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[問題求助] 針對IEC6100-4-2的on-chip ESD 保護設計

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1#
發表於 2008-12-30 15:56:44 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?
% K7 l! N7 z& M有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計? 1 a$ G! U& G! _" j0 t
我個人認為當IC 啟動的時候,所有ESD Clamp 和ESD diode 是完全在關閉的狀態,所以即使hbm過了+/-4kV,system-level亦不一定過+/-15kV
6 L% m4 e3 h" v+ Q我的想法正確嘛?# v0 t( \& J% v1 q1 D, H
謝謝....
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2#
 樓主| 發表於 2009-1-10 00:40:29 | 只看該作者
好像沒有人遇到這個問題.....
( p) ^8 ^& {; `5 B9 J1 S! S% M. V這兒有沒有人負責IC ESD 設計?
3#
發表於 2009-1-17 10:54:01 | 只看該作者
System-Level是說沒有機殼的搭配嗎
! s; q8 q3 i% d1 [+ _  ^目前這樣的問題+/-15KV也是diode的設計基本值了
, t8 a' j" n+ S) B所以越好的diode啟動保護越快效果越佳
& L+ }# M0 |6 m但因為是limit值所以會有穩定的誤差值$ C/ \: Q6 N6 {0 T3 d+ P) \: `
大部分要搭配機構去防護
4#
 樓主| 發表於 2009-1-19 15:09:34 | 只看該作者
是呀, 沒有機殼的搭配, 只是加上一些PCB的external component,我們的客戶說打ESD GUN 是把我們的IC被打死,要求我們改善.6 ?7 }+ p5 P4 a" W( d1 F! }# _6 `) n
請問你所說的didoe 是IC PAD 內的diode,還是IC 外的TVS DIODE?
, |% l  \4 ~; J9 \  r. ~+ u3 `) W客戶不用TVS
5#
發表於 2009-1-20 16:04:30 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2008-12-30 15:56 發表   N4 U7 o0 z: T8 v+ d- J5 l
請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?  L, L* u2 S6 z# |
有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計?
4 v- M! {' h. z) U$ H: m我個人認為當IC 啟動 ...
( s+ s6 e: T6 B
3 |- H$ M. y, w' X7 w$ g
我有过这方面的经验,我们的片子hbm-6k没有问题,system level 15k也没有问题,外部没有加任何的钳卫器件。不知道你的片子里面用什么样的结构,不要用gcnmos,ggnmos可以用但是目前看来效果不太好,scr的效果很好

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semico_ljj + 2 + 2 对大家有帮助。

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6#
 樓主| 發表於 2009-1-20 18:56:37 | 只看該作者
請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了
2 P/ b! G, y1 I( ^( e/ x) A! ]ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS
7#
發表於 2009-1-20 21:08:46 | 只看該作者
"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?
8#
發表於 2009-1-20 21:10:46 | 只看該作者
SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。
9#
發表於 2009-1-21 11:42:24 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-20 18:56 發表 + w( _8 J& N7 R. l2 ]2 D
請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了
  g- D! s* o# O& k5 k) K4 ^! ^ESD protection 則用PNDIO  ...
/ y1 b. x( F7 O4 R
我们的pin比较少,没有像你们的那么多,不过那个成功的片子用的是scr结构(完全利用其击穿机制,没有加任何的detection circuit),是自己做的,代工厂没有提供相应的参考结构,现在已经量产,也做过相应的latch-up实验,并且pass.不知道兄弟用的什么样的结构,可否详细的描述一下,如果可以,我愿意尽自己的微薄之力的。
10#
 樓主| 發表於 2009-1-21 11:53:47 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:08 PM 發表
4 e% ^9 V7 Y& q( Y"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?

, h& }8 D3 h1 A: ~' W這是代工廠的建議! _- B  \' Z( z2 b
而我們則覺得它是最省空間, 我們的ESD design 全是custom 的, 沒有用代工廠的標準IO library
11#
 樓主| 發表於 2009-1-21 12:02:24 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:10 PM 發表 9 |5 i2 H6 Z  {6 t9 A8 ~9 }$ t
SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。

