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[問題求助] 關於I/O pad

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1#
發表於 2007-11-6 17:23:09 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問以前受限於ESD I/O PAD
5 v2 s8 [0 I# \% o. N! X# q% T+ j- Q量高速PLL輸出常需要除頻後量測~, a7 N3 `" H; H0 C: r
不太懂現在TX打出來的data rate都是數Gbps以上* K5 C: ~" w/ i) C: Z3 o' ]& E1 Y& {& F
那該如何量測呢?8 N' Y5 {2 g7 E/ ?7 G& B
還是現在的封裝都很進步了 @@
$ }* H, d  T: T% x' s1 [能請前輩解惑嗎?
8 G1 D4 I4 |0 U4 C1 A謝謝^^
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2#
發表於 2007-11-6 22:20:26 | 只看該作者
是有可以上3.65Gbps or 6.4Gbps的serial I/F專用測試儀器或ATE (Semicon tester). 5 e! A' T4 [  i% {
只是暴力上的代價不菲罷了.
# E) a/ F! f4 Z% k
: ^" l( B2 Z+ }( H! x% M% A/ [! S9 r200MHz以下的儀器或ATE都很便宜, 這也是大家能除則除的原因.
  Z1 J( k3 S5 I5 V2 r7 l2 c高速Tx or Rx很多公司都是用loop back test在量產, 板子上搞個relay灌回去就好了,
5 |7 ?; W, p2 j2 k/ W. ~5 v1小時5000塊台幣 跟 1小時1000塊台幣的量產測試成本差很多的...  `2 i. Q+ D  q9 h" j* A
一個月出貨1 million 就差台幣5百多萬了.# s$ H, G. g2 s0 c4 L0 a
. Q  Y, r" T& V  G4 X
[ 本帖最後由 DennyT 於 2007-11-6 10:21 PM 編輯 ]
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