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[問題求助] 請教兩個關于ESD的問題

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1#
發表於 2008-11-29 11:40:06 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?/ D- P7 K; e- p( l  z. l
第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試
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2#
發表於 2008-12-2 21:21:42 | 只看該作者
原帖由 hvpower 於 2008-11-29 11:40 發表 1 ^- `8 r6 ~, U( F0 q
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
+ w2 L6 P% U# \% @6 B" `1 w* R2 a第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一 ...
0 ]; ~7 l' u, Z) M7 N& H# ~2 \) s
4 l5 q7 c5 e# ?9 ~
我是这样理解的:6 \6 {5 \+ ^/ A$ F% M6 k3 s
第一個:输出PAD也要做ESD保护,否则这个NMOS管也容易损坏6 |( Y- \- ~8 k, {! i
第二個:这是根据ESD测试标准来测试的,引脚由我们提供,测试公司只负责测试;
6 }+ U4 S& E8 b0 c) Q% _9 K        我们选择一些具有一些代表性的引脚出来就可以了,不需要每个都测试;
3#
發表於 2008-12-11 13:56:32 | 只看該作者
进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I╱O引脚会进行以下六种测试:2 ]& c! }# j; C6 x, p- U$ E( u3 W
1) PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;* |8 D; y$ s( ^  f  t, M
2) NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;4 {4 Z8 x+ K6 ?3 \
3) PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;
$ U0 A9 g1 J3 Z& Q8 L9 R4 Q2 ~4) ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;
! a1 p& F( e: a( S5) 引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空;: O/ g- z2 h9 x
6) 引脚对引脚反向模式:引脚施加负的:ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。
$ n9 P- }' w( b$ F* L# U+ P0 L/ V" eVDD引脚只需进行(1)(2)项测试+ O4 c$ ?" |8 k* D8 k2 |9 n" Y

- L6 X. g6 I  n0 i, l/ W9 D/ H应该是one by one 的测试,管脚多的话,排列组合就多,很费时的。
4#
發表於 2008-12-11 13:57:33 | 只看該作者
第二个:ESD测试都是有参考引脚的,也就是说某个引脚的ESD测试不是孤立的,而是相对于某个引脚的ESD电压,通常是对电源和地。因此,ESD测试都是一对引脚一对引脚地测试的。ESD测试还有不同的模型,如HBM,CDM等
5#
 樓主| 發表於 2008-12-22 13:50:21 | 只看該作者
THANK YOU  ABOVE  
6#
發表於 2008-12-22 18:30:52 | 只看該作者
It must be tested one by one.  Or you may miss something?
7#
發表於 2010-1-12 18:22:13 | 只看該作者
1. 只要是有跟外界接觸的針腳都要加ESD保護電路/ R6 d1 u$ q: {# ^* J: A" t. v
2.每隻針腳都要測試 一根一根來你可以看JEDEC standard 
8#
發表於 2010-1-20 16:17:25 | 只看該作者
回復 7# wesleysung - |8 P" h+ y# ]

" T$ T4 t" T0 D/ t! D0 l8 Y/ P第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?% C. [( l; u& S7 c% n7 w$ L

8 j& }; y9 r& H3 y6 K7 U每一个与外界相连的PAD都需要加ESD保护,无论是input,output,power pad.4 H" W6 ~4 _! s
( e# B7 @& @4 s2 M: S
第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試。. |* S8 O( P8 x, H. P2 J
& {8 H9 n& x2 W4 V$ D3 O& q
只有严格按照JEDEC 的测试要求才能准确地反映IC 的ESD能力。8 }; q1 U) H3 D
每一个power pad VS. 每一个power pad;
9 a  U1 |' @* [每一个I/O pad VS. 每一个power pad;4 b. z' s( U# o
每一个I/O pad VS. 每一个I/O pad
9#
發表於 2010-1-20 18:45:12 | 只看該作者
看了這些文章
  N& {8 p2 n: _! O! F, d2 N對esd protection又有進一步的認識了
10#
發表於 2013-7-15 17:11:15 | 只看該作者
每测一次,都要换新的IC吗?
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