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[問題求助] 請問flash adc後面的digital backend電路

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1#
發表於 2008-10-19 15:43:23 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
一般看flash adc的paper都會介紹前面analog front的電路+ F, u& W5 V* B# K
對於後面digital backend就鮮少介紹
; k1 s* b  C; \4 q) x想要了解在6-bit flash adc中comparator比較出來的thermometer code如何轉為binary code
) D2 i9 E+ t# k( u1 g9 d9 ^4 D; d; }3 D想請教板上的前輩有哪篇paper或是教科書可以推薦嗎
1 Z  q9 ~! _" R1 s9 ?/ I' m還是有哪套軟體可以自動把thermometer code轉為binary code的電路產生出來
8 v8 k. `3 v( Y, b麻煩前輩們指點迷津
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2#
發表於 2008-10-19 21:08:57 | 只看該作者
有仲方法是将输出转为gray code.然后 gray->binary
3#
發表於 2008-10-21 18:40:25 | 只看該作者
"Principles of Data Conversion System Design"  by  Behzad Razavi
4#
 樓主| 發表於 2009-3-31 10:51:06 | 只看該作者
目前我是使用1 of n decoder解碼原本的thermometer code
; _% ^$ a( t' c  Z, X* I再加上rom based將1 of n code解碼成quasi-gray code
3 e2 b0 |1 ?; _. z* ~  u/ X再將quasi-gray code解碼成我需要的6bit binary code+ j& I) V3 s# {4 ^) j
但是這種解碼方式似乎速度不夠快
/ g7 @& |! t; E請問還有其他較快速的解碼方式嗎
5#
發表於 2009-4-8 01:43:26 | 只看該作者
你要去看碼論這類的書吧,不然光用猜得好像要很久才有答案呢,通常不都是由溫度計碼轉成二進制碼嗎?
6#
發表於 2009-4-23 16:47:06 | 只看該作者
原帖由 tshiu 於 2009-3-31 10:51 AM 發表
' m  D- x# u" t& @目前我是使用1 of n decoder解碼原本的thermometer code
: B9 y. }2 B8 T3 N4 s3 q) ^再加上rom based將1 of n code解碼成quasi-gray code
3 j) a& v8 ^2 n$ t7 z2 \2 W/ k8 `再將quasi-gray code解碼成我需要的6bit binary code
' B4 U- R* B+ K但是這種解碼方式似乎速度不夠快
" W0 G3 A- z; W6 |. K3 Q+ q2 q& |; R請問還有其他 ...
$ e- o, }4 s% ?5 k
關於"此解碼方式速度不夠快"這論點應該以latency會變大來解釋會比較恰當。$ [9 M* k: L0 N9 n1 m. L
以flash ADC為例,其速度快的原因,在於每個clock cycle(即1/sampling frequency)都可以進行一次對輸入信號的量化(quantizaiton)工作,同時也可以提供一組新的output data。但這並不代表,此每筆新的output data就是前一個clock cycle所得到的sample data的量化結果。
( x& {( I; j$ Z' A5 s7 F0 A
1 b! u1 n2 E" |" H' |舉例來說,假設目前的input signal被sampling clock取到某一個輸入電壓令為S[n],並進行量化工作(comparator array工作 => analog to digital conversion)。# }  y* c, ?1 a: J
當下個sampling clock來臨之前,若此flash ADC已將S[n]轉成D[n](此D[n]為output data,且為binary code。)。: D9 c  e2 @) s$ d
則我們說,此flash ADC的throughput與latency皆為"1"。3 V9 e$ ~4 o  N4 Z+ ^( s
同理,若S[n]轉成D[n]需要經過3個clock cycle才能完成,此flash ADC的throughput=1,而latency為=3。; k( j. C( [3 y6 x% }, [' l
. u# {  X% M( ^  U" U+ ]" o( G
因此,即使thermometer code->1-of-n code->gray code->binary code需要進行三種編碼過程,只要將D-type flip-flop插入其中,進行適當的分配(combination logic若propagation delay > 1個clock cycle, 則可插入D-type flip-flop將combination logic切割成數個區塊進行處理.)其實並不會影響flash ADC throughput。4 j0 @: @; p6 K) f) \4 ~" o
; r; n8 G, N  `) r6 o7 Y- \
除非flash ADC是用於回授系統,故對於過大的latency無法接受。(假設,flash ADC是用於回授系統(例如:sigma-delta modulator, 一般僅需4bit Flash ADC即可.),通常要求的解析度也不會太高,故encoder的proppagation dealy不會太長,是可以以滿足lateny=1的要求。)1 S' k  g! w( `! P1 B
2 P% d1 Y; n7 ^8 Z% `0 h
通常一般的通訊系統中,ADC只是作為analog front-end與digital baseband之間的一個串聯的資料轉換介面,故對於latency>1是可以允許的。
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