10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會

amatom

活 動 日 期	2011-10-13
報 名 截 止 日	2011-10-07
人 數 限 制	120人
活 動 場 次	台北
活 動 地 點	維多利亞酒店 1F宴會廳 C廳 (104台北市中山區敬業四路168號)

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DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會		通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。 * H6 a+ h, O, Q$ u! F8 ]		隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。
08:30-09:00 . C1 {" I% h- q6 ^. c	Registration and Welcome	13:00-13:30 ! r0 K$ E+ Y4 n0 m5 e% n	Registration and Welcome 1 M9 w3 k' i/ {
09:00-10:00 1 u6 X) \/ V0 A	DDR1/2/3的電氣特性規格要求   T4 [( |, o* }! ~; P* L	13:30-14:30 ' b# ?2 Q4 D- R7 [2 L& I	速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰
10:00-10:30	DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧	14:30-15:00 3 a# O3 }* p+ R/ Q	USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程 $ g$ }4 ]; U( T" L) @7 C- v' t
10:30-10:50	Break & Product Fair	15:00-15:20 # `7 e1 @8 l* [% E5 \' D* w	Break & Product Fair
10:50-12:00	如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程	15:20-16:30	USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題 8 v% P' z  L. b  O& v6 k7 t) H
12:00-13:00 9 `( Q2 \# s1 N) k! }	Lunch + \, ?/ Y1 c# R; j+ {4 z/ ^	16:30~17:00	Survey & Lucky Draw 6 l! E# C2 q8 j) @" t

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