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[問題求助] 類比電路特性

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1#
發表於 2008-1-11 00:07:54 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問各位前輩,我是剛進入ic layout不久的菜鳥,畫類比電路時有些電路型態不是很熟,例如差動對的對偁性等等,有沒有哪些書籍講到這些相關知識?
7 Y7 c  R0 c; x" }# `一個via的阻值約多少?power line的寬度要如何取決?* W6 x6 |" T2 b9 [& F
還有另一個問題,就是p type的電阻需要圍n gardring麻?
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2#
發表於 2008-1-11 08:44:49 | 只看該作者
有一本畫layout的經典書
/ |; \5 d( p4 A( X! N0 F- iThe art of layout 記得是這樣錯了請指教
! S! G5 r, B7 \- K( {至於類比layout不僅僅只是layout的責任
7 s, q. K6 t! l7 z* b  h1 Rdesigner必須說清楚power line寬度. 這關係到電流的密度
3#
發表於 2008-1-11 09:00:30 | 只看該作者
via的阻值, please see foundry's SPICE document or PCM spec. document. " F  V  L' d. l# g7 U* t2 h
power line的寬度depends on current density, IR drop, noise immunity, etc...- \7 l: j) Z1 B" [; \
p type的電阻, diffusion type has better to have N-guardring, poly type has not.
4#
發表於 2008-1-15 11:48:15 | 只看該作者
VIA是能打滿就打滿(在這裡地方工作,他們經理告知我們的)& z, V9 k# {+ k1 O( W
像line的寬度,你要問RD,這些是由他們來考慮的!!!
* {# V$ L) n9 L所以像line的寬度,通常拿到電路時,都要先問RD,而不是畫好後在問
5#
 樓主| 發表於 2008-1-16 23:35:00 | 只看該作者
嗯嗯,像line的寬度我是有問過別人,他說1um的線可負載0.8ua的電流
6#
發表於 2008-1-17 00:24:03 | 只看該作者

回復 1# 的帖子

contact 能打多少就打多少9 \0 c7 y3 q( I
在 M1以上 考量到的是電流密度的問題(比如 有一個 5mA的電流要由 Metal1 流向 Metal2 結果你在 M1/M2之間只有打少數幾個! y3 ~% A" ]+ n; w
contact,有可能會造成太大的電流會一直灌那幾個contact,  造成electron migration, 也就是 contact會整個燒斷. )" h  v: z* D1 ?% k

1 m0 p& c5 d) s8 b' P* E因此 一個contact有一個可承受的 電流量, 不同的製程廠都會有不同的規格7 [6 x* O; t" Y8 ~
如果是 M0(Poly) contact ,  除了 電流密度的考量  還可以降低 well與substrate的電阻
4 g9 Q4 ^4 r4 E; M9 Z, `防止 Latch-up效應發生 . 因此 contact打多 只有好處沒有壞處, 只是Layout Engineer通常都會偷懶
2 u4 G0 C9 P% s! w% {( ?我想可能是因為 他們不了解 contact打的量的多寡 對整個IC的影響是什麼?
2 l7 _8 Z: Y+ Y" B$ J) W
% @4 f, D/ ^* V至於 M1/M2  power line的寬度   M1/M2 每um寬可以忍受的電流  同樣每個FAB廠的規定也不一樣( \9 O% V1 W1 _8 c' D/ L
大概是  每um寬 可以忍受  0.5mA到1mA不等的數字  
, `; J: c) W. Z2 m' W) _& e: w4 O每條線上 通常會流多少mA的電流也只有做這個電路的人才會知道, 所以自然是要由 RD來給定. x% D5 ^& A2 s9 c. b: c! E
Layout 工程師負責畫,  寬度給太窄同樣會有 Electron migration的問題.
$ F  d" g' o7 O! F6 H& f1 |( T" H
0 y1 G* q/ Z* k$ p[ 本帖最後由 yhchang 於 2008-1-17 12:27 AM 編輯 ]

評分

參與人數 1Chipcoin +3 收起 理由
sjhor + 3 Good answer!

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7#
發表於 2008-1-17 17:13:36 | 只看該作者
agree with  #1 & #6
% Z* d0 l: M/ }+ F3 J) ^5 `. k/ V8 I  q- _) E
There're many people have wrong concept.
7 A  N' w7 ~" Z- ewhy don't  you see the designrule???
  E4 E0 R) g7 m$ K7 K! X7 Ithey describe in detail.+ X. W1 `7 `8 p
no need to ask RD
8#
發表於 2008-1-17 21:05:18 | 只看該作者
Layout的時候design rule文件是很重要的,
0 x1 p) Y; Y0 R: c- I很多需要參考並且遵守的資訊都在裡面喔!
9#
發表於 2008-1-19 18:36:06 | 只看該作者
喔~~原來是這樣唷~~多謝謝大大的經驗分享~~謝謝唷~~感謝
10#
發表於 2008-1-22 19:33:37 | 只看該作者

不錯耶!