. s. P+ I+ l: s+ v0 C% q6 aSCR放電的能力是非常好,但它對Process的variation亦非常敏感,所以我們都不會用..大家亦不希望量產時有任何失誤而賠錢...做研究就好,用在產品就免了8 u$ f& T( A, t0 J; [
但我聽說大陸有很多的設計是用SCR的
12#
發表於 2009-1-21 13:30:29 | 只看該作者
SCR也试着做过,HBM效果很好的,但是不敢推广!呵呵,“Process的variation亦非常敏感”,想挑战8KV以上的可以尝试" {) G& C" h! ^; H
5 b2 ~/ I* c/ U" A& B
[ 本帖最後由 semico_ljj 於 2009-1-21 01:40 PM 編輯 ]
13#
發表於 2009-1-21 16:45:25 | 只看該作者
关于芯片级的esd,我们同一个片子做过ggmos/gcmos/scr三种结构,也有过相应的验证,HBM8k没有问题,但是拿到系统级上面,ggmos/gcmos无法满足客户的15k要求,只有scr结构能够ass,而且我们选的工艺比较稳定,所以选用了scr。个人感觉,pass15k,常规的esd结构很难,其中gcmos的结果最弱(有实验证明的),ggmos居中,scr最好,关于PNDIO + RC-GTNMOS,我没有用过,但是根据别的项目的经验,貌似想pass+/-15k很难

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參與人數 1Chipcoin +3 +3 收起 理由
semico_ljj + 3 + 3 细致。

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14#
發表於 2009-1-21 20:38:01 | 只看該作者
代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。
: o' u; c$ m( N3 T“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开启速度比ggmos快,应该比ggmos更好才是啊。SCR当然是最好的!
5 o- [! v1 j$ Opass 15K 是什么标准要求这么高啊,以前没做过。
15#
 樓主| 發表於 2009-1-22 11:02:33 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-21 08:38 PM 發表
1 B% D, o0 n) [! B4 p代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。7 s) K& S  K1 @( t( T
“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开&#2155 ...
; H5 V2 N. u! L8 X3 }
如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右.  Q. Q7 M/ [1 {9 V7 _  c
2 ~2 _  Z2 `  r0 u/ j% R( L
15k 是IEC61000-4-2是system 上的ESD 要求) Q$ U2 d! v- [9 x* y" @/ K2 G5 G% L
Air discharge 一般要+-15kV* A9 o# L+ s. q6 h2 o0 d
Contact discharge 一般要+-8kV9 R+ o# M/ e& Q! E, D& x
這個跟JEDEC/ESDA 的HBM standard 是完全不同; A. s' f% q. S8 L. i7 Y: c; s8 U

+ j3 z8 X! i; I[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 11:06 AM 編輯 ]
16#
發表於 2009-1-22 11:17:29 | 只看該作者

回復 15# 的帖子

"如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右."这句话有误!实践证明,foundry提供的只有DIODE的标准IO,可以通过至少2KV∼3KV以上!到了亚微米的工艺,厂商就是推荐直接采用Diode的ESD保护。' e, j3 `" S" `* q: l0 z
Diode到底好还是不好,大家可以进一步讨论。
17#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:30:20 | 只看該作者

回復 16# 的帖子

那就奇怪了4 m# w, K2 K7 V
我對標準IO 的了解不是很多,所以不知道它除了diode以外還有沒有其他的配套
: j$ x# a0 B% |5 SFoundry給我們的ESD design rules都有提到,如果I/O 用diode 的話,一定要有power-clamp. f/ `' P- u/ L6 C. V! \) {6 _
而在我們的產品內,power clamp 的設計就是GTNMOS- C$ j1 S' z+ P) e, K
7 L. ?9 p# R: Y4 n2 S
[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 01:42 PM 編輯 ]
18#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:40:34 | 只看該作者

回復 13# 的帖子

你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?( o+ R" _& i+ l* |9 v- X& D
我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路
/ _3 i' R& ?! N5 Y) ?: s1 p* P如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD
19#
發表於 2009-2-3 15:43:49 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-22 13:40 發表 7 u/ p, n% [0 C: G$ r5 g; ~2 s' O
你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?
& j$ @2 g4 Y( d我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路4 w5 r8 A, H& Q% ^
如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD
6 K6 h& s% f/ ?6 u4 o1 ~
有调过的,在芯片级8k没有问题的,但是系统级就不行了。我们没有做TLP,自己倒是做了ESD TEST
20#
發表於 2010-11-29 18:48:26 | 只看該作者
System level ESD 與 Chip level ESD 是兩個完全不同的規範,Syetem ESD 也是模擬 Humam body model ,但是放電能量要比 Chip HBM 大了約 5.6 倍 ( 儲能電容不同,限流電阻不同 ),所以 Chip 要直接承受System ESD 的 15 KV,可說是難上加難,一般系統會用一些方法把能量導走,不要讓 ESD 進到 IC,或是加分立式保護元件,才可能過的了15KV。
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