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[問題求助] 90nm製程的Threshold Voltage (Vth)數值的疑問??

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1#
發表於 2008-12-24 23:51:49 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
由於學術的研究需要,所以要模擬90nm製程。3 |+ G2 {8 e; J

2 L, _6 j! Z8 r3 i在過程中發現Vth(Threshold Voltage)並沒有比較小。
. X3 e/ ~& r" q- W' V
( r3 A+ a# E6 [3 V' y6 S" v$ h範圍大概是在0.5v∼0.7v
多吧∼!!(在Linear與Saturation region)
8 d1 w5 R3 {; S% F
' P+ r7 }# y0 m9 @7 l# l' n然後我查一下聯X電子的SPICE MODE的pdf檔,在Saturation region
2 |, {2 z( S* D
file:///C:/DOCUME%7E1/Riley/LOCALS%7E1/Temp/moz-screenshot-2.jpg- T7 L; L& n0 L2 H0 l  a; {0 J
發現它的Vth可以到0.3v∼0.4v多,我照著它的W/L的size去模擬。) h( t% J% `" u- u# l: e* M) Y
- N1 C, A; N9 q8 R; B9 m
去lis檔看Vth值,似乎沒有上面寫得那麼小,這到底是怎麼樣呢?, m0 b4 F6 q0 i) I0 u
7 D& V! q) P  _, [# e
它也沒有給VGS的大小,就只有上面所出現的VDS=1.2v。
8 f* J8 y$ p8 G
  j# M3 x; `1 v另外,我想問一下如何用hspice模擬出Vth vs L(length)的圖形啊??! {6 C' D& G& v: r) \1 [
" n3 n/ c% E& l6 C5 X: A. S* _
( Z: W9 n1 ?% Z% h
# f' W" `& R( R, G
2 \+ c7 T; P6 X2 q( U$ E4 j
; X( y1 g( v( T$ k( n' n3 x. M
[ 本帖最後由 異星人 於 2008-12-24 11:58 PM 編輯 ]

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x
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2#
發表於 2008-12-25 13:22:37 | 只看該作者
跟你用的model level有没有关系呢?
) D$ U1 k4 S" T5 h文档中提供的应该是某个W,L下的实测值,model level不同考虑的实际效应也不同。
3#
發表於 2008-12-25 13:34:13 | 只看該作者
楼主,建议你仔细学习一下什么是阈值电压,再学习一下二阶效应对阈值电压的影响,然后再来分析这问题。/ I. Z- G0 d0 ^0 r9 g4 ?
可参考gray的书,或《数字大规模集成电路设计透视》开头都会讲这些。
4#
 樓主| 發表於 2008-12-25 18:20:57 | 只看該作者
Threshold Voltage(Vth)這個我當然知道# e: g# c6 Z  [: B# H* C* `
( p+ H! K" ?9 O) ?4 y5 q# b, k
跑過0.35um與0.18um的製程,
5 B( \0 n. m- u  e9 d- s, s( [% H( v; D
它們的Vth都不會太大,可是90nm製程的Vth卻沒有明顯減少,
" p4 K/ b; h5 g( a) g' s$ s  f2 S; i* R" R2 j6 L0 n; N9 a" X
讓我懷疑是我的LIB跑錯了呢??$ ~0 _* g; |& R# q/ A) b( L
; ^# u% `1 v1 b( }6 k+ y+ |
還是90nm真的是這樣子啊??+ ^) c( t* `/ R; l4 d" r8 Q

$ Q3 c. Z) Z- G0 P+ C9 h因為NMOS在cut off 時Vth=800mV多∼!!9 a! O9 ]8 X! U2 N# J& N: Q

8 i- X# V: ]+ b" U所以才另外問一下如何用hspice模擬出Vth vs L(length)的圖形啊??
5#
發表於 2008-12-25 23:56:20 | 只看該作者
我印象中,製程的微縮並不會影響到Vth,也就是說到了45nm,Vth也差不多那個值。
6#
發表於 2008-12-26 00:18:22 | 只看該作者

回復 4# 的帖子

那看来是我有理解不深入的地方了。
5 u; k) y+ E% ]7 O- y原文中说:然後我查一下聯X電子的SPICE MODE的pdf檔,在Saturation region
$ S$ d- A2 G1 u# ~* o發現它的Vth可以到0.3v∼0.4v多,Vth还分saturation region的和cut-off region的??头一次听说。- V+ l; v4 q1 [
原文中说:我照著它的W/L的size去模擬。去lis檔看Vth值,似乎沒有上面寫得那麼小,這到底是怎麼樣呢,它也沒有給VGS的大小,就只有上面所出現的VDS=1.2v。Vth不就是VGS么??8 A2 _8 D5 e. J+ Q; n2 |
5 o- p  N% g0 x
另外,楼主的问题究竟是什么?是说你仿真结果和fab提供的文档不一致么?1 e& c( N( d: h: k- P; f! w, A
还有楼主的图片是你的仿真结果还是fab文档?% \' H9 Z" G, F. {0 x
I'm really confused...
+ r$ W5 K  f" s% f1 e' W5 v等待高手解答吧
7#
發表於 2008-12-26 00:23:31 | 只看該作者

