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[問題求助] poly fuse 的問題

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1#
發表於 2007-7-5 15:27:40 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
不知道發這個版對不對...
( }$ t. k  J5 y0 ~4 p$ |8 l! V4 q" p' [- Y
想請教版上有使用過 poly fuse 的前輩們..
3 _9 J9 b0 o% D( J一般在 C/P 時要確保 fuse 燒斷的條件是如何?? 小弟目前有個產品使用 0.35um process 生產, 5 W; F* Q  f; X' q; O- J) N2 o
poly fuse 區域 W=0.4um, L=0.8um, trim 的條件為 5.5V, 限流 150mA, 持續 70ms, 不過ㄧ個$ H6 X3 m) e4 X7 N( X/ G' L" r
lot 生產下來仍有 2% 到 8% 不等的失敗比率 (從 log 看起來是沒有完全燒斷)...
( y0 P+ h! G* Y& Q/ l: Z1 l3 k/ l) @
" w% w! U6 l1 x5 r- J8 H7 Z6 |* s/ J, T目前沒有什麼方向...不知道該怎麼解決說...
& m' j; A) D6 c) ~' e$ a
+ f( w4 m) g8 ^8 j1 V先感謝前輩們的分享..3 C$ K( H5 n# l) M' l

* p5 \) S8 K8 g( W# I3 q以下是 Fuse & Trim 的相關討論:, C; `( U) j1 B5 Y, K" s
e-fuse?  
4 x5 r6 q* x" Q' m6 l  apoly fuse 大約多少能量便可以燒斷?
% k* U. E! y* F6 S+ }3 X7 ~( O如何判断poly fuse 已经blown  * X4 U4 B  m' Q( i4 y
有關poly FUSE的不錯paper給大家參考  
: N  n* W2 _1 i2 ~  OLaser Trim
' k2 b( M2 t8 [$ p# K  G) s做完laser trim後內部的電路被打傷的情況嗎?  
- i( k) s; k0 F( Q& J8 I5 g9 q; NTrimming method?   
, q4 L: e2 t- x. PCurrent Sensing Resistor Trimming!!   ! K3 z& Z: `' e. `" n0 g
请教做laser trim的注意事项  
. j8 O; [# p. q& Y" mCurrent trimming 要如何做呢?  " c4 v3 u3 z# Q: {
- h; W) P9 Q3 ]$ ~1 F
( |1 L; E5 [0 N5 h8 \4 i5 @* {8 H

1 c5 S* O7 P2 C: f2 Y' O
( H" Q6 P' m) m- S) O" e[ 本帖最後由 sjhor 於 2009-3-17 06:39 PM 編輯 ]

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2#
發表於 2007-7-5 19:49:58 | 只看該作者
提示: 該帖被管理員或版主屏蔽
3#
發表於 2007-7-6 13:08:04 | 只看該作者
1.一般題高電壓是可行的,但須不damage device 為前題; .35 應可耐到至少 7V 不會 break-down 吧!?5 J& O2 ]# Q& Q/ y
2. Current limit 放大些,因為初期的做用會因為 R 小讓 current limit 限制了stress 的 power ( I^2*R << V*I; 因此時的 V已掉落至很低的電位了!
$ Q5 y$ ]) R, V/ ?  R. ?9 U結論: Current limit 放大至 CP 探針之限額內, V 提到最大且不會 break-down, trimming 的時間可以縮短很多!可靠度也可以改善!

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wpwang + 3 Good answer!
skyboy + 3 很實用的回覆, 謝謝..
mt7344 + 3 Good answer!

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4#
發表於 2007-7-8 23:07:08 | 只看該作者
poly fuse ...
8 L$ g  e$ t- G8 A# T我看到的fuse 很少有用poly fuse( Z3 I% F% W$ z7 t" Y- y$ p
通常是用metal fuse...1 ^' o5 j# J* s( ^1 ^
我以前看過有使用poly fuse9 s7 ?& Y7 Z! [' Q' t$ ~
1.因為 process 是 0.6um 所以電流較大(about 350mA)& S7 {2 C% d5 ~% u
大部分的fuse 都燒斷了,但是還是有一些無法燒斷  s5 Z. V/ v4 w4 S" m0 @
有用顯微鏡看(0.6 um 還可以看啦)
# i9 Q7 m* H; b* A9 N發現到燒斷的地方形成一個節球,又短路在一起了0 R# {/ }7 X7 `9 j
才發現到layout 的形狀也是蠻重要的3 B# ]" s2 }6 u1 R
最好要有轉角(電流集中)
" g( `# Q/ F  U5 S/ P8 f2.fuse 的地方通常會開window
& s- S/ D6 R* N......結果......水氣跑進去,原來燒斷的地方又短路了???. U4 T. ?$ b9 G" P* l& ~
目前解決的方法是,封裝前要烘乾一次........
& H) j, c* `; B1 Y1 a/ `7 V
8 ~# f9 |( c5 F: t以上是實際的經歷,僅共參考

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skyboy + 3 很有用的經驗, 感謝分享..
mt7344 + 3 Good answer!

