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原帖由 tshiu 於 2009-3-31 10:51 AM 發表 6 E1 [0 i% U' S: A/ Q7 Q4 r& ~
目前我是使用1 of n decoder解碼原本的thermometer code
: F; K) ~0 K1 X! P再加上rom based將1 of n code解碼成quasi-gray code* Y' x) l4 }# \4 ^1 W
再將quasi-gray code解碼成我需要的6bit binary code) e! s5 ?" X6 u
但是這種解碼方式似乎速度不夠快
* E+ }. F+ o0 G* w. N請問還有其他 ...
6 t, x% H+ R& {, \& G關於"此解碼方式速度不夠快"這論點應該以latency會變大來解釋會比較恰當。
) Q9 U+ W+ W% s- c% v以flash ADC為例,其速度快的原因,在於每個clock cycle(即1/sampling frequency)都可以進行一次對輸入信號的量化(quantizaiton)工作,同時也可以提供一組新的output data。但這並不代表,此每筆新的output data就是前一個clock cycle所得到的sample data的量化結果。
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# ] m; v1 ^& U( g/ ?/ B0 P舉例來說,假設目前的input signal被sampling clock取到某一個輸入電壓令為S[n],並進行量化工作(comparator array工作 => analog to digital conversion)。$ g$ S( J7 N" f9 {" V
當下個sampling clock來臨之前,若此flash ADC已將S[n]轉成D[n](此D[n]為output data,且為binary code。)。' _3 N% G j- t' ~- ]" j' ]8 p
則我們說,此flash ADC的throughput與latency皆為"1"。7 H& Y1 g; k9 U7 \ S. E0 U
同理,若S[n]轉成D[n]需要經過3個clock cycle才能完成,此flash ADC的throughput=1,而latency為=3。1 a* ~ |$ t* `$ o+ s l/ a' R
O& B! W, W4 N8 r3 {/ T因此,即使thermometer code->1-of-n code->gray code->binary code需要進行三種編碼過程,只要將D-type flip-flop插入其中,進行適當的分配(combination logic若propagation delay > 1個clock cycle, 則可插入D-type flip-flop將combination logic切割成數個區塊進行處理.)其實並不會影響flash ADC throughput。+ C; g( j, h7 p( X. l2 q. e
- g1 c _3 u% B N. G( c) V7 Y% X) @3 J0 f除非flash ADC是用於回授系統,故對於過大的latency無法接受。(假設,flash ADC是用於回授系統(例如:sigma-delta modulator, 一般僅需4bit Flash ADC即可.),通常要求的解析度也不會太高,故encoder的proppagation dealy不會太長,是可以以滿足lateny=1的要求。)/ X2 v. |& n4 j) l
# N7 M+ h6 O2 i" Q/ s1 c' |6 Q通常一般的通訊系統中,ADC只是作為analog front-end與digital baseband之間的一個串聯的資料轉換介面,故對於latency>1是可以允許的。 |
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