DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會 | 通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會 |
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。( I2 \8 w: Y& W: l' g$ \" F
| 隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。' O# b4 T# E& e) J$ |( m
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08:30-09:00$ z# o' s @+ K/ g
| Registration and Welcome. L4 n4 H% z6 G+ F" r
| 13:00-13:300 g& c( m, v/ }$ k
| Registration and Welcome
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09:00-10:00
5 X2 c7 p6 @+ q7 A k" d( p) K | DDR1/2/3的電氣特性規格要求
; X# j- D9 w; E* N | 13:30-14:30
: B! w h" }* P9 n0 Z- \+ | | 速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰+ p* u; L: E) @- y( S& X/ o6 i
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10:00-10:301 @9 ~* [; s9 p! Z1 [
| DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧
9 k- }$ T' }( C5 v | 14:30-15:00
1 E* Q- D2 ]7 p3 `) a/ ?7 r3 T- Y& W | USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程# u3 N* D6 A- N: e/ d
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10:30-10:506 T7 G) s3 _4 t! i$ \9 |* Z
| Break & Product Fair/ j/ w. G# J' ]2 k, \
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| Break & Product Fair
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10:50-12:00; |: b& c& k! g) |9 `
| 如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程
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| USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題- W1 J2 ^ g# x7 S" l! `! L9 |
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12:00-13:00
2 Z+ S# z/ ?) Z; [ | Lunch
1 T$ X" N* A5 h* ^ | 16:30~17:00
/ P! L+ s, C# v$ \. Q0 I: Y | Survey & Lucky Draw
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發表於 2011-9-28 14:29:40
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