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5#
 樓主| 發表於 2007-7-10 21:55:34 | 只看該作者
嗯..感謝兩位大大的經驗分享..
  s4 o1 n; o: J" y/ U( N* X. K- s
/ d; O5 c' I; K' ?6 F/ k關於 ssejack1 大的建議, 從過往的 WAT 來看這個製程 3V MOS gate oxide 的 break down 電壓大約都在 8V 上下, 雖然 WAT 的 spec low 是只有 6V 啦 (foundry 的 spec 都訂得超級寬...)
" v+ Q: N- }* U$ h$ I+ b$ z1 x, {7 Q
不過應該還是 ok, 所以我們已經修改測試程式提高 trimming 的 stress, 這幾天應該就會試試看...
5 W- b8 D& [3 i% A7 C/ D/ n0 ^  y6 `% q5 [
另外關於 kkk000777 大的經驗, 有個可以分享的是, 我們之前針對沒有燒斷的 die 去做 PFA, 剝到 poly 那層發現就像大大說的一樣, 燒的時候是有熔斷, 不過又"流"回去了 (foundry 的說法) 就又 short 了, 而第一次沒斷要再燒就很難斷了 (應是因為阻抗變大, 同樣外加電壓下的電流就又更小了)...; C/ s2 b( E9 b+ {

- B0 W4 m  _* H/ d$ B6 R不過 foundry 的人說, 我們的 poly fuse 被 power ring 蓋住, 是造成 poly 燒完又搭回去的主因, 建議改光罩, 關於這點不知各位看法如何? 我是覺得不太能說服我, 就算我上面沒有 metal 蓋住, 也是有其他的 field oxide 以及 passivation 蓋住, 應該也有一樣的問題不是嗎??
: s" l! ^2 l1 E9 S# s% W* _* [2 B
# y$ A- |7 x$ ~* a另外我再衍生兩個問題 (我問題真多.. )9 B( Q1 A. O6 |$ k
1st. poly fuse 與 metal fuse 有孰優孰劣 (可靠度) 的分別嗎?? 上次有個 foundry 的人跟我們說, poly fuse 的良率是很低的..(??) 因為我們使用這個東西的經驗並不是很多, 一開始就是用 poly fuse..目前有新產品在進行, 應該也會放入 trimming 的機制, 想了解一下業界在使用 fuse 上的一些習慣..% Z6 ~6 R- G7 k# n
0 h, U- U) F4 b% r# c( R2 t
2nd. metal fuse 除了面積較大外, 因為他燒斷時是"爆開"的, 會不會有 short 到另外的 pad 的問題?? 還有就是大大提到的水氣, 是否要考慮 package 品質導致日久也是會有水氣跑進去導致 short 造成的一些誤動作??  假如終端應用上是單價較高或環境較嚴苛的產品, 需不需要考慮這個問題??

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參與人數 3Chipcoin +5 +3 收起 理由
mt7344 + 3 大大感謝啦!
sjhor + 2 感謝經驗分享!
chip123 + 3 不怕問題多!怕的是沒人討論?論壇吶!

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6#
發表於 2007-7-12 20:40:26 | 只看該作者
1.關於poly fuse 的方面,其實我們公司已經放棄此做法
# j$ ?, z4 z) \& n' o   由於不是直接使用pad dirver , 是built-in buffer(nmos)/ a0 h4 X+ U; M" h  _
   算起來還真的是不划算說,由於並沒有量產所以良率並不是很準確
$ k# a- K+ R, B* c8 F# h# M. S   但是工程樣品的數據大約 80% .
8 [! y5 o: t' q: n8 _7 l' K
: P0 x3 \- ~, g; ^: l8 z0 i8 O2.metal fuse 的方面,目前的測試數據還算不錯,隨便都燒的斷1 \* T* M# r; Y# v
   不過要注意layout , 多個轉角比較容易燒斷,也不容易熔回去
( p% g- m% Q( k% l7 \+ y' o5 |; C( S: I, V
3.關於開window 的部分,也不知道是誰建議的(好像是fab. 的人)+ r7 e0 G& s2 \) g, b- F) r
   水氣就是會累積啊,真是XXX,害我drc 跑個半死....
6 N) a" ^. f2 x4 v  x
+ Y1 a! Z5 d7 Y2 k4.其實我看過atmel ir demodulator fuse 的做法,提出來僅供參考
# h" p1 ]7 Z/ X9 Q% j9 j) e! M" S   它也是使用metal fuse ,也有開window ,但是.......; V) N; Y. I) e0 z
   它是pad direct driver , 居然把fuse pad 擺到切割道上,還比一般的
8 h) m5 {6 T) R1 u  ?/ F3 l   pad (90X90)還小,(70X70)啦,(測試針頭可以容許較小的誤差),% [9 S4 s3 r/ U; R% G
   面積當然省啦.....
1 a' J" H% U2 p  J   由於不會受限於buffer ,所以metal fuse 阻抗可以大一點,就是可以
) R6 r& Q; }7 }; o- C% {   長一點啦,yield 當然好啊 ,像我們跟fab. 沒有那麼深厚的交情,不給5 i8 E1 W! M$ K, L3 z  G/ A( D
   我們這樣做, 真是差很多說.......可以試著凹凹看....

