我不知道你在模擬時有沒有把電阻也用Fab所提供的電阻model 3 s' E" z! [4 w1 e9 }9 m( W因為Fab所提供的電阻model會有電壓係數和溫度係變,在不同的電壓和溫度變化下,特性會有些微差異; f7 V( z. s. F
而CP trimming的值是在固定某一個溫度下做的,故而無法做到從負溫度掃到高溫的情況 * d s4 i8 ? V Y5 t3 T* S以前,我們是拿IC進烤箱去量測,從-10度開始用人工方式量測,每次調高10度變化,一直到80度7 {4 C* q5 ^' H6 P
因為這種方式無法用CP去試,故而只是用於工程驗證,且只用於少數幾顆IC