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转帖:CMOS 版图设计中对电源总线噪声的考虑 ' v$ m) R P0 {# c% V
本文所描述的噪声现象不是由于热噪声或者电荷散射所引起的,而是由于CMOS I/O驱动器的输出管脚上的电平变化,在电源总线(VDD和
7 n$ o! x- @5 N6 @0 p, B$ K" {VSS)上产生的噪声电压所引起的,被称为电源总线噪声(power bus noise)。- @6 [1 J* K, P6 m
我们知道,每当CMOS门改变其输出电平时有一个电流尖峰(current spike)流过电源总线并产生噪声电压,称它是开关噪声。电源总线以及
, r" p; p; ?! R" ^, `4 q! j它们与封装管脚的连接必须有足够的导通性能,使得来自输出驱动器中的所有电流尖峰不致于产生过大的噪声电压,破坏电路的正常操作
e* ~) H: m8 O0 e。然而,芯片中的电源总线以及压焊封装连接线都具有电阻和电感特性,在多个I/O驱动器(或者输出驱动器)排列的版图区域内,最有可能在
* u7 W! |1 Y. j" H电源总线上产生较大的噪声电压,过高的电源噪声电压还影响电路的延迟时间,使电路可能出现迟滞故障。 为了保证电路安全可靠地操作8 D) u3 n, i! F* u' k0 n* B) H$ p" ~: c
,需要减小和限制电源总线噪声。下面从版图设计角度来考虑如何进行好的强壮的电源设计。 |
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