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[問題求助] 關於CMOS的正負Tc

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1#
發表於 2007-9-3 16:09:34 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
想請問各位較了解Bandgap reference 的大大
. ?0 `1 V- x. x之前我有下一顆BGR 8 D( G" A, ~* a- f
所以目前知道的     大部分BGR 是利用BJT~ PN接面的負Tc電壓 與 兩個BJT間的電壓差正Tc 來互相補償) c% h4 y3 ]' X% h3 v' h9 A
可是現在我在做的是paper上的BGR     他是使用CMOS代替BJT 3 c8 C5 ]- C2 E) `" A
BJT是利用Area的不同(通常是1:8)~  他CMOS是利用W/L來形成倍數
& w. W( l0 D. }1 K7 P6 _3 P& r因為是paper... 所以很多公式都是三級跳= ="  有看沒有懂
" Y) [. ^5 ?* j, J8 b, I5 n, ~3 L7 l2 f) s0 S' h8 N# X9 i
所以想請問一下大大~  ( \) r5 P1 V. b4 Z
N型的MOS如果 D、G端接在一起連接電路 (類似BJT的C腳接電路),S端接地(類似BJT的B、E腳接地)
8 e, _8 B" H* N  f( u0 j% j這樣的架構~   這顆MOS是怎樣的動作~ 產生的是正Tc還是負Tc ?2 p' G& }( [* Q4 g4 @

) @/ m% L8 s2 @/ h7 _" J, s以下是 bandgap voltage reference 的相關討論:2 d! @7 Y9 d4 _& J% t
bandgap voltage reference? 6 Z) |4 J  m8 `# k
bandgap voltage reference?
: |0 s# q! f5 B如何在CMOS process 中做好溫度感應器? 8 S. Z1 j; B& k& y/ {
Bandgap 如何做到好的line regulation? ! X  N/ v& _" H
請問有關 bandgap 內 op的 spec ....
- t* y2 v1 x, T4 n. ibandgap的模擬問題 (單N,PMOS組成) - F4 `4 W. w! [; s2 h
BandgapDC扫描温度特性时,不能正常工作
% }3 C% v  e5 j- o. t; U2 V* d1 k% x8 T8 J6 }) d2 ]5 R/ Q

5 h5 O: y0 {- e  ^1 Z! r3 f3 A" F
. z) }: V9 `6 E: b6 p[ 本帖最後由 sjhor 於 2008-7-4 09:47 AM 編輯 ]

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2#
發表於 2007-9-4 14:25:45 | 只看該作者
NMOS D、G端接電路 S、B端接地 
/ W9 H6 {. O6 a  p- I應該還是會以MOS型態動作吧 如此便是負Tc吧
+ F7 Q+ t2 k- j  y假如G端也接地的話 應該會是BJT型態 是正Tc吧
# w5 H2 N5 y, c; ?" u3 z但是我不是很確定喔

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relax918 + 2 感謝啦!

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3#
發表於 2007-9-19 17:11:09 | 只看該作者
NMOS的G接地====>那就關起來了0 p) }; ^+ G# `* G
應該是接成MOS diode的型態
, c, |7 t0 `9 l* f  Q  P  `: d. r+ x' f. q8 L
re:relax918 1 p$ {: p" h, b( y. L* q) o
可以把你找的到paper提出來,這樣比較好解惑
4#
發表於 2007-10-1 17:36:11 | 只看該作者
"N型的MOS如果 D、G端接在一起連接電路"
$ J$ k& h. _$ {3 A- d這種架構就類似於Diode-connected Transistor
9 R! o8 V! d7 N0 v, `1 _二極體接法形式的電晶體6 z2 O# ]" u6 Z) Q6 [3 P, a5 k8 x
這樣子接~也是呈現負溫度TC的VGS值
! Z( l8 R" A+ X* t. x* F0 q5 T: {但是操作在"次臨界區"或是"飽和區"
# s- x2 P4 h; m1 n' a, k. n) Y1 a8 A公式的表示方法也不一樣
% v3 |; V/ q6 P) W0 ~% S操作再次臨界區時,CMOS的特性跟DIODE是類似的
4 k% k; b* j: n) _
; f% S. H5 B; y1 A! G而一般bandgap 用的BJT,也是把B,C接在一起
7 X- w$ V' d3 q" ?利用P-N junction的特性而已8 t, B6 }' r5 u3 O- n2 ?
( b. E$ u# C3 ]$ `8 ^
所以就特性來說~~用CMOS做成的P-N Junction
2 w- }+ Z) c& A' u9 U* R應該也會跟BJT做出來的有類似的效果
/ o* p! K2 X( d) b6 t, v! x- Z; E3 z* j( a) p' y3 x$ N, z
但是何者較穩定就不保證了
% ]8 o) d5 D% |( }+ W& ?* z3 j" j% m/ ?) x- F5 @- E' i6 G0 H
因為就我之前的經驗~使用CMOS做出來的bandgap reference
$ L' R0 ?% o6 I它corner間的變化會很大,所以業界據說~還是偏愛使用BJT
5#
發表於 2008-9-1 16:00:11 | 只看該作者
一般做bandgap的管子实质就是个N结了,mos是将d和g接在一起,bipolar是将b和c接在一起了,这样主要是利用了pn结的负温度系数的特性。
6#
發表於 2016-5-15 10:00:53 | 只看該作者
為什麼不採用BJT類型的BGR呢?省電因素?
7#
發表於 2023-11-3 01:57:15 | 只看該作者
ywliaob 發表於 2007-9-4 02:25 PM; ^8 b9 H$ T9 |, d5 H9 H: ?
NMOS D、G端接電路 S、B端接地 # N3 s" R1 @* ^% G0 e
應該還是會以MOS型態動作吧 如此便是負Tc吧3 T, {# i9 H' t( J- N6 o2 u
假如G端也接地的話  ...

8 a2 b! U9 @, L7 z0 o感謝拉感謝拉感謝拉感謝拉感謝拉感謝拉感謝拉
- U& G2 @! h/ x  U  ~/ |
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