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[問題求助] 關於I/O pad

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1#
發表於 2007-11-6 17:23:09 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問以前受限於ESD I/O PAD' T. c2 H. P+ n9 X# }; U  V, f
量高速PLL輸出常需要除頻後量測~& Y: x3 {( L: d7 s0 e6 P
不太懂現在TX打出來的data rate都是數Gbps以上4 C0 f+ c+ T) G# I5 @$ p7 U1 Y
那該如何量測呢?4 q* t1 L7 ^- @7 h  G9 B( r+ a
還是現在的封裝都很進步了 @@8 ?( l! U6 w: ^/ n+ K
能請前輩解惑嗎?
0 L& `2 k/ h& E6 C: F8 R4 @/ I謝謝^^
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2#
發表於 2007-11-6 22:20:26 | 只看該作者
是有可以上3.65Gbps or 6.4Gbps的serial I/F專用測試儀器或ATE (Semicon tester).
* A9 q5 s8 g- D) W只是暴力上的代價不菲罷了.0 J# M5 Q/ U) K7 C" r% C
/ _( Y- P8 @! P) w. Z. a& R" B
200MHz以下的儀器或ATE都很便宜, 這也是大家能除則除的原因.% f' k. t1 }) }* M. X( o6 x; F
高速Tx or Rx很多公司都是用loop back test在量產, 板子上搞個relay灌回去就好了, ; `) H) e. b. H2 L) [
1小時5000塊台幣 跟 1小時1000塊台幣的量產測試成本差很多的...
, W; m8 g( o( w- i( W% f( d一個月出貨1 million 就差台幣5百多萬了.
0 m4 \) B( T7 R7 T' O0 z" b0 _- L2 J2 p1 t( W
[ 本帖最後由 DennyT 於 2007-11-6 10:21 PM 編輯 ]
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