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[問題求助] ESD防謢電路中,MOS的source與Drain大小不一樣,請問為何呢?謝謝!

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1#
發表於 2012-3-6 06:29:41 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
ESD防謢電路中,MOS的Source與Drain大小不一樣,請問有什麼作用?
- L$ L& T0 d9 f再請問大的一邊是接Source or Drain 呢?與Pad有關嗎?# s: B3 Q- I. U0 V. Y4 i
知道答案的大大,請為小弟解答一下,謝謝!
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2#
發表於 2012-3-7 11:30:38 | 只看該作者
基本上 接PAD的部分會比較大 讓其具有較大的表面電阻 讓靜電電流走比較深層
3#
發表於 2012-3-7 11:34:07 | 只看該作者
本帖最後由 despair 於 2012-3-7 11:37 AM 編輯
2 r! ~+ P+ j1 \; S9 g& m1 y+ D. R& j9 g1 D) e1 I
如針對source與drain面積大小不同進行討論,主要原因為抗ESD電流的衝擊。
/ u) z: A1 h, A  B' H7 p: U會有大小面積的差異,來因從PAD來的信號多會有ESD damage的問題。
7 s* X. `0 e* z9 q5 s3 Y8 P4 ^$ J( W- ?, b! y- [5 A, _7 K8 @
S/D若接點看到的是從PAD接過來的信號,該接點除了co to poly之間會有較大的rule外
5 @( B# [9 g  {! g; z4 j也會多層silicide bloak增加通道表面阻抗讓ESD電流走well這部份 ,用來抵抗ESD電流避免oxide or gate poly遭到破壞。/ `* p% ]6 f: ?8 i1 c% B! |
! H! v! Q( q3 C* A/ F
這只是相關ESD guidelines的一小部份,若要全盤了解還需要多查資料~加油。
4#
 樓主| 發表於 2012-3-8 15:11:20 | 只看該作者
謝謝兩位大大的解答...
( I3 {, H( H6 f' |& z) `意思都差不多,我大概能了解了...  m+ }/ a6 i' f, p) y5 i
至於多一層silicide這部份,是指多加一層RPO嗎?
+ M; v  x4 e" z9 V# P: |& x- T謝謝!
5#
發表於 2012-3-9 09:37:33 | 只看該作者
部分foundry是叫做RPO,或者又叫做SAB
& a! l  F$ ?3 I  d. s- P不同晶圓廠都有不同的稱呼
6#
發表於 2012-3-9 09:41:02 | 只看該作者
看了还是一头雾水,没看太明白/ K+ ^* S7 \4 |* [
7#
發表於 2012-4-20 11:17:57 | 只看該作者
我的ESD防謢電路中,MOS的Source與Drain的SCG及DCG都有加長,; f. K# g7 X& P1 Y/ I+ C
SCG約為DCG的一半,HBM可過+/-8KV, 但MM只能過+/-300V,
; J; E  F( Z/ S7 q% X+ O: O! r有做delayer, 發現是死在source與poly的介面, 請問為什麼?
9 U# c$ ~! m( x% L! I+ P知道答案的大大,請為小弟解答一下,謝謝!
8#
發表於 2012-4-29 16:54:08 | 只看該作者
看一次看不懂..看第二次
5 ?" F, J7 y3 A( _5 b6 ]看第二次~不懂還是不懂~等遇到才知道
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