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[問題求助] 關於I/O pad

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發表於 2007-11-6 17:23:09 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
請問以前受限於ESD I/O PAD6 Y& @" @% O! t; {  |0 U: n4 g1 y
量高速PLL輸出常需要除頻後量測~! K+ O# B- f- Z. R* {( N: a
不太懂現在TX打出來的data rate都是數Gbps以上
/ U1 F' b( L" o那該如何量測呢?
+ D/ _$ ?2 `3 h2 r還是現在的封裝都很進步了 @@
) |" P8 M) K8 c) `能請前輩解惑嗎?
' g0 d3 m$ I, Q謝謝^^
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2#
發表於 2007-11-6 22:20:26 | 只看該作者
是有可以上3.65Gbps or 6.4Gbps的serial I/F專用測試儀器或ATE (Semicon tester).
1 j. b* n4 _* m4 ^0 U只是暴力上的代價不菲罷了.8 d; D2 p# B+ H7 E1 X# g* Z4 a+ Y

8 K, Z8 O+ ?0 e8 w# z* D+ }200MHz以下的儀器或ATE都很便宜, 這也是大家能除則除的原因.! q) d+ s% z& c% T
高速Tx or Rx很多公司都是用loop back test在量產, 板子上搞個relay灌回去就好了,
" w+ c# Y4 g& c4 U1小時5000塊台幣 跟 1小時1000塊台幣的量產測試成本差很多的...8 o! R' u/ t; D1 P
一個月出貨1 million 就差台幣5百多萬了.6 ?8 G* U* m5 P3 {

" N6 g) c0 m: N& z- h. E" {# f[ 本帖最後由 DennyT 於 2007-11-6 10:21 PM 編輯 ]
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