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[問題求助] 針對IEC6100-4-2的on-chip ESD 保護設計

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1#
發表於 2008-12-30 15:56:44 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?" u/ K, |% }* X5 U8 \4 b9 W' D
有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計? $ }4 a4 y% F+ y3 W
我個人認為當IC 啟動的時候,所有ESD Clamp 和ESD diode 是完全在關閉的狀態,所以即使hbm過了+/-4kV,system-level亦不一定過+/-15kV( X1 `8 a1 Y- |; D. ]
我的想法正確嘛?
- W$ w  R. P& O2 l" C" s; T" ^- h. l8 D謝謝....
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2#
 樓主| 發表於 2009-1-10 00:40:29 | 只看該作者
好像沒有人遇到這個問題.....% K$ g- T! R  B2 @, {
這兒有沒有人負責IC ESD 設計?
3#
發表於 2009-1-17 10:54:01 | 只看該作者
System-Level是說沒有機殼的搭配嗎
4 v% ]. [; P" d' r目前這樣的問題+/-15KV也是diode的設計基本值了* B$ J# V8 ]$ I& O
所以越好的diode啟動保護越快效果越佳# I& W6 c# s" D5 W( I* y' ]6 u
但因為是limit值所以會有穩定的誤差值9 Z9 ~" ^7 L: H, U" D" Q7 y
大部分要搭配機構去防護
4#
 樓主| 發表於 2009-1-19 15:09:34 | 只看該作者
是呀, 沒有機殼的搭配, 只是加上一些PCB的external component,我們的客戶說打ESD GUN 是把我們的IC被打死,要求我們改善.
. i0 c8 P* ~0 g# [請問你所說的didoe 是IC PAD 內的diode,還是IC 外的TVS DIODE?" }2 d+ @. p; i; g2 {8 c. D" s# I8 E
客戶不用TVS
5#
發表於 2009-1-20 16:04:30 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2008-12-30 15:56 發表 5 @2 Z7 L9 l2 I! Y( Q
請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?
, F" G" y3 o- Y" J* I# z8 R( x9 u有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計? / w& {: Q4 ]1 [& S/ f! I
我個人認為當IC 啟動 ...

( I& }' v& c$ G! v  H/ k8 V: A5 i5 t+ {" ~1 u9 ~
我有过这方面的经验,我们的片子hbm-6k没有问题,system level 15k也没有问题,外部没有加任何的钳卫器件。不知道你的片子里面用什么样的结构,不要用gcnmos,ggnmos可以用但是目前看来效果不太好,scr的效果很好

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semico_ljj + 2 + 2 对大家有帮助。

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6#
 樓主| 發表於 2009-1-20 18:56:37 | 只看該作者
請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了: H8 x) a9 f/ A% T
ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS
7#
發表於 2009-1-20 21:08:46 | 只看該作者
"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?
8#
發表於 2009-1-20 21:10:46 | 只看該作者
SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。
9#
發表於 2009-1-21 11:42:24 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-20 18:56 發表
. @7 Q0 p- G" }2 I% y請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了
, m1 {* _% f5 j, ]" f8 ?ESD protection 則用PNDIO  ...
) t3 y0 m) s6 g6 M* b
我们的pin比较少,没有像你们的那么多,不过那个成功的片子用的是scr结构(完全利用其击穿机制,没有加任何的detection circuit),是自己做的,代工厂没有提供相应的参考结构,现在已经量产,也做过相应的latch-up实验,并且pass.不知道兄弟用的什么样的结构,可否详细的描述一下,如果可以,我愿意尽自己的微薄之力的。
10#
 樓主| 發表於 2009-1-21 11:53:47 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:08 PM 發表
* b4 c! |( D1 \4 X5 O8 V7 U"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?

  W  v; @3 m& w# z這是代工廠的建議& r4 M8 N2 S5 j/ ]) ?  |
而我們則覺得它是最省空間, 我們的ESD design 全是custom 的, 沒有用代工廠的標準IO library
11#
 樓主| 發表於 2009-1-21 12:02:24 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:10 PM 發表
2 L1 Z2 G5 e/ OSCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。

