|
原帖由 finster 於 2007-9-10 01:05 AM 發表 " {( t1 V# a* i7 z Z' O
至於另外一篇有探討到emitter area=10*10um^2的BJT的比較,因為年代有點久,我還得再找找,我印象中有幾組不同size的比較,至於有沒有比較出10*10比20*20甚或50*50的值,我不敢說有或者沒有) |- [7 ?- `1 C' g0 Q" \0 O. v
3 H, ~7 T/ F" V) I' f/ B
再回答一下問題
; f" V4 O% a& V- _; i在我作過的Bandgap circuit中,曾下過UMC和MXIC以及Charter,在作post-sim時,抽完LPE的BJT參數和沒抽之前是一樣的,而這表示其實製程廠對於在CMOS製程裡對於BJT並沒有辦法作太多的寄生效應出來,所以所抽出來的LPE才沒有太多的參數,故而製程廠所提供的SPICE Model準不準就變成是一個很重要的課題了+ ~" C4 W7 j- f$ N# b8 ?
再者,在CMOS製程裡,主要元件為MOSFET,理所當然在MOSFET所抽出來的寄生效應會比較多參數可供參考,如果是在BiCMOS製程,我想BJT所抽出來的LPE參數應該會多很多吧& ]4 z- {! ^+ F5 |
% r8 C) O' D; Y5 E( v. F最後,我曾和製程工程師以及一些資深電路設計者談過,在CMOS製程裡作出BJT,那是一種近似的BJT,而在Bandgap circuit中,我們要用的是BJT對溫度的變化,而不是BJT的電流特性,故而在設計Bandgap circuit中,所在意的是溫度與電壓變化對於Bandgap voltage所造成的影響有多少,所以,在SPICE Model中的BJT,主要看其溫度係數變化參數而不在意其電流增益,所以,很多BJT參數是可以被忽略不計的7 z1 [" I! H$ T( D
3 C5 e& c- q4 Y- `% X7 e5 \/ P; ~
關於1:8的問題,附件檔這篇之前板上有分享,所以我有大略的看過
9 H) ^$ m' M: h- ]8 Y比較不清楚的部份在於它說當N增加時會增加更多的error,卻沒有說明發生的理由與增加多少時此error的程度有多嚴重
+ |$ h" d8 _# h* N2 Q: |; M在A CMOS Bandgap Reference Circuit with Sub-1V Operation這篇中是使用1:100, N/ ]% @/ y4 _4 {
在A sub-1-V 15-ppm °C CMOS bandgap voltage reference without requiring low threshold voltage device這篇中是使用1:64
- E) `% K' U; l3 b7 k( m4 F
" L% T, n/ D7 t7 o8 ]3 X! M/ r關於size的問題,我想知道的是10*10是不是當時比較的幾個bjt中最大的size
- {, n9 D4 t# H; ?如果是,比較好解釋;如果不是,我想知道原因為何, v, |- e, ?8 G$ W+ @( H$ R
$ X- `" T( p8 m0 y* I1 Y- Y
至於bjt在lpe後並沒有抽出額外的參數,我想應該不能解釋成製程廠無法作出bjt的寄生效應
2 o' A% O$ z5 K. s因為以電阻來說,在lpe後電阻也同樣抽不出tc1,tc2,vc1,vc2,但這些數值卻是spice model中有明確定義的, L* E3 }5 a1 u9 ~
) a! o& K- C9 B5 I3 {3 j3 d, M g
至於area這個參數要不要設,我是從以前就沒看過有人在設0 L1 ~3 E( ~* N7 A! w1 T
只是最近忽然看到hspice manual而想到這個問題 |
|