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Chip123 科技應用創新平台»論壇 › Chip1 -- 基礎元件 › ESD/EMI/EMC討論區 › EFT 快速暫態叢訊測試
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[問題求助] EFT 快速暫態叢訊測試

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1#
發表於 2007-4-11 15:08:47 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
EFT 主要來源是因為在電力系統中有開關瞬間所產生之瞬間高壓雜訊 有時甚至到達4kv7 y* V) a7 I, _8 k5 b8 i8 k! J

" v3 S6 P4 w# T; Z& i" _" A$ }依據法規:IEC 61000-4-4 CNS13022-2
1 K+ |1 L6 s9 {( a5 ?! o; I5 X$ c2 b# C. _0 T0 K8 p
其他我有做成的資料可以參考
5 L) F. F4 T) f" y: d  k
7 B. c" S2 W7 X* U7 r% g/ [' R[ 本帖最後由 cuban487 於 2007-4-11 03:30 PM 編輯 ]

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20#
發表於 2021-8-25 14:42:43 | 只看該作者
受益'良多
3 {4 e4 J* `6 @# j% k5 a
, o. d. d# s+ k謝謝大大的分享!!!!
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19#
發表於 2016-10-17 16:45:23 | 只看該作者
來看看大大的分享!!感謝你的無私
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digwu1
18#
發表於 2013-8-12 14:26:00 | 只看該作者
謝謝分享~推推推推推推推推
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Horse桑
17#
發表於 2013-6-4 13:18:42 | 只看該作者
近日公司產品也在過EMI EMS之安規" a7 p. y; s: j' f

/ \8 u( i5 k8 [遇到EFT測試時,卡關了 !. E9 e4 D  \8 c2 I% S+ X) j
% v% C) ]$ X. o8 ?8 n& k# T
EFT由電源端進入後...MCU之USB Port與電腦端之通訊會受到干擾..不知道要如何下手來做防禦的動作
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16#
發表於 2012-3-7 09:56:33 | 只看該作者
應該是看產品應用，有的產品的確是會測 DC
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oscargo
15#
發表於 2010-10-6 19:09:58 | 只看該作者
感謝你無私的奉獻----已經悶好一陣子---一直無法突破
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14#
發表於 2010-7-26 18:39:37 | 只看該作者
感謝大大無私分享歐  真是太棒了  趕快來參考看看
2 p5 p1 ^& C, @  ?( z( G% }; N電磁相容設計  真是一門很大的學問  尤其是它又看不見
$ v8 p# p% |" w4 N7 D% O5 x一定要累積經驗
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roadstar
13#
發表於 2010-5-23 11:21:14 | 只看該作者
EFT測試只有打AC端，是指電源輸入交流電嗎?$ o: \2 `  {) W; f( A% A' _, N
可是我們公司ic都是使用DC電源去做測試，6 C$ |5 a4 _& I  Z. B: h
這樣會有什麼差異嗎??; m" k9 V9 i0 ^+ {  W
謝謝各位大大的分享。
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wjinsuo
12#
發表於 2010-3-5 14:54:51 | 只看該作者
sigh,EFT是个大问题，感谢分享。
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11#
發表於 2008-4-30 19:53:59 | 只看該作者
看過幾次EFT測是好像都只有打AC端, t) ]* U. E; R
我還沒有看過打DC的
" l$ O  b( A; v+ u7 n記得有依次看飛利普的安規人員打EFT一個輪迴要打8個小時~~& r# f& ?+ u8 G! \2 w
說是菲力普安規的規定~~
- t2 k# Y, ?! r$ W真的要打這麼嚴格??
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10#
 樓主| 發表於 2008-3-24 10:05:17 | 只看該作者
雖然法規沒強制定義DC部分* u5 E4 y( U) H  `/ Q9 F
請問各位有人在测DC嗎??4 e9 @& a: i- i# b
用來做公司的內部規範可以嗎??
- n( V, K8 d. Y; d7 \. mEUTED車燈,汽車電子儀表
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9#
發表於 2008-2-26 00:34:40 | 只看該作者
剛好工作上有遇到~~, |3 y( g, T6 [) D1 Z3 u1 ]

