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本帖最後由 bancroft 於 2010-5-17 01:41 AM 編輯 5 q6 e& V% t* ?
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最近,設計一個Latch-type voltage sense amplifier,- r5 b A+ B# S2 J* T, b5 c$ }6 X
即有clock先把輸出做reset至0或VDD,於另外一個clock狀態下,即作輸入電壓比較的動作。5 p2 u' @; \0 H
在前模擬時,兩輸入電壓差可少到1uV都可比較出來,
M/ L% N5 n9 t0 C可是在佈局後,就完全比不出來了,也可以說幾乎沒功能。5 D' u: k4 Z7 @& ^0 U, k0 c# |
我後來測試就其中一組MOS是佈局,其他都利用schematic的狀態模擬,( r; Q# _. F% ^" e
光是這樣其可比較的電壓差也需到0.2-0.3V左右才可比較出來。1 k" Z4 {& ?5 e7 y! {& c
後來發現相對的MOS其走線要一模一樣才會比較好,可是還是沒辦法像前模擬一樣。
; k8 l6 w: R' R6 w! D( n" W可是如此一來,也不能做同重心的佈局,即會有製程濃度梯度的問題產生。2 H- w, Z+ F8 q
所以不曉得一般動態的比較器是否才會有此問題,
' \! M$ s6 g# {& e因為之前用過對於一般不是動態的比較器,前後模擬也不會對於走線的匹配那麼的敏感。3 V) e G' f: a& X# t' `. l
即使利用同重心佈局,不是動態的比較器其結果與前模擬也不會差得太多。
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0 k2 f! D3 v3 [& d所以想請問各位大大,到底是什麼問題,還是對於動態比較器的佈局應該怎麼做才對?) E/ U5 z) G4 M4 U' C! p4 |
另外對於動態比較器可以去測其增益為多少嗎?因為是clock控制,不知道怎麼去測增益,7 D& h; `8 f9 S- L$ l
還是要根據比較器最小能判別的電壓差,然後跟據VDD的值,去反推增益嗎?
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?8 Q7 w6 P1 z5 U. o. |+ U( d我想在請問一下,於latch-comparator前一定要做pre-amplifier嗎?
' a4 o, p. t& u5 P* z' @1 X, P/ m於其面的模擬中我沒有設計pre-amplifier部份,就直接是動態比較器的主體,這樣會有差嗎?3 x, E* ?) ]# o7 s8 J% u6 Q
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麻煩各位指導,一直很苦擾,不知道怎麼解決此問題,謝謝! |
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