20 16:17:25 | 只看該作者
回復 7# wesleysung
7 D* C/ f  K# l8 ?- Y; _& `& v( x3 v, M) ?% k7 k- b
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?& g% i; S* |' `! e' _
9 j2 Y8 m/ R' G; F' s# i
每一个与外界相连的PAD都需要加ESD保护,无论是input,output,power pad.
+ Z: S" r4 q+ f+ l$ ~3 J' M, I$ g
0 r- j  Y) P9 a; L) q第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試。; Z  s! X  z" z, P* ~* e; @
! C- m" J; E* D
只有严格按照JEDEC 的测试要求才能准确地反映IC 的ESD能力。
" D# a1 R: o2 b- X每一个power pad VS. 每一个power pad;
  B8 ~& B& o7 O5 J' O+ e每一个I/O pad VS. 每一个power pad;6 n3 E( a& J& A' p' I
每一个I/O pad VS. 每一个I/O pad
9#
發表於 2010-1-20 18:45:12 | 只看該作者
看了這些文章
5 k/ P. q! U4 F! J9 {  m對esd protection又有進一步的認識了
10#
發表於 2013-7-15 17:11:15 | 只看該作者
每测一次,都要换新的IC吗?
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