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[問題求助] ESD防謢電路中,MOS的source與Drain大小不一樣,請問為何呢?謝謝!

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1#
發表於 2012-3-6 06:29:41 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
ESD防謢電路中,MOS的Source與Drain大小不一樣,請問有什麼作用?% s' d# `8 t6 w, s% m4 w4 U
再請問大的一邊是接Source or Drain 呢?與Pad有關嗎?; F6 ?& J1 u3 B* M& z
知道答案的大大,請為小弟解答一下,謝謝!
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8#
發表於 2012-4-29 16:54:08 | 只看該作者
看一次看不懂..看第二次
  H- e1 \: [; G' |看第二次~不懂還是不懂~等遇到才知道
7#
發表於 2012-4-20 11:17:57 | 只看該作者
我的ESD防謢電路中,MOS的Source與Drain的SCG及DCG都有加長,
( C' t% t% l4 w) H7 XSCG約為DCG的一半,HBM可過+/-8KV, 但MM只能過+/-300V,
; T1 P1 L8 ?$ ~! I8 d8 R8 h) \有做delayer, 發現是死在source與poly的介面, 請問為什麼?
) f/ j8 _3 W0 K( S$ S知道答案的大大,請為小弟解答一下,謝謝!
6#
發表於 2012-3-9 09:41:02 | 只看該作者
看了还是一头雾水,没看太明白9 ^8 j. U; }% i# Z9 z: Y
5#
發表於 2012-3-9 09:37:33 | 只看該作者
部分foundry是叫做RPO,或者又叫做SAB
$ r4 V, A4 o, U, C7 z不同晶圓廠都有不同的稱呼
4#
 樓主| 發表於 2012-3-8 15:11:20 | 只看該作者
謝謝兩位大大的解答...
2 F- L8 |6 W* m, ]7 J$ i意思都差不多,我大概能了解了...$ {  \* D- }; p5 W( B, l2 \
至於多一層silicide這部份,是指多加一層RPO嗎?0 Y# ^% l- m& Y; Z' |* B
謝謝!
3#
發表於 2012-3-7 11:34:07 | 只看該作者
本帖最後由 despair 於 2012-3-7 11:37 AM 編輯 " H- q' g+ g( S7 J
& Y1 E) R4 Z( c) D! a; o3 h. _5 z
如針對source與drain面積大小不同進行討論,主要原因為抗ESD電流的衝擊。
9 O( C4 d. n( V- _# t7 f" B: R會有大小面積的差異,來因從PAD來的信號多會有ESD damage的問題。
. |4 \, C3 I- z( L* X
( l0 a' ]; L' A3 T7 {, I; OS/D若接點看到的是從PAD接過來的信號,該接點除了co to poly之間會有較大的rule外, c: a, ]% j* F( ?' H% E
也會多層silicide bloak增加通道表面阻抗讓ESD電流走well這部份 ,用來抵抗ESD電流避免oxide or gate poly遭到破壞。4 |( p9 e/ ~3 k5 l- Y% \6 h

6 j4 f5 t$ i$ {9 i% }: x這只是相關ESD guidelines的一小部份,若要全盤了解還需要多查資料~加油。
2#
發表於 2012-3-7 11:30:38 | 只看該作者
基本上 接PAD的部分會比較大 讓其具有較大的表面電阻 讓靜電電流走比較深層
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