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樓主 |
發表於 2009-4-22 18:38:23
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總於可以解決了，陶瓷電容因為裡面層次非常密，使用X-ray 無法分析，除非使用高阻計量測，量測IR 特性，如
9 I- C9 ?3 S" j3 ~7 C- Q5 `+ w設備：HP 4339(HP是品牌惠普，後面是型號)9 S% [: ?% w$ C, v' ^ [1 g5 R
測試方法：以一倍額定電壓(10V)充電60秒量測
2 X9 H/ J2 a: l- R8 @3 m0 S6 o* p
) C, N. c }! _7 O" ~0 w2 s1 q可以量測，並且當初用Thermal shock 沒有多大作用，但是改用 HAST or pcT test
+ l; j& X& ?+ W& Q水汽進入IC封裝的途徑：$ m. s( `- c# ^
1.IC晶片和引線框架及SMT時用的銀漿所吸收的水
& i. _* G2 S+ A( U$ G. s8 H7 N2.塑封料中吸收的水分
) w' |" @0 |: s1 g1 y& ^3.塑封工作間濕度較高時對器件可能造成影響；
V; e8 [ v4 K: w4.包封後的器件，水汽透過塑封料以及通過塑封料和引線框架之間隙滲透進去，因為塑膠與引線框架之間只有機械性的結合，所以在引線框架之間難免出現小的空隙。
+ T1 o: I0 B& l備註：只要封膠之間空隙大於3.4*10^-10m以上，水分子就可穿越封膠的防護
5 F0 x) n8 X. U備註：氣密封裝對於水汽不敏感，一般不採用加速溫濕度試驗來評價其可靠性，而是測定其氣密性、內部水汽含量等。
5 c K- ^0 u, h* u! x% d9 p: k! `" L+ f3 _
說明：PCT試驗一般稱為壓力鍋蒸煮試驗或是飽和蒸汽試驗，最主要是將待測品置於嚴苛之溫度、飽和濕度(100%R.H.)[飽和水蒸氣]及壓力環境下測試，測試代測品耐高濕能力，針對印刷線路板(PCB&FPC)，用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗..等試驗目的，如果待測品是半導體的話，則用來測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關問題。
2 d: |4 x7 H! z目前測試有兩種.一種為飽和蒸汽.既測試條件為121度,箱內壓力為2.04個標準大氣壓.其內部濕度在一般能保證在100%.測試時間分48H和96H兩種.主要應用於LCD和被動元件等封裝元件.& G& G" ?% K- p, b1 `! I
另外一種為非飽和蒸汽.即在溫度高於100度時,箱體內濕度可以在70%-100%可以調節控制.此設備架構比較緊密,價格相對來說比較高.目前市場上好像日本的TABAYI,和德國的可以做.國內有這樣的設備廠家也為數不多!$ c1 X7 p$ _" b0 O7 @: M9 M! R
. ?4 Y8 k1 V! j& W3 S飽和蒸汽測試應符合:GB2423-2-1-89 、 GB2423-3-2-89 5 K5 p$ V# J6 p- E$ f
8 E8 Z5 O& I) y2 t( {2 K4 G4 c
不飽和蒸汽測試應符合:IEC-60068-2-66 |
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IP卡
狗仔卡
發表於 2008-11-10 15:30:05
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