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活動網頁 - ni.com/taiwan/sts2010
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* B& p! }. ]( t& Y半導體晶片設計愈趨複雜,不論是對於 IC 設計公司或封測廠,甚至是對於開發測試系統的 ATE 供應商而言,都面臨了比以往更大的挑戰。如何為半導體產業提供一個更開放、高彈性與客製化、降低成本並提升效能的解決方案,便成了現今半導體驗證與測試領域的重要課題。4 u' L# }( n8 k# Z
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本論壇由美商國家儀器主辦,集合國內外知名專家與廠商 (Tektronix, TERADYNE, Chroma…等),針對半導體產業的驗證與測試做深入探討,從標準 (Technical Standard) 的相容性測試 (Compliance Test)、 IC 訊號的特性描述 (Characterization) 或驗證 (Verification and Validation)、測試系統的建立到 RF 領域的半導體應用案例、現場量測 (Field Test)…等,提供了各面向的探討與剖析,也建立了產業界彼此交流及學習技術的機會。
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活動焦點:
7 b$ y5 y5 z+ `9 L8 f" j#剖析半導體驗證與測試所面臨的挑戰與未來趨勢0 ]2 P2 c6 W. A
#學習最新的類比、數位、混合或高頻訊號等測試技術
- P* b( m+ o0 Q0 J* b' L5 s#從相容性測試、IC 驗證與特性描述、量產測試到場測,提供完整的講題內容5 d5 }+ j6 H- t1 q" q9 C0 @7 A! Z
#了解最新半導體測試系統展示與業界解決方案
' {2 M( e( k c0 F! V+ _) H6 Z$ s* ~4 D邀請對象:' v. E7 {, j! M- x7 J
# 有半導體驗證 / 測試 / 訊號量測等相關需求的工程師、主管或經理
/ v' i$ ^$ }4 l- C, Z" t#IC 設計公司驗證 / 測試工程師0 ?! ?3 ]: W! Q- l1 y: h! U
#IC 測試廠測試研發工程師
, @& i5 b- }; G#半導體測試系統設計 / 開發工程師
& p5 K Z6 a( t+ x#ATE 設計 / 開發工程師! ^1 u ^/ E- [# Q
#模組 / 系統測試研發工程師/ ~3 W/ W- h" C
#RF 測試工程師8 n& Z* h; i5 ^1 y( o$ R9 }; c y
#半導體元件 / 晶片 / SOC / SIP 測試工程師
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: k0 ~$ V8 b. a* }, D# f) e) Y詳細內容請看活動網頁,共有超過10個session,10家公司以上,超新的主題(RF, mixed-signal, 3D video, USB3.0...)
2 ]3 E4 a& b3 `5 w* g. Z免費還抽大獎喔!!!!, i0 b0 Q2 F) v7 X" |; o6 o4 [7 [
, M% R! M' s2 Z9 j+ Q3 c4 a7 \有需要半導體訊號量測.驗證.測試.RF平台建立的工程師千萬不能錯過!!!!! |
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