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面對RF的技術難題其實有"預算"都好解決
恩, Chip designer不喜歡Labview是因為好不容易等到test chip回家了, 用上手的通用型儀器比較快" x, ]$ M- b7 T8 E: Z
Labview還要寫寫修修, 等不及了.
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4 m4 u; P1 F# W通常Semiconductor test engineer用的是ATE (Automatic Test Equipment 半導體自動測試機) 的專用
; J2 G0 o7 h, \# z z/ B) g控制語言 (一般是以C/C++為基礎, 近來也有Teradyne改用VB, Credence改用Java), 求的是執行效率- } H1 V' B: ^- }4 W
以降低IC測試成本, 一般ATE內的儀器界面也不是很常見: VXI 或 自訂特殊規格, 求的是data throughtput4 O4 ]. U% D1 x7 l* x# l% V
最大化, 以降低test time overhead.
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Labview比較常見的應用經常是系統組裝後的整機測試, 透過GPIB, RS232 or Ethernet (LXI) 控制各通用3 c! g6 I( ^2 y5 ?/ S3 {
儀器的啟動順序, test burst launch, go/ no go display, 因為由不懂電子的作業員操作, 所以會在PC host. W- t+ u. R/ ~. S) g
上寫一個簡單的user interface: 開始start buttom, 結果視窗go/ no go diaply.
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而Labview另一個大應用: 工業控制, 因為個人不大熟台灣的整合設備製造商生態, 所以就不便評論了.: \+ B/ N4 r; U. ]
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- C& i6 e \" o) x; r2 X至於樓主說的RF的digital modulation不斷日新月異, system測試工程師的挑戰不在於技術面, 而在於預算  , i! ^$ U' a" h
因為在再新的RF modulation scheme, 到了台灣時也差不多有一段時日了, 各大儀器供應商早已有了. T: B5 V9 q4 I9 d* {2 s( p+ U
solution, 有的是在舊儀器上加HW or SW option, 有的是直接推整台新的set, 這時只有請vendor demo後,3 R/ \, [2 S$ ]8 ^* B) |1 Z
向老闆提預算買solution的事要做了.
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而IC test engineer要做的也不多, 反正把chip切割成digital, mixed-signal, RF三大塊後, 各把各sub system
% l: H3 E0 @# g$ g6 X0 A測試完畢就了事了, 沒人教你硬要用RF in/ RF out抓data測system prformance, semicondutor testing的
7 d! D- w" F9 D& [. W真義是把fault chip screen掉, 不是照datasheet item by item verify IC, 反正抓大學教授是否酒駕, 不用叫他0 p! c! _$ c" L' O4 s% P) x/ K2 S
解一段傅立葉級數, 叫他順著直線走一段路就知道了. |
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狗仔卡
發表於 2007-1-8 15:49:07
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