12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

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●主辦單位：工研院新竹學習中心
6 x" g8 O2 O: U9 Q& I. B, f4 S$ f●舉辦日期：100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00，共2天
●舉辦地點：新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館)
0 n- K; t7 U) C! ~●課程費用：5,000(含稅)
3 v  d9 O5 O" D2 Y2 e  W( X4 @●報名截止日期：100/12/01(四)
●開班人數：10人以上 (最低開班人數)
) @3 H& Y; [% r& v; k9 p0 @' L●退費標準：如未達開班人數，則學員自費金額無息退還；課程開始當天不得以任何因素要求退費。
●報名方式： 線上報名：請上產業學院學習服務網
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■課程目標

本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字，一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間，分析上千筆的專利，歸納出主要競爭者的佈局重點，找出本身專利的價值點，讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受，並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。
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" m' E) |, b" C■課程大綱
% S  h: p, X! _4 }/ A* p第一天：12/08(四)9:00~16:00
% T$ o6 s4 u) V$ h7 J專利檢索入門與檢索規畫
3 \$ ?0 ~1 l" e! L' a0 `( @- n' _免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲)
專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則
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" d! `8 I* y& \1 W& v. [第二天：12/09(五) 9:00~16:00
& G4 E% f5 W5 h5 I. x, Y專利分析可提供之情報
  C( l/ Q4 l1 j" f6 k8 w; G專利地圖試做範例
4 n# f( L( s! D, U進階專利地圖解讀、分析與策略擬定
2 w) D7 K% |. p＊主辦單位保留變更課程內容與講師之權利

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(20120619 17:48:37)在知識經濟時代，以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢，同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器！專利地圖分析的目的，不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢，更重要的是能激發創新發想，試圖發掘可以改進的技術方向，作為公司的技術策略規劃的依據；此外，更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。

& n! M9 v, o/ _為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才，資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」，邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務，並結合業界案例研究，為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。
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本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm，或電(02)6631-6533林小姐，6/29前報名即享特惠價。
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- Z6 f5 p8 [9 r" H訊息來源：財團法人資訊工業策進會

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■講師介紹
吳俊逸 博士
在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面，提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢，協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。
& C' V  ^0 Y$ O! y$ z現任：繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理
' Y. ^! i* Q5 F" {- h" `學歷：國立清華大學工業工程與工程管理 博士
7 D7 a8 W7 |/ W, e! M8 o國立清華大學工業工程與工程管理 碩士

專長與經驗：
, B; a. {# T9 o# B7 a! _1 p 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
1 B5 T+ _1 ]+ W# y! { 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June).
) d/ `2 m- o; ~- ^1 ~/ o. Y6 A2 z 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010).
 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010).
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: u/ K) I2 F8 W0 E經歷：

  F+ q3 ~; t8 ~$ x- [# |' l工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理
# N* E6 @. k2 g4 b1 r( i' Q國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎，輔導志聖工業股份有限公司