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這裡應該是您把DRC和LVS的error放一起講了,! q) B# q) m- E% a
我把兩種error分開來解釋好了.' Q- C- s4 S9 q3 ~
以下先講DRC的error.' V( u9 J+ v' T8 w( v
0 W: }* e! _( q0 @- \# X====================DRC Error=====================
( Y, L1 N! H# t- z( A1 p7 ^2 ERC Warning : Latchup rule LAT3 distance s/d diff ngate net_subtap > 20+ X5 b. w$ l. T4 \& D
) l R3 A8 U+ x2 B& a3 ?* c
若是在我們這裡經常使用CIC提供的TSMC 0.35um製程的話,
8 z- G/ Q) n0 y% c0 ~: l: ^此類錯誤在DRC驗證時就會出現了,
" X; Y; L3 p, n r* @1 n不過這要看rule是怎麼寫的, 它其實並沒有一定得在做何種驗證時出現的必然性,! Z' K1 W, E0 y1 m: [4 c4 N
只是我自己把它歸在DRC Error而已.
2 c1 O2 S9 v& v4 w9 b上面這一條, 根據我長久以來的觀察結果...通常都是佈局者忘記打substrate contact了.9 E0 a+ t) m& ^! d3 F/ R
如果DRC hightlight跑出來亮的是一大片的話, 那就是您忘記打substrate contact了.. ^2 M* `1 X' B9 f) l
但也有可能像海闊天空大大說的...您或許有nmos或n-type device的substrate contact離device本身大於20um所致.& d# A: p# \, e5 M- M
( }. \+ B+ x$ Q
1 M1R1 Minimum density of MET1 area [%] =30. [4 q H! V8 M- j7 ^) Z# b
1 M2R1 Minimum density of MET2 area [%] =30
. Z5 r, [) g3 n0 A, U/ m1 M3R1 Minimum density of MET3 area [%] =30
) X& \" Y4 }, | C2 r3 N1 M4R1 Minimum density of MET4 area [%] =30
8 g0 W# a* \4 O( T/ `& ]
3 s: L7 m7 l% J以上四條, 同樣如海闊天空大大所說, 為metal density的問題.4 Q) l# J0 ?- J& X; v9 ~
為確保製程良率, foundry通常會制定這樣的rule,& x4 }! ^3 ]. {6 F: i c1 k- n
不過到底是不是您要自己把metal density補到夠, 或是它們是可以忽略的"假錯",
( q8 t, |4 ~% O# S; H% v0 B, _ s以及要用來補metal density的dummy cell的size及其所需間隔的space,4 E6 ?4 ^: ^* u5 D
則需視您所使用的製程(哪家foundry? 多少的製程?)來決定, Design Rule裡面通常會有的,
$ D5 I. i1 }+ z: l應該在蠻後面的地方, 您可以翻Design Rule看看.
! C+ {' S( a( L7 h
; B9 `+ Q4 }3 U1 POC1 Minimum POLY1 to DIFF spacing = 0.2
& k+ V& v8 ?. f7 R+ z; D/ ]' q; `% D
% S8 V( q ? `( Q5 b0 s' I1 M上面這條呢, 是講說您的POLY1與DIFF的space小於0.2了,
4 v# U- s% O; e) t2 S用RVE 把發生錯誤的地方highlight起來, 您應該就能看到錯誤發生在哪裡了.
* J8 M6 F/ J, x9 r7 q9 z個人猜想, 以及根據經驗的猜測呢...
8 X7 D5 |! s( \& _3 O& e' D很有可能是endcap轉彎要打poly contact的地方與DIFF的space小於0.2的關係,
% z- g' P6 a, o或者是用POLY1繞的線與其旁邊的DIFF的space小於0.2...諸如此類的關係,4 v) _8 R* {* l$ T
而此點與上述的metal density無關, 是一定要修改的DRC Error.; _1 t9 w6 F( K4 u
& z( F. c4 Z; _; z- E
====================LVS Error=====================' N: F2 m1 k* W1 i
再來是LVS的Error:0 ^; N8 M) B9 q _
( W: ]" t3 ]- S( B; F4 Label/Pin is on a net with a different name9 K# j- P5 @: }9 h" x/ a
6 P T' S( h6 E5 d% v# J這一條的話呢, 看來您是在同一條metal線上, 打了兩個不同名字的pin了.8 ~1 Z- d" u3 g' D- ^2 F7 y
廣義的來說, 一條metal線(或應該說是一個節點), + o5 g, Z# S0 u0 \! O' u
絕對只能有一個名字, 也就是它就應該只能打一個pin, 5 |) Y5 b- Z; l% _, K. H% P5 |" i3 I
我想可能也不見得要檢查電路圖...雖然說是我的話我可能也還是會看一下電路圖啦...5 ~, y& G4 j& ^$ v
或許請您到佈局裡面看看那些metal線上是否發生了一條metal上面有不只一個pin這樣的問題,
. z, j" Z( V/ Q那麼這一條error應該就能夠解決了.
8 [( U/ B" s5 e. q
& t5 }3 y- A3 s! R3 ?8 y# P: v1 Figure Causing Multiple Stamped Connections
# c) ]4 Y$ M+ U. O8 U1 Figure Having Multiple Stamped Connections
9 }- D& D8 n3 F7 R
* b, E2 {* D! T/ Z Z8 A: I/ K! N這兩條的話呢, 如果沒有意外的話,
* `# F& q2 S ~ a" K其實也如海闊天空大大所說, 其實跟上面那一條是基本上一樣的...5 ]" n% Q6 Q; Y: k+ c9 C) Y
所以若是您解決了上面LVS的第一條Label/Pin的問題之後,
6 t& |8 S4 J" `9 O3 S: f照理說這兩條就不應該再出現了, }& P- M* z& q
若有再出現的話, 就要看它們是否還有再搭配其它的error存在了.6 u& p8 {( G9 @# s) a
7 B$ t$ }* P6 a, ]% d
最後補充一點點東西...
/ ~9 N' W* Z2 W) Q8 a( j7 p看您發問時候的問題排版, ERC那條排在最上面,
" W) e9 y3 k/ {所以我猜有這幾種情況:8 n6 p* H! }4 w' r8 c
1. 或許您的ERC驗證是另外做的, 不像我們跑的LVS驗證裡就有含ERC rule了.& }6 O7 w( k/ u( A
2. 又或許您的ERC含在LVS驗證裡, 兩種一起做的, 所以它會和LVS Error排在一起.7 B9 }( U3 L' m3 l1 \4 C0 M
3. 還是我想太多, 只是您把各種Error混著排罷了, 它們的位置本身是沒關係的呢? 呵呵.../ c+ X- r' `% l0 M/ u; M. B: k# x
/ g: r8 z: F3 [4 b( k6 x) g
一點點經驗, 希望有幫上您的忙!! |
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