回復 4# 的帖子

请问楼主,你是由何种逻辑得出90nm的工艺Vth一定会小?影响阈值电压的因素有很多,工艺尺寸缩小仍然可以把阈值电压做的与大尺寸工艺差不多,为何一定会变小呢?
8#
發表於 2008-12-26 08:51:36 | 只看該作者
LZ以为90nm的Vth是多少呢?
9#
發表於 2008-12-26 16:41:26 | 只看該作者
90nm的Vtn0  一般就是350mV∼45mV左右吧
10#
 樓主| 發表於 2008-12-26 22:44:08 | 只看該作者
若是我改變Vbs的值的話
; e+ ]6 v! ]+ c' m8 w$ D$ l; ^) d. L1 c$ S( c, C  D
就可以改變Vth值了
# l; N4 a0 z0 k1 G" O& X4 C
1 M$ o4 _8 i1 VNMOS增加Vb的確可以減少Vth,但我想知道原因。1 a! U$ Q5 M( }- m6 H7 u# {

: r9 x) X' A; |% i4 i' K由於跑過兩個0.35um與0.18um製程,1 w: F4 O9 ^% Y3 p, L  w
+ q( j- d9 x  C9 @3 r# b, D
直覺上,會認為Vth應該會減少。2 ?2 w- H' E' d1 ]
! r5 I1 k9 n. |. v: i
由於我使用與其他兩個相同製程W/L的比值, |6 f; L/ K0 T+ G& }4 _
9 r" Q! a4 A* i* s3 W
發現90nm製程的Vth竟然比較大,$ v% z! Z/ M3 u+ B& V

* ~" O" Z3 E* g9 n9 e' v& M所以覺得很奇怪,在相同的W/L的比值之下9 ?4 n$ G- \/ f4 c

4 ^+ A  T) x  T$ G9 |" {8 O! AVth或許應該會接近,更小的製程應不會比大製程的Vth大% Y' G4 C1 \1 M* k

! z, J* |3 x* d+ X所以才會提出這個問題∼!!
% @+ U& J/ ~' q( F% N" L' `8 F* C: O' h: e4 w% Z% X0 F
若是Vth沒有逐漸的變小的話,那VDD何必減少呢??$ _% \) V' P/ [- c' g! F8 g& n. i

/ U0 [4 c4 _  z0.35um→Vth=0.5V~0.7V→VDD=3.3V! ~7 J, H: V' H& q) `% ?: _: y
7 K! S4 O6 f: g7 t& G
0.18um→Vth=0.5V~0.7V→VDD=1.8V
5 A/ N/ }4 R+ T$ A* k. T, ?, I( s" ~/ d9 l- z3 h) x; W6 g
0.09um→Vth=0.5V~0.7V→VDD=1.2V1 s! B$ O* Y% ?$ s) a' a' M" p
* C$ L* {" D& P' K+ I. p& ]. ?
在製程縮小,而Vth沒有跟著逐漸下降的話," `; |9 i, Q, ]: R9 F/ H
: h* n( L8 h0 t" u
若是考量到功率大小的問題的話,2 |: `" y; m: d/ b( r% c9 F$ D
! e# f6 f# [# o% t
我想現在用成本最便宜0.35um製程就可以了,VDD給1.2v
6 N, ^# ^- T; d  L$ q
, u: N" n* p& J6 A若是考量到 電晶體數量 / 面積 的問題,就另當別論了。
11#
發表於 2008-12-27 20:44:16 | 只看該作者
Vth可以做的较小,但是漏电很大,所以Vth<300mV不会出现!特别是数字部分,Vth较大,为的就是漏电小!模拟部分Vth可以很小!
12#
發表於 2009-10-5 19:55:46 | 只看該作者
請問 在模擬之中 下VTH= PAR('lv9(MN1)') 求得的意義 跟真實的VTH有關聯或是有意義嗎
13#
發表於 2009-10-6 10:23:23 | 只看該作者
先進製程,Vth不會變低,這是考慮到漏電流...等非常多因素所決定的。
4 s* k7 X% }+ j. U4 c8 PVth跟VDD大或小無關,所以才會有VDD越低,類比電路越難做的情況呀。
" [3 z% E# z8 K+ J  B: W
+ A$ P' l# e) v2 }# JNMOS vb電壓提高,Vth會降低,這現象剛好跟body effect相反,這是由控制PN介面的bias來改變Vth的一個技巧' b- I0 L: p# k/ D- P1 M, t
想要使用low Vt 元件但又不想多花光罩就會使用控制body電位的方式來得到low Vt。
1 V+ L4 p, g& v) d) XPMOS也可這樣做,不過body電壓的控制相反就是了。
14#
發表於 2010-5-21 19:41:11 | 只看該作者
90nm 标准的应该是200—300mv  但是如果你是lp的要大一倍以上,如果是lv的那就要更小一些
15#
發表於 2010-5-28 00:00:26 | 只看該作者
Vth不隨MOS scale而變小 您可參考 Razavi pp 579~583 ) ?7 h0 v3 w" r8 u
page 583中間有寫到目前MOS scale不完全是constant field8 y! |/ d5 x  i, l1 U

$ V$ D" [! A3 ~. a2 t而Vth隨Vb而變 您亦可參考Razavi pp 24 eq2.22 Vsb為負值就可略知一二
16#
發表於 2010-6-4 15:26:08 | 只看該作者
T90 release出來的多半是low power製程
* }1 r7 u0 B2 ~" E3 I$ w/ UU90 則可以用到normal的製程
8 H+ j+ J9 g' V) e2 {看看你拿到的model是甚麼
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