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[專利探討] 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

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1#
發表於 2011-12-2 13:52:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
●主辦單位:工研院新竹學習中心 ' _' L- k: n. n; Z$ o- ]- Z$ r5 a
●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天
) a; c. O/ v1 k●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館) ; g! b7 q+ _; ]6 ~/ ?& `9 @2 f
●課程費用:5,000(含稅)
# a8 R0 ?$ z/ N●報名截止日期:100/12/01(四)
7 _1 X- }  _+ [●開班人數:10人以上 (最低開班人數)
+ V4 P; R0 g4 p2 A6 V●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。 0 y1 F; w) P' g6 p
●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網
: b  f7 v% ]- q/ y! J2 Q: q( h) D# L1 Z' C- N$ F9 m
■課程目標
* A/ Z  `' a7 Q0 F+ X7 ~. Q$ o- W1 L8 f: n7 D( o! f
本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。
! E9 R: Q4 v. d. ^$ M2 Q' M( D" p, ~8 U, j0 Q. i  Y
■課程大綱+ y7 K9 @% K" q7 s  E$ s( _/ V
第一天:12/08(四)9:00~16:00 ) j, J- o$ y6 u; k  ]
專利檢索入門與檢索規畫
& R6 l+ d% o( G+ {1 k" S/ Q4 q免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲) / N  F0 s& U* O
專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則
( k( l3 C$ |' {( D; i6 Z) S! a; l5 I! O; f6 \5 R( {2 a  ^
第二天:12/09(五) 9:00~16:00
" @( V; t) L' Y專利分析可提供之情報 ( a4 _4 k/ t! P! z3 |: B
專利地圖試做範例
! W! G1 e" s- n* _4 f& A進階專利地圖解讀、分析與策略擬定
) Q' L8 b; U) a& t9 u*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
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2#
 樓主| 發表於 2011-12-2 13:52:49 | 只看該作者
■講師介紹8 U4 p/ z$ F9 T3 K) y0 r
吳俊逸 博士' H5 d+ N3 w+ {) T# K5 y
在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。
( f3 w/ ]# h# V3 m9 L3 k/ m- ]現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理 ( ^+ g+ _* W4 V4 ]
學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士 3 J: s6 j' l, i8 A4 N; G6 t, q
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士
: I, y; X5 k& ?; {+ Y% o
: k0 V) p; D0 D' ]- x# y專長與經驗: + n/ c3 G% M  a2 D' T, k
 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
; {% r# d! P" ?8 M& j; f 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June). * `' [% l+ I; D) F+ c, f/ K
 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010). ) W2 x, t  p5 K4 u
 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010). $ Q( ]5 y' T0 ^' b
, z; e2 c# H% D, P; }
經歷:
5 t5 g3 Z( `1 E$ p
4 V: v( ?/ j1 d  U  p# W0 e9 F工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 1 E+ K- T: a8 U! I4 W9 J3 x+ }1 _2 o
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理 8 X( K8 A- r6 i8 n3 \& I3 n9 B6 i* \
國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
3#
發表於 2012-6-20 09:28:50 | 只看該作者

資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」

(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。; Z4 J! ^/ e4 V2 E4 l- x; w4 l
: g, O1 }. E; b7 ]  A& |
為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。4 Y0 R; ^8 h& B! [+ |

0 u# ]; r  C! Q本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。
  s( n4 r/ q) D1 P% ~6 I% H
* P; C2 g% T( Q0 v: W- K6 x訊息來源:財團法人資訊工業策進會
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