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[問題求助] 關於I/O pad

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1#
發表於 2007-11-6 17:23:09 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問以前受限於ESD I/O PAD
5 R4 r- b/ v! Q% t% D' Q! c量高速PLL輸出常需要除頻後量測~' r: X) D- k5 k) X! B
不太懂現在TX打出來的data rate都是數Gbps以上( Q5 X1 A- G5 U
那該如何量測呢?- ^) D& t* P* B7 ^& X
還是現在的封裝都很進步了 @@
( ?4 L4 l8 @' x能請前輩解惑嗎?
0 [+ P2 b. H' a8 S- Y6 r* ~, s謝謝^^
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2#
發表於 2007-11-6 22:20:26 | 只看該作者
是有可以上3.65Gbps or 6.4Gbps的serial I/F專用測試儀器或ATE (Semicon tester). & u: W% C- G" P/ z( a3 y4 ?2 d. O
只是暴力上的代價不菲罷了.1 D0 n3 F* u" X9 `8 {6 c/ f( z

* `, R; U" c, P- g0 I. y5 o8 I  h200MHz以下的儀器或ATE都很便宜, 這也是大家能除則除的原因.5 p/ a; c5 E# C2 N9 M+ B- @* }' t
高速Tx or Rx很多公司都是用loop back test在量產, 板子上搞個relay灌回去就好了, % D! u/ n6 r5 E7 `0 n' s# L( Q- O2 d
1小時5000塊台幣 跟 1小時1000塊台幣的量產測試成本差很多的...( l) u+ b; _) B/ Y/ ]
一個月出貨1 million 就差台幣5百多萬了.
& T9 h0 z' Y2 c7 o& b6 c- U' W
1 z2 z2 W+ H- m& G5 E$ ?8 m: ]3 e3 ~[ 本帖最後由 DennyT 於 2007-11-6 10:21 PM 編輯 ]
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