測試工程師面對數位RF技術的難題

jiming

數位RF技術的提升在消費者需求逐漸增加的刺激下，不斷向前邁進，同時也引領無線通訊的快速成長。然而，測試工程師卻面臨許多空前的難題，包括：

. @$ q6 u1 I$ S( ]4 `9 T; ?1.數位 RF 訊號承載複雜的調變，
2.訊號隨時間改變，從此刻就轉變到下一刻、跳頻、爆發、
3.訊號發生短暫突波而後消失...
.
.
.
3 W! n1 h* x; f7 {0 in.互通性持續成為無線世界的重要議題...
, s! D) |( A6 O  M1 b* q
這些瞬間與時變傳輸技術協助 RF 設備避免干擾並最大化其尖峰功率... 測試工程師，進來交流討論吧?! :o

數位 RF 的測試儀器不僅需搭配較寬的頻寬，而且這些頻寬還需具備高動態範圍、快速訊號擷取，以及能夠與時域、頻域和調變域完全相關聯。6.2 GHz RSA6106A 和14 GHz RSA6114A 提供110 MHz 的即時頻寬，並同時提供73 dB的無混附訊號(spurious)動態範圍，所以對於各種RF 應用，從先進的蜂巢式無線電的功率放大器，到最新的脈衝雷達訊號等，都能完全符合產品在應用上的需求。

Leo

確實! 對於日益複雜的RF訊號, 一直以來對工程師來說都是嚴苛的挑戰, 小弟也很好奇一個測試工具到底需要具備麼條件? 才能稱的算是"好的"工具.

) n* C4 p4 c# D: z* Q+ p"速度"算是決勝的關鍵嗎? 還是...

ajay168

個人覺得一般的儀器都能滿足測試特性
* [- g* F. w$ e3 R$ y' }問題在於整合性問題
6 y* A- X$ k( M$ d% o個人最近一年在研究使用LABVIEW來做整合
+ [3 G1 i# n& E* ?發現它可以做到的事太多了
: `$ D/ L/ ^1 h只要擷取一小部份訊號加以運算就可以得到令人滿意的結果
# i9 C- n# S4 ^0 q" d當然長時間追中;存檔這都是必備的
而且它相同的硬體 可以做多變的組合 符合眾多不同樣式型式的產品
* v# }1 J( T, v# p+ G8 i( a% G所以囉 個人見解  RD是需要學習labview的 並且精進它
我認識的RD都是很排擠它 因為認為那是現場生產在用的東西 用於研發不夠格
% C' A" I9 b  D& s0 X0 V以上為個人見解

Leo

LabVIEW確實在做儀器量測數據的整合較為簡單, 但是對於大量儀器的整合可能就沒那麼好用了喔! 對於此類的應用, 一般大多使用LabvWindow或是VC...來控制才比較會有系統些

DennyT

恩, Chip designer不喜歡Labview是因為好不容易等到test chip回家了, 用上手的通用型儀器比較快
$ V( `; A; T2 N* W7 e( DLabview還要寫寫修修, 等不及了.
/ M. b% g* n; R7 F+ y; H* \
通常Semiconductor test engineer用的是ATE (Automatic Test Equipment 半導體自動測試機) 的專用
; u$ D- [$ A5 @4 P( k控制語言 (一般是以C/C++為基礎, 近來也有Teradyne改用VB, Credence改用Java), 求的是執行效率
) ]. W2 V" w( Q; E以降低IC測試成本, 一般ATE內的儀器界面也不是很常見: VXI 或 自訂特殊規格, 求的是data throughtput
3 S9 v2 n. E, d* e: A3 G- _/ X最大化, 以降低test time overhead.
+ G( S0 D. e* K$ j. O; I+ }& E
  f% n3 Z% R! b5 B1 OLabview比較常見的應用經常是系統組裝後的整機測試, 透過GPIB, RS232 or Ethernet (LXI) 控制各通用
儀器的啟動順序, test burst launch, go/ no go display, 因為由不懂電子的作業員操作, 所以會在PC host
上寫一個簡單的user interface: 開始start buttom, 結果視窗go/ no go diaply.

- c9 M4 t% \1 a而Labview另一個大應用: 工業控制, 因為個人不大熟台灣的整合設備製造商生態, 所以就不便評論了.

: T& R/ ~7 e) L********************************************************************************
1 r+ F# l! q  X  y$ @2 o
至於樓主說的RF的digital modulation不斷日新月異, system測試工程師的挑戰不在於技術面, 而在於預算
因為在再新的RF modulation scheme, 到了台灣時也差不多有一段時日了, 各大儀器供應商早已有了
3 [* T9 O5 U+ C$ g% gsolution, 有的是在舊儀器上加HW or SW option, 有的是直接推整台新的set, 這時只有請vendor demo後,
向老闆提預算買solution的事要做了.

4 F" @% p0 [3 D1 X% j而IC test engineer要做的也不多, 反正把chip切割成digital, mixed-signal, RF三大塊後, 各把各sub system
3 w: x$ r% ~# b. [# h測試完畢就了事了, 沒人教你硬要用RF in/ RF out抓data測system prformance, semicondutor testing的
真義是把fault chip screen掉, 不是照datasheet item by item verify IC, 反正抓大學教授是否酒駕, 不用叫他
解一段傅立葉級數, 叫他順著直線走一段路就知道了.