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成也蕭何, 敗也蕭何
在SOC production test的世界中, 設備使用的"彈性"也是降低持有成本的必要條件,
+ g" y" \) \# o3 a愛德萬自原先專注的記憶體測試市場欲跨入SOC測試, 利用其Handler最大並列同測能! e! _; ^7 o$ O+ }) E# P
力(每次16個元件, 一般Memory Handler每次可測256個元件) 來提高效率並降低成本,7 O" @9 x3 ~* V
乍聽之下似乎超越現在的系統 (一般每次可測4個元件) 但是" V0 ]. @# q+ I( z* p9 t& v
1. 愛德萬的Handler並無法與其他廠牌測試機連接運作 (愛德萬不提供連線電氣規格), 設備投資彈性不足.
9 ?0 y- H- B. `2 n2. 愛德萬的Tester無法與其他廠牌Handler連接運作, 萬一產品封裝格式M4841不支援, 生意也別想接了.
) _+ o$ g/ n/ b5 J3. 大型SOC使用高腳數大尺寸IC封裝, Tester I/O數量頂多支援同時測試2~4個元件, Handler再強也無用武之地.7 p. O! x& O7 f6 m
! n* ~* _5 S" \* K2 R2 L0 n換言之, 中型腳數(<=200pin) 之消費型IC, 應該是最能發揮該系統每次可測16個元件高效率的目標市場,: r$ S3 |) ^& p7 Z2 f3 @
但是per pin 500Mbps or 800Mbps的高貴I/O又超出該市場所需, 開發低價200Mbps的I/O模組及6 \' i' C0 M/ A
高速3.6Gbps高速序列介面模組(for few LVDS/PCIe/SATA2/HDMI pins)才是符合市場發展的策略.5 R4 |. Y) w1 K
. F, M* D9 |. R5 e8 s* V另外該宣傳稿未見SOC測試常見支援Video AD/DA測試之14bit HF-AWG及Digitizer. Audio band的AWG' W/ V* A+ v8 f' E, \( ]. S ^) C
及Digitizer也不知resolution(18 or 24bit?)及noise floor (or SNR). 此外, 元件power supply channel數% b& Z; M8 [8 _9 z# ~& u
也是重點, 一般SOC的pad power與core power電壓不同, 再把analog power分離, 一個元件就需要至少! G" h9 l3 i! |+ x- p
3個分離電源, 測試機至少要能提供48~64個可程式分離電源, 才能達到宣傳的"一次可測16個元件".
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; F' F! t. \4 x k9 ?$ Z愛德萬T2000被Intel大量採用, 想必有過人之處, 但是台灣測試產業面對多變的環境及各種客戶,
' K% n; [# ]' O彈性與效率是同等重要, 既然名為Open, 真的多open一些連接規格反而比較容易活. |
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