10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會

amatom · 發表於 2011-9-28 14:29:40

活動日期

2011-10-13

報名截止日

2011-10-07

人數限制

120人

活動場次

台北

活動地點

維多利亞酒店 1F宴會廳 C廳 (104台北市中山區敬業四路168號)

DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會		通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。 8 ~3 \|) K. H$ Z" w H6 j% `		隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。/ m* b O5 O+ V3 }3 t- T
08:30-09:00" p+ ~2 T. v. e0 o; u) G; ?7 l	Registration and Welcome ' X' V. _6 [. b8 G- g, `$ Q	13:00-13:305 M! L- U. e5 N6 o, q	Registration and Welcome' P6 y/ Q9 P9 c0 G6 ^( S
09:00-10:00" Q* M* l9 {3 {- ^3 \|	DDR1/2/3的電氣特性規格要求 ( ]' W5 \|5 M1 z3 m5 F	13:30-14:30" ]( j/ q4 n; T% S* K	速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰3 ]8 a7 K1 K6 }6 o
10:00-10:303 @ a( N Z+ i+ i& l	DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧5 m$ x& O$ _2 L( I	14:30-15:00# T( R$ q$ ^& V) m) q& F `4 E	USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程% V0 N& ` u2 y' ~) g
10:30-10:50 : c3 @0 Q, \/ w% t& e+ h	Break & Product Fair2 [/ C% _: U# d/ ?	15:00-15:20; o9 N/ z: \6 o0 H: {. T- j8 c9 \) w	Break & Product Fair 8 ]& i! B; t0 v& z
10:50-12:00 $ x3 y1 ?* v. \/ ~" y# w	如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程) K1 `& d( N) @6 Z8 h8 R) @& i; q	15:20-16:30( ?6 x1 u; f* C! q* h X, U	USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題7 v5 z2 [% o( q/ ]7 b
12:00-13:00( H* I+ m% b; U g0 n+ C4 R. E* d	Lunch ( _5 r: y7 a9 W, _5 h: ^) G y	16:30~17:00 + L/ i e5 M/ r5 P) V& @+ b6 B	Survey & Lucky Draw ( H9 ]$ S5 S- K [

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[好康相報] 10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會