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[好康相報] 高彈性的 RF 平台 - 3/23 Semiconductor Test Summit 2010

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發表於 2010-3-5 01:33:34 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
活動網頁 - ni.com/taiwan/sts20107 f; n% R3 j) G' n+ e" n

" U- H: A4 _1 q' x& u======================================================
: Z$ c# \/ C+ k半導體晶片設計愈趨複雜,不論是對於 IC 設計公司或封測廠,甚至是對於開發測試系統的 ATE 供應商而言,都面臨了比以往更大的挑戰。如何為半導體產業提供一個更開放、高彈性與客製化、降低成本並提升效能的解決方案,便成了現今半導體驗證與測試領域的重要課題。
" {9 r/ T/ e* K+ C* a
1 i# S/ Q) R( D& k! I7 P本論壇由美商國家儀器主辦,集合國內外知名專家與廠商 (Tektronix, TERADYNE, Chroma…等),針對半導體產業的驗證與測試做深入探討,從標準 (Technical Standard) 的相容性測試 (Compliance Test)、 IC 訊號的特性描述 (Characterization) 或驗證 (Verification and Validation)、測試系統的建立到 RF 領域的半導體應用案例、現場量測 (Field Test)…等,提供了各面向的探討與剖析,也建立了產業界彼此交流及學習技術的機會。# V5 j2 R3 h2 \* W0 J  v' j% x- @
 
; X8 k3 k% N7 V. N# B4 P; x活動焦點:
$ `6 O& D' g) i1 B$ l7 r, @#剖析半導體驗證與測試所面臨的挑戰與未來趨勢% t* K; T0 u6 B0 E5 B( s; G  q
#學習最新的類比、數位、混合或高頻訊號等測試技術
( E! i( ]3 {% R% y#從相容性測試、IC 驗證與特性描述、量產測試到場測,提供完整的講題內容
8 {$ q0 g# Y0 J( ?#了解最新半導體測試系統展示與業界解決方案
2 s* l3 @* Z1 M) }, d; A邀請對象:
% c. k/ a$ Q0 h8 ~3 U# 有半導體驗證 / 測試 / 訊號量測等相關需求的工程師、主管或經理
; n( P7 w, `% r' f  P) G#IC 設計公司驗證 / 測試工程師
/ w+ s7 Z& H3 G#IC 測試廠測試研發工程師
1 c9 |$ b. {! [4 e6 |3 X#半導體測試系統設計 / 開發工程師! y( _0 v+ A$ i5 t! }9 j
#ATE 設計 / 開發工程師
1 o% o- Z2 O( \/ t#模組 / 系統測試研發工程師) S$ j2 \: v7 d8 u0 d/ F
#RF 測試工程師3 E/ }6 R( A. _& ~2 ?' ]
#半導體元件 / 晶片 / SOC / SIP 測試工程師
+ H- l/ |+ O) T: t======================================================( B0 V3 W( V$ t+ c! v: c# u

/ O* ]/ \/ e3 R2 z5 m詳細內容請看活動網頁,共有超過10個session,10家公司以上,超新的主題(RF, mixed-signal, 3D video, USB3.0...)
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