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进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I╱O引脚会进行以下六种测试:2 ]& c! }# j; C6 x, p- U$ E( u3 W
1) PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;* |8 D; y$ s( ^ f t, M
2) NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;4 {4 Z8 x+ K6 ?3 \
3) PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;
$ U0 A9 g1 J3 Z& Q8 L9 R4 Q2 ~4) ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;
! a1 p& F( e: a( S5) 引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空;: O/ g- z2 h9 x
6) 引脚对引脚反向模式:引脚施加负的:ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。
$ n9 P- }' w( b$ F* L# U+ P0 L/ V" eVDD引脚只需进行(1)(2)项测试+ O4 c$ ?" |8 k* D8 k2 |9 n" Y
- L6 X. g6 I n0 i, l/ W9 D/ H应该是one by one 的测试,管脚多的话,排列组合就多,很费时的。 |
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