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[專利探討] 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

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1#
發表於 2011-12-2 13:52:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
●主辦單位:工研院新竹學習中心 * r- Q4 y# \6 G3 P. K' U& a
●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天
7 w) j$ {9 |( d2 t' F2 J●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館)
4 {, I% [$ H6 @( L& r●課程費用:5,000(含稅) ( I4 w. V7 z* r2 u
●報名截止日期:100/12/01(四) . a$ V' H; g  R! q9 {4 u+ k; `
●開班人數:10人以上 (最低開班人數) 1 a) m6 y" _- b
●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。 # `- Z" G/ P- y" b4 @" S) l4 V  I; V
●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網' D4 _$ W3 K8 k- e
1 b: J: a' M2 f5 ]% e
■課程目標
2 C8 m) C. x# K# C, N8 T3 [1 W! m% p6 u% q" I: y
本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。
3 L" r% M' \$ W3 A3 F
/ \& H) p% L* t( R■課程大綱# u0 p  X/ r# D% y: ^
第一天:12/08(四)9:00~16:00 $ n* `9 E# w3 w. |9 K& h4 T
專利檢索入門與檢索規畫 7 D1 ~( j6 s7 E) q2 b
免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲)
0 m+ \; c! y! T3 K9 L8 O; q6 O. s6 B專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則
$ `3 @2 d% q" t8 H; x4 S8 R) V
- G) L6 o" Y/ k& ~! N! y第二天:12/09(五) 9:00~16:00 ! K, {+ z' J3 D7 L
專利分析可提供之情報
( x) g3 C) V  g* \) X專利地圖試做範例 # F1 u6 u2 Z+ X8 Q: u
進階專利地圖解讀、分析與策略擬定* O9 n' J# t9 |; Z5 M( ^) w
*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
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2#
 樓主| 發表於 2011-12-2 13:52:49 | 只看該作者
■講師介紹' |1 k4 z/ p& \+ e
吳俊逸 博士
0 I8 o" _7 V3 J$ T在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。 ; Y, A3 Q+ Q5 P. I5 R2 K0 t+ r
現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理 " }. C0 d6 a7 v2 W) K- a
學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士 ' H9 V* l8 i, t- U  J3 V
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士
- p$ B9 q2 E/ d! |
6 k( E4 t- \7 h7 t, s: U專長與經驗:
& p( K6 J7 z- t9 E; h! i7 J0 U 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
+ k  @6 n8 Q+ \& U" g, D% \- a6 V1 m 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June).
1 s, \/ R) Z1 J2 S 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010).
: ]# J) P. G% O1 ]2 [2 g 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010).
  Y/ [5 @& S+ n: ^1 o
+ _9 _5 Z& p/ A% ?' [5 T' a經歷:
* H8 m- n; K+ ~; W$ _  t! _# @8 h. v0 L. ^7 ^/ D- _2 t0 `; z, V* K
工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 ! i% G+ f- f6 w9 q' W+ r* @/ Z
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理
9 \  O: n7 f& ^6 W國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
3#
發表於 2012-6-20 09:28:50 | 只看該作者

資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」

(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。
  x# X! Y4 n( V( w' [2 |0 E, g5 W
; A7 E) ]2 p# \; r& j為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。
+ r  r6 w6 q( w1 O! K; y- W# G: S: w- {% y2 F! K
本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。, V; w2 D9 A) j- }+ l+ W, n
1 U$ {/ T: s$ p' [' f9 U6 m
訊息來源:財團法人資訊工業策進會
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