我看到上面大大的回答真的很好耶!
8 M: x; a  w- C: v3 {& `6 a不過因為Latch up會因為Contact的多寡讓它不會發生的情形. f  f* U5 [- R2 ?# Y& U, T# L, _
但是Latch up在跟ESD的情況下,如何去取得好的Contact確實是很重要的方針
7 V0 N; ~) W1 o% J) d5 o0 g我看過其他資料,Contact的多寡會造成ESD很容易觸發,一樣會是會造成IC Failure
0 Q' @, d, `" m9 Z1 u0 i因為Latch up越好,同樣的ESD的效能就會影響到。
9 l! f, J* s% L' x! }. U! X2 x4 O
9 Y) o2 S, V# B' W這是上課的資料,如果有錯誤麻煩各位多多指教!" L5 y" O5 n  k( {8 C1 \, a  X
謝謝。
11#
發表於 2008-1-22 22:44:29 | 只看該作者
*latch-up 現像,是形成 pnpn or npnp 造成的吧2 x# X& n! w7 ?( l5 j8 i9 Q: ]7 ?
所謂的contact 應該是substrate contact
* J' u, ]$ X; c% d; H( i& @ 那是降低body 的電阻,使得電晶體不容易開啟
$ w3 s+ l$ v* Y" f8 G% q0 J; l1 y 其實只要合乎rule,基本上已經足夠了,除非是大電流的driver
$ l  b3 E$ I/ F/ l; Y/ o 那就需要拉開距離,加上gard ring 才保險一點
  R: d6 ~) C. i3 n
, _) O+ j: l3 `4 o*p type 電阻......
! A) `1 z4 r3 V2 A) s' w8 x8 ~! ? p+ or p- ???
( R5 d( ~1 }( f 應該不是p+吧,呵~~~~~
% c6 z; g6 v! u) s 假設是用p-(應該是well吧),注意一點,電阻性的元件會有壓降的/ y$ |0 H$ z1 n0 J
well to well 的rule (不同電位的)應該較遠吧: e5 A$ J/ D0 Q" k% Z& _* V
那是為了防止形成寄生的電晶體(pnp)! \: B+ H7 c/ m) I4 d# U7 M5 b
如果圍上gard ring (n+),等效於將寄生效應消除(base connect vdd)/ h: _: @6 J$ L" J
ps.我也會圍gard ring ,但絕不是上面的理由,是為了防止noise 干擾
. O/ J' v: Q& b! B: s  M1 w/ M! y
*esd .....' J+ Z+ V5 i# J7 r" r
Latch up越好,同樣的ESD的效能就會影響到????/ p4 n0 m$ [5 R+ J$ w5 ^
不太了解這句話的意思4 {' m) L' Q5 Z+ j6 [0 _2 u
這邊指的ESD是針對 i/o pad 嗎??
12#
 樓主| 發表於 2008-1-24 23:56:13 | 只看該作者
大電流的driver,當我們在layout時,以一個array 4*4的方式去做,那為什麼不可以直接把每個mos的poly 以poly連接起來呢?
. Q$ ?5 ?/ i$ _* g) y  k5 _1 u我看的是把16個mos各自打上poly contact然後再以matel連接起來,請問這是為了什麼?
13#
發表於 2008-1-25 02:17:31 | 只看該作者

回復 12# 的帖子

在此說說我的看法
; a$ f2 a2 N* H7 C8 X0 a& q用Array 4*4 是為了 Layout上 對稱性的考量  避免光罩曝光時即使有偏移,不管是往上下或是左右Shift9 D; [# U% s% A7 q
16個MOS的元件特性偏移基本上會一致.  (降低Device mismatch)) b' T3 V7 n- ^  I
不用Poly去接  是因為 Poly 電阻都非常的大,  比Metal電阻大很多  你雖然Layout 16個MOS finger,  實質上那只代表一顆MOS  8 s0 c7 R: J5 S  T4 j4 v7 `/ Q: }
電路設計者並不想要 電阻參雜在其中  只想要一個Pure的MOS6 h0 T, Z. Q+ d
如果 MOS之間都還有串聯Poly電阻的話    這樣就不是原作者想要的一顆大Driver的MOS了.
3 @( T+ E$ Y+ p: [& a9 M* ]
& {5 h4 G- P( w# b, E此外把一個大Size的MOS Layout成 很多個MOS 還可以降低Process Variation; {7 K6 v5 a* [$ a2 W3 E2 `' z
比如  你要Lay    W/L    320/10    就可以拆成  - x) r# M5 X% F0 ?2 x
16個     20/10       每顆MOS在製程上    有些 Width或Length做出來會  +1~5%   有些會  -1~5%   
0 R8 C; |: o( u  n(在此製程的變異程度是假設值,每家FAB的MOS,R,C variation程度應該都不太一樣)* K' P1 Y1 O6 p- t
16個MOS  每顆MOS  有些 W/L 變大   有些W/L 變小  加加減減的結果    製作出來的Hardware
) B! z6 s/ q! d  v! I會比單純只 Layout 一個超大MOS  會來得更接近   W/L  320/10
+ R9 L  X- Q7 R" t2 u  f% g, E" |
[ 本帖最後由 yhchang 於 2008-1-25 02:26 AM 編輯 ]
14#
發表於 2008-3-18 01:32:06 | 只看該作者
contact能多打就多打
$ b4 `. n1 ^9 L; u% j, ~這樣子電流的效益會比較好
15#
發表於 2008-4-2 11:06:54 | 只看該作者
可以請問一下PCM的全名是什麼嗎?...7 I$ o3 H; L4 `1 B/ g6 I0 {
感謝~~~~~~~~~~~~~~~~~~~
16#
發表於 2008-4-18 00:31:33 | 只看該作者
PCM: Process Control Monitor, 它對應了SPICE parameters 的typical value and corner value..
17#
發表於 2008-12-2 01:00:20 | 只看該作者
加gardring是來保護電阻的阻值,項限在你在畫電阻透過電阻係數表來計算電阻阻值,能的話 它的w (寬度)能w=2是最佳的,因為他在製程的時候,會侵蝕掉它的阻值,搞不好你拿到是2k電阻 透過製程會變成1.8k或1.9k的電阻,就是因為他在製程的時候被蝕刻掉,所以能的話 加gardring 或 Gummy是比較好和用matching做法也比較好
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