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[問題求助] 請教兩個關于ESD的問題

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1#
發表於 2008-11-29 11:40:06 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?: L$ I' i+ t! S& W4 G5 `
第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試
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2#
發表於 2008-12-2 21:21:42 | 只看該作者
原帖由 hvpower 於 2008-11-29 11:40 發表
4 O) i( l# l, @4 U' z* b; }第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
: d6 l- u" @/ T7 N第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一 ...
! v, `) ^2 y; s! z" y/ @9 D
. \% E7 z3 [# M* D/ Y" K+ M" L( v1 m2 ]$ C
我是这样理解的:
. ?; O3 ]7 Y+ f6 @第一個:输出PAD也要做ESD保护,否则这个NMOS管也容易损坏* L! B7 q, T5 U1 p
第二個:这是根据ESD测试标准来测试的,引脚由我们提供,测试公司只负责测试;
# a" W- v: @( q+ T        我们选择一些具有一些代表性的引脚出来就可以了,不需要每个都测试;
3#
發表於 2008-12-11 13:56:32 | 只看該作者
进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I╱O引脚会进行以下六种测试:5 ]& B1 t+ _( x; r5 v" S! `
1) PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;9 }! V2 j( D/ f! @1 z3 p9 ^; ^: V
2) NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
+ u3 x3 o9 ~" \3) PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;, `" w; O: R  Y6 |; c# l
4) ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;
: \0 x4 j7 ~, I& f; b( ~5) 引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空;
+ q0 I/ p+ d* h( D9 Y6) 引脚对引脚反向模式:引脚施加负的:ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。7 G$ l6 E4 @# C
VDD引脚只需进行(1)(2)项测试/ N9 x4 c& u9 c

9 S1 t) W/ d8 J7 q3 s3 Z应该是one by one 的测试,管脚多的话,排列组合就多,很费时的。
4#
發表於 2008-12-11 13:57:33 | 只看該作者
第二个:ESD测试都是有参考引脚的,也就是说某个引脚的ESD测试不是孤立的,而是相对于某个引脚的ESD电压,通常是对电源和地。因此,ESD测试都是一对引脚一对引脚地测试的。ESD测试还有不同的模型,如HBM,CDM等
5#
 樓主| 發表於 2008-12-22 13:50:21 | 只看該作者
THANK YOU  ABOVE  
6#
發表於 2008-12-22 18:30:52 | 只看該作者
It must be tested one by one.  Or you may miss something?
7#
發表於 2010-1-12 18:22:13 | 只看該作者
1. 只要是有跟外界接觸的針腳都要加ESD保護電路
* Y8 K) _: E  ?; ?6 B# L2.每隻針腳都要測試 一根一根來你可以看JEDEC standard 
8#
發表於 2010-1-20 16:17:25 | 只看該作者
回復 7# wesleysung 7 }- a# c( Q! Q; ~$ u; P

9 A8 F( n) _& N* L4 b第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?4 o2 o, C7 l4 ]% T

: p6 t- h# b8 F# l每一个与外界相连的PAD都需要加ESD保护,无论是input,output,power pad.
! B4 }1 m4 p2 ?" m; ^, O" b+ I: F, ]
第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試。
7 s1 K0 n; W% z+ w& O% F) V* k5 E& G+ [6 }
只有严格按照JEDEC 的测试要求才能准确地反映IC 的ESD能力。
: R, Q" P0 C7 d; R* y5 h$ Y每一个power pad VS. 每一个power pad;2 B1 t( s* Y3 P4 T0 |3 R9 \$ c% l
每一个I/O pad VS. 每一个power pad;; ]4 y1 w. E- v& c4 ?& K8 B
每一个I/O pad VS. 每一个I/O pad
9#
發表於 2010-1-20 18:45:12 | 只看該作者
看了這些文章
5 d% B# k  F" |% U+ h% C對esd protection又有進一步的認識了
10#
發表於 2013-7-15 17:11:15 | 只看該作者
每测一次,都要换新的IC吗?
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