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[問題求助] 加入T18 ESD IOPAD之後 VSSE的gnd 會短路到所有port

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1#
發表於 2023-8-2 02:43:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
大家好
; S+ ~" u2 t$ T
$ Z3 W& U4 Y$ {0 w在完成晶片的core之後要打上PAD去做靜電防護
1 V3 Z" `# I' E; g7 [: \: D  N7 Y/ b
但是我的VSSE PAD的接地端卻短路到所有AIN_18的port
2 @. G8 j$ G0 \3 b3 x4 u4 ^
' l1 t' N% D5 a造成LVS驗證顯示短路
9 @& E1 `3 D( X2 Q% B" z7 T. O5 e9 r5 }" \
因為用的是TSRI給的library
* e3 Z1 k( H/ N4 A; L3 l2 g/ m9 _& J* B
發現他們的AIN_18接口好像會直接短路到ESD的gnd @@(從layout 的佈局圖匡起來的虛線判斷的' \; j# C# D* G4 ?8 o
. L0 Y- A1 Z$ a# i( e
而且製程檔中給的一顆範例layout我也跑不過LVS QAQ1 ]5 K+ _. S: v6 \5 l- k% z) E
" J; Q7 j' N# P6 J8 w" k/ n1 x
是stream in 的時候就有問題了嗎?, H0 g. T2 _& J  P6 w. Z$ ], d. j
6 Y# K# L& O# k. ^
請問有人有遇過類似的問題嗎 謝謝大家
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