  D5 z- r7 C! Y5 x& X請問 這種規格一般都是指成品階段 ~~
, W6 e/ E5 Z2 v$ E那是否有講 die level 的 , 因為我是在IC設計公司上班的 ,  所以想問問 ,# }$ T: R% F: x" E7 E3 X
因為就算是IC耐不了這麼高的EFT , 一樣可以從board level去解決 , ~~1 G' _8 `' w+ G3 h& N
但是公司所賣的市場多是 die ~~~ , 所以有這方面的規格嗎??
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8#
發表於 2008-2-20 01:54:39 | 只看該作者
EFT算是CE EMS裡面的耐受性測試之一，主要的目的是針對透過AC
- o+ ~# Z& d. G* R! o4 w3 Wline連接到外部為主(Ex.power adapter or 透過AC電源供電的設備)
, s8 W- C/ m. t( ?1 C已法規上來說，對GND測到2KV就已經可以算是pass了，如果要更高，
# R1 X7 d- a' @& U則是依照客戶的需求來做定義，至於DC的部份，法規上是不用測試的，
$ a1 I. o) b; H6 ?另外還有一種就是針對cable(一般來說超過1.5m且連接到外部)來做測試' Y8 s+ @6 ?" A5 g
，用外部干擾電壓以輻射的方式進行干擾
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小游
7#
發表於 2008-2-19 09:58:56 | 只看該作者
EFT我覺得對很多產品都是很重要的
# k6 Q2 k# x9 s) P7 H但也是很多RD很頭痛的一個問題$ a* E. I! A4 c. }3 f
感謝分享這麼不錯的資料
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6#
發表於 2008-1-25 15:39:26 | 只看該作者
最近正好想學習EMI方面的工作                                                            % @$ L! R8 p, _2 E0 {  Q7 c
這份資料對我一個新手或許有幫助$ A* }6 [& ~: S$ T" \( Z* @
Thank you!!
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c630115
5#
發表於 2007-12-17 09:08:24 | 只看該作者
正好公司有相關的問題+ N" v3 u# k3 h) P9 n0 T
好像不錯看的樣子 感謝大大無私付出6 Z2 @  F6 p( t4 V) v- M
趕快來去看
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4#
發表於 2007-9-19 11:29:18 | 只看該作者

回復 #2 victor78t 的帖子

EFT的測試是將測試的干擾訊號加載到AC Line上，有各別測試每一條AC Line，也有一次加載到所有的AC Line上6 }( h1 K7 @1 M' N9 r( L7 X
但看測試認證的機構的測試方法。我們自己在測試會先各別每一條AC Line先打一次，最後再一起加載打一次，每次60s
' a4 N) [  c9 e( }一般的防制：1. 就看你的電源是否能將這個干擾隔離或濾除 2. 就看你的電路及零件的耐受性。' L+ |2 D, O8 A0 |) e0 m7 f
不管他是加正脈波或負脈波，若電源無法阻擋，則將在電路上產生高頻高壓的短突波干擾
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itho
3#
發表於 2007-7-17 12:05:20 | 只看該作者
其實你同事說的這種方式也是可以測...
, G: }& a! X# h不過Standard上所提的測試圖並沒有提到分開測試，我之前待的Lab是用L+N+PE一起測！
: @  D0 A# V* U4 ?比較符合standard測試...

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2#
發表於 2007-5-8 17:12:01 | 只看該作者

EFT

想請教一個問題5 B! r# O+ A, O, n6 u
" z8 U3 e! ^, y
我同事說  所謂的EFT   是指在AC端   以地線為基準   朝火線打一雜訊(KV)4 |1 J4 o8 x* ?  a- j/ B4 W& [
0 i& K2 ^: l5 }* ^" Y! U# d  d
或是以火線為基準   朝地線打一雜訊(KV)
2 |+ m$ @- t: x  y( R8 d- Y# o: B
是這樣子嗎7 u2 I4 @# j" R3 q0 J
+ i' h0 ?5 x1 O4 i
如果是這樣子   對我DC端的GND
0 D+ g5 m9 k; o9 q6 s9 G: W& c! L' W4 [3 i* [
會造成影響嗎# j1 N- J6 r7 h" F. a* P
8 y& e+ B" h( a; {2 c! T
因為有一個客戶給我的報告上面寫' S0 c' f# K7 y6 h0 k
EFT    VCC  1KV (指VCC打1KV)      GND   4KV(指GND打4KV)7 k9 R* P" h3 M, e# H

- z7 ^7 z$ {4 R1 M這報告我就不是很清楚( I2 e: T# ?3 V/ u! }$ Z# n
我同事說這不算EFT的報告% F/ @* {6 i( k5 E! L1 L2 K
是這樣嗎
: f: G# ^7 l9 ?) m; ^8 ]' D0 Q8 D) j4 R
% m9 f7 g' f6 H" E4 f: E/ B: I" ]% Q( X5 z  g
一個EMC的新手尋求解答
+ W, a' i3 o' {9 S
4 M! P% O. M' k5 B$ Q; k謝謝大家
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