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參與人數 5感謝 +2 Chipcoin +5 +11 收起 理由
sam7186 + 2 感謝經驗分享
ssejack1 + 5 感謝經驗分享
skyboy + 3 實用的經驗分享, 可以嘗試..
mt7344 + 3 大大感謝啦!
sjhor + 5 感謝經驗分享!

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7#
發表於 2007-7-16 17:57:12 | 只看該作者
以前接觸memory時有使用poly fuse,修補率都有95%以上,影響修補率有許多因素,laser machine setting, fuse layout的條件都會影響,我這裡有一份Excel file有針對輸入不同條件如何選spot size與energy,focus以達最大修補率, 可發email跟我要

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參與人數 2 +8 收起 理由
wpwang + 5 人人為我,我為人人!
mt7344 + 3 學到不少!

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8#
發表於 2007-8-1 21:47:47 | 只看該作者
請問 poly or metal fuse 與 靠 MOS gate oxide breakdown 的 OTP 比較, 優缺點是哪些?
  e7 y: d/ w; U9 E9 ZThanks.
9#
 樓主| 發表於 2007-8-3 14:12:36 | 只看該作者
原帖由 kkk000777 於 2007-7-12 08:40 PM 發表 3 D/ j5 Z0 I; x: Z5 M! w% K, p
4.其實我看過atmel ir demodulator fuse 的做法,提出來僅供參考+ n1 o/ D; {- Y
   它也是使用metal fuse ,也有開window ,但是.......
9 O  o" e  v- ], R) ?. w% C" V0 y   它是pad direct driver , 居然把fuse pad 擺到切割道上,還比一般的
" ?! ^  a) Y. o+ [) V6 a3 j" |   pad (90X90)還小,(70X70)啦,(測試針頭可以容許較小的誤差),  o" m6 i2 u$ n  n
   面積當然省啦.....8 ^' d' Z0 K+ F% A2 w! R. t
   由於不會受限於buffer ,所以metal fuse 阻抗可以大一點,就是可以
/ s7 a6 o$ Z* K% E: e   長一點啦,yield 當然好啊 ,像我們跟fab. 沒有那麼深厚的交情,不給% \! c5 d9 [& A. S4 O7 C
   我們這樣做, 真是差很多說.......可以試著凹凹看...1 M# C( y- l0 W0 t2 d; s) l

7 s& u* V% t1 v6 Y3 }
! f8 A% o! }- y2 l$ u7 C看到 kk 大的回應才想到好像之前忘記聽誰提到過有這樣的 "偷雞" 法...4 v" }- v7 r5 W% n5 n( Q: F
嗯...如果是這樣確實可以節省很多面積, 用 metal fuse 的話也不用擔心
9 b" E3 L( u/ Z/ R' E! m' L水氣累積的問題 (D/S 後 trim pad 都被切掉了..). {2 @* ~' {* w4 G! O

$ H* B5 L1 @! H2 ?- _8 m不過 ATMEL 應該有他們自己的 foundry, 自己想怎麼搞都行...( r3 D  b6 ]1 \
手邊正好有個新 project 在進行, 看來是考驗我們跟 foundry 交情的時候了...
" T/ ~' u  ]- {% C1 O: W8 Y6 E" B呵呵...   D, l& m4 h! C' f, X. l4 x

7 O7 m  ?8 _$ `1 Z; a( Y8 q$ x順便 update 一下情報, 後來我把 trimming stress 提高後 trim fail 的數目2 Z  f1 c7 p1 Y3 {6 X3 Y8 m
就減少許多了, 不過因為只測了一兩批, 這個部份還會持續 monitor...
10#
發表於 2007-8-10 11:51:15 | 只看該作者
請問 各位高手 1 m* ^% x/ n, z/ {/ G. J
   是否有人試過 trimming pad 與正常pad 共用?  方法是什麼? 有哪一下注意事項?
7 @" ]5 \4 D8 x" T) _4 ~謝謝
11#
 樓主| 發表於 2007-8-17 18:04:56 | 只看該作者
原帖由 wpwang 於 2007-8-10 11:51 AM 發表 $ P1 e2 n5 d# d1 z9 E
請問 各位高手 ; d2 J" c" ]* y! u+ m
   是否有人試過 trimming pad 與正常pad 共用?  方法是什麼? 有哪一下注意事項?3 b, i( c) K( O
謝謝
- [9 M: c) f& ^& H5 {2 ?

