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本帖最後由 bancroft 於 2010-5-17 01:41 AM 編輯
: S/ R r; R. c" r- r2 }8 w! ~5 \
: R M1 `1 O( Y. p) k; @最近,設計一個Latch-type voltage sense amplifier,, U2 v% ?& }6 c; g3 Y. Z" l
即有clock先把輸出做reset至0或VDD,於另外一個clock狀態下,即作輸入電壓比較的動作。
( V$ B v( d4 h/ r. q在前模擬時,兩輸入電壓差可少到1uV都可比較出來,
' |4 J+ M6 V0 G9 ]( j0 B" K可是在佈局後,就完全比不出來了,也可以說幾乎沒功能。. w1 e |/ T& g5 X- Q
我後來測試就其中一組MOS是佈局,其他都利用schematic的狀態模擬,: a8 Z; m* d: l: R: @% y S
光是這樣其可比較的電壓差也需到0.2-0.3V左右才可比較出來。
7 W8 d2 t0 H) n2 c* [後來發現相對的MOS其走線要一模一樣才會比較好,可是還是沒辦法像前模擬一樣。9 X; C8 H. w# ~- Q# O0 @% U: e
可是如此一來,也不能做同重心的佈局,即會有製程濃度梯度的問題產生。* q: o6 R$ L# b2 ?4 R' t2 p) N
所以不曉得一般動態的比較器是否才會有此問題,9 R9 W3 w( @3 a& j
因為之前用過對於一般不是動態的比較器,前後模擬也不會對於走線的匹配那麼的敏感。
6 i' \9 R& e y0 U3 g# H即使利用同重心佈局,不是動態的比較器其結果與前模擬也不會差得太多。
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所以想請問各位大大,到底是什麼問題,還是對於動態比較器的佈局應該怎麼做才對?+ H2 f& ~* q& X: L6 G9 X2 Z
另外對於動態比較器可以去測其增益為多少嗎?因為是clock控制,不知道怎麼去測增益,) o4 O$ \2 b! o- i; a8 l
還是要根據比較器最小能判別的電壓差,然後跟據VDD的值,去反推增益嗎?
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! F# l$ H) r( V: D/ C5 O t我想在請問一下,於latch-comparator前一定要做pre-amplifier嗎? ~& F, \; {! o! E" C+ k
於其面的模擬中我沒有設計pre-amplifier部份,就直接是動態比較器的主體,這樣會有差嗎?: i4 z6 s* ]8 Y# Q! P
6 Y4 @6 G6 u8 z( R麻煩各位指導,一直很苦擾,不知道怎麼解決此問題,謝謝! |
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