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[問題求助] 【问题求助】一个关于bandgap量产测试的问题

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1#
發表於 2012-2-29 20:18:06 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
我设计的bandgap在做simulation时,各个corner下都能稳定在标准电压很小的范围之内,但量产测试却发现输出电压非常发散,偏差达到了正负3%。我在CP测试中通过trimming将电压搬回到标准输出电压附近,但CP后的温度曲线形状也是很发散的。请问有没有办法在CP测试中将温度曲线trimming到一个合适的形状?如果不能,大家是怎么解决这个问题的?
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2#
發表於 2012-3-21 07:12:02 | 只看該作者
我不知道你在模擬時有沒有把電阻也用Fab所提供的電阻model1 c! c) G  X: `, ~( d" H! t$ L
因為Fab所提供的電阻model會有電壓係數和溫度係變,在不同的電壓和溫度變化下,特性會有些微差異- }. J  Y" Q4 k1 A
而CP trimming的值是在固定某一個溫度下做的,故而無法做到從負溫度掃到高溫的情況1 g' ?0 V$ M9 U- R7 \3 s" f* K4 \
以前,我們是拿IC進烤箱去量測,從-10度開始用人工方式量測,每次調高10度變化,一直到80度$ _/ N( ~  i1 M8 m& m- Z7 x/ X
因為這種方式無法用CP去試,故而只是用於工程驗證,且只用於少數幾顆IC
3#
發表於 2012-4-13 19:52:02 | 只看該作者
回復 1# ycheng ' Y9 L' {# z. w7 g3 m

$ p" W: ~' W" }  p5 x; Z! Y$ E% H; b* K
    其实3%是可以接受的啊。如果要求高,要每个都修的……
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