6 _+ _$ i; V! r1 M: O您的共用是指用一般的 I/O Pad 來當成 trimming pad 嗎?? 還是說一個 pad 可以跑信號
* {" z0 F# u" @" v# O又可以用來 trim fuse??# k1 g: L* g/ ?; o' y. `

/ z* H  Y+ Q, Z  o4 m( \如果是後者應該是不行的吧....
6 \( i& y4 z0 b% e2 z! u4 M如果是前者應該也是不行, 因為一般 I/O pad 上會有 ESD 電阻, 會限制你 trimming 時的
% Y$ ]. V+ Y+ q* d# e電流, 所以一般大概都是另外畫一個 pad 給 trim 的 function 用...- e1 Y* \1 v* e  U- w
( ^5 I3 V: e2 i- H/ @) J$ e3 [* n- T
不知道是否有回答您的問題.......

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12#
發表於 2007-8-22 13:04:35 | 只看該作者
有一問題請教,一般 metal/poly fuse (漏斗型橋接)的 trimming 效率以常理推論 , V/I source 只要題供的能量足夠,均可以燒斷!
2 u8 |- h9 R7 ?: @  D6 k  k3 l最近有個 case 是 metal fuse , fuse 欲燒斷之橋接處呈 30~45 度橋接; 此形狀的 fuse 在trim 時電壓不能過高 ( typical 2.5V) 如超出個 200/300 mV 會造成trim完後又熔接的現像!!!..........真是無言.....
2 |& M8 J: b" B. Z$ O9 U不知那位好心的大大可以幫忙分析一下可能的原因?
) Z: g/ y: t5 m. Z先感謝啦!
13#
發表於 2009-3-6 22:17:43 | 只看該作者
不曉得您是不是問這個問題 0 v& m* _! d, E1 J! @; |1 ^
% `* j8 J6 i- \; ?  t) n
我們家有的產品 trim pad 是可以 bonding 出來的/ Q; G  ?/ P) y  a/ ?# C

) `% h5 o" \6 {; Y& {也就是 bond pad 與 trim pad 是共用的
6 |" d, Z" d, V0 B2 ^  R! v/ D& j. ?4 M% C
[ 本帖最後由 redkerri 於 2009-3-6 10:20 PM 編輯 ]
14#
發表於 2009-3-10 21:27:17 | 只看該作者
CP 時請測試廠用氣吹一下正在trimming die,應該有幫助良率上升(要有開窗的poly fuse),( j4 o$ C8 g6 T! ]* U. D
還有其偵測電路也是一個問題,因poly fuse,trimming 之後,可能呈open有可能呈高阻,且高阻trimming 多次也無用.
15#
發表於 2014-1-10 10:34:57 | 只看該作者
回復 3# ssejack1
" a; K+ @7 S* j( _( _7 B
* l4 U( k+ M, |$ c$ B: ]4 N  f0 G! I) `6 J- q6 [" g9 I  x
    幫助不小, 謝謝!!
16#
發表於 2014-1-10 10:37:09 | 只看該作者
回復 4# kkk000777
& R5 x- t; w$ u( l9 i  Q1 Y
4 A% U% e4 D* }; q
& o7 z) i! R' Y* U  p: j' A    封裝前要烘乾一次........很好的資訊, 謝謝!!
17#
發表於 2022-11-1 16:12:28 | 只看該作者
谢谢,学习了!!!!!!!!!!!!!
18#
發表於 2023-11-3 01:55:53 | 只看該作者
kkk000777 發表於 2007-7-8 11:07 PM2 _3 U8 m6 |, E, X# d( P
poly fuse ...0 i# {- W* h+ M/ o: V7 X: Z
我看到的fuse 很少有用poly fuse) Z, g4 g; @7 o$ w, J
通常是用metal fuse...

3 E+ w/ p% C# ?( j2 `
9 y4 ?$ U3 J$ T: b9 u. l
5 K4 R+ L5 s/ `( q% v
很有用的經驗, 感謝分享..
* p5 n' X1 \) b6 w" x+ d! }
19#
發表於 2023-11-3 01:56:26 | 只看該作者
Good question!
0 Q$ Y3 z( p' R8 {
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