" x0 D8 u. S3 G: ?SCR放電的能力是非常好,但它對Process的variation亦非常敏感,所以我們都不會用..大家亦不希望量產時有任何失誤而賠錢...做研究就好,用在產品就免了) O: o  O" n- L, S8 i3 q# O, @
但我聽說大陸有很多的設計是用SCR的
12#
發表於 2009-1-21 13:30:29 | 只看該作者
SCR也试着做过,HBM效果很好的,但是不敢推广!呵呵,“Process的variation亦非常敏感”,想挑战8KV以上的可以尝试
0 ^% T; M( `; u  H4 P$ Y9 h$ f& @& l- H5 E8 f
[ 本帖最後由 semico_ljj 於 2009-1-21 01:40 PM 編輯 ]
13#
發表於 2009-1-21 16:45:25 | 只看該作者
关于芯片级的esd,我们同一个片子做过ggmos/gcmos/scr三种结构,也有过相应的验证,HBM8k没有问题,但是拿到系统级上面,ggmos/gcmos无法满足客户的15k要求,只有scr结构能够ass,而且我们选的工艺比较稳定,所以选用了scr。个人感觉,pass15k,常规的esd结构很难,其中gcmos的结果最弱(有实验证明的),ggmos居中,scr最好,关于PNDIO + RC-GTNMOS,我没有用过,但是根据别的项目的经验,貌似想pass+/-15k很难

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semico_ljj + 3 + 3 细致。

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14#
發表於 2009-1-21 20:38:01 | 只看該作者
代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。
7 B. Z$ l. H3 }“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开启速度比ggmos快,应该比ggmos更好才是啊。SCR当然是最好的!: u3 S. i# N2 A. a( w
pass 15K 是什么标准要求这么高啊,以前没做过。
15#
 樓主| 發表於 2009-1-22 11:02:33 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-21 08:38 PM 發表 ) @3 z' p3 M2 |% p+ Z
代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。
( _" H" a2 z* I5 \9 @“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开&#2155 ...
2 G& ^  b! a2 N
如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右.
; b. m; \; r6 r
( t% r( O3 p6 N1 Z; X0 W: l/ \" B15k 是IEC61000-4-2是system 上的ESD 要求
" \! }% M3 q/ j: W3 C! L( ]Air discharge 一般要+-15kV
& T5 l9 O8 O/ k: VContact discharge 一般要+-8kV1 ^8 E9 e- h2 [0 y
這個跟JEDEC/ESDA 的HBM standard 是完全不同, g& C" H, B* Z* d( p

$ `/ y, S6 i0 j' i[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 11:06 AM 編輯 ]
16#
發表於 2009-1-22 11:17:29 | 只看該作者

回復 15# 的帖子

"如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右."这句话有误!实践证明,foundry提供的只有DIODE的标准IO,可以通过至少2KV∼3KV以上!到了亚微米的工艺,厂商就是推荐直接采用Diode的ESD保护。
1 F! ?$ b( Y) P* y* [8 gDiode到底好还是不好,大家可以进一步讨论。
17#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:30:20 | 只看該作者

回復 16# 的帖子

那就奇怪了$ V* y0 f- Z+ `/ {, u. t! F
我對標準IO 的了解不是很多,所以不知道它除了diode以外還有沒有其他的配套
. y9 q- t0 i- l% L6 dFoundry給我們的ESD design rules都有提到,如果I/O 用diode 的話,一定要有power-clamp- \; a7 Y4 V* R1 o, Q# u( B$ ~5 M
而在我們的產品內,power clamp 的設計就是GTNMOS
* Q8 P, i4 R: n5 M) z4 Z
. Y/ ~8 {2 }4 ][ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 01:42 PM 編輯 ]
18#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:40:34 | 只看該作者

回復 13# 的帖子

你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?. f7 F0 b0 ~& y- J: O0 W4 S* l. U  W
我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路
5 h5 v% I+ W! V$ o如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD
19#
發表於 2009-2-3 15:43:49 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-22 13:40 發表
2 x8 m6 F; q6 u( H4 T你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?; ?# I" u0 |4 R+ n' G1 q" n
我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路
8 P1 z& ^3 y/ e如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD
* N6 q" c: G  ~% B
有调过的,在芯片级8k没有问题的,但是系统级就不行了。我们没有做TLP,自己倒是做了ESD TEST
20#
發表於 2010-11-29 18:48:26 | 只看該作者
System level ESD 與 Chip level ESD 是兩個完全不同的規範,Syetem ESD 也是模擬 Humam body model ,但是放電能量要比 Chip HBM 大了約 5.6 倍 ( 儲能電容不同,限流電阻不同 ),所以 Chip 要直接承受System ESD 的 15 KV,可說是難上加難,一般系統會用一些方法把能量導走,不要讓 ESD 進到 IC,或是加分立式保護元件,才可能過的了15KV。
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