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[問題求助] 請教 Band-gap BJT 如果 layout 不 match

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1#
發表於 2008-11-30 12:03:32 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
有一問題想跟大大们請益??& G# J' `5 @- n( ~" g- C# {, a
如果是 bandgap 內bipolar layout 因製程變異; 導致silicon 上所見 並非如 cuicuit 上所建 1:8;
0 i3 P# e0 Y8 q8 |* h0 M
) Z& [- i1 S0 `/ b' S' C' l3 B/ ~那麼在 silicon 上所見到的 reference voltage electric 特性會變怎樣.; @! x* o$ N" Z
; M; }3 D, U6 Q; b8 e" c& {
歡迎大家發言...5 r6 M5 A7 [2 i0 i- F
謝謝
: K% Y/ b- i0 [) t+ k4 a! A6 d" `4 m5 G. Z. k5 m  i* u; I
6 H" p+ E/ G# |$ [5 l1 S# d1 F" l
以下是 bandgap voltage reference 的相關討論:6 |! H1 J; z* I4 \, v
bandgap無法將壓差降低  
4 \0 z2 z% ~& Q0 M. Xbandgap voltage reference?
$ |) x# s) z+ q# s" `5 N/ f. N關於CMOS的正負Tc * s# z% r) C: {1 [
如何在CMOS process 中做好溫度感應器?
( A2 [: R0 R/ }6 H" ]! `# N4 H  V請問有關 bandgap 內 op的 spec ....
+ V! c. ~6 g5 L4 ~7 Z" zbandgap的模擬問題 (單N,PMOS組成)
+ _1 e% l1 G3 v- K# CBandgapDC扫描温度特性时,不能正常工作 ! A" k9 `6 S1 S, j" z8 D' s# I$ U

2 y! P# `6 b( Z9 ~2 K$ x& o

" L$ d9 |0 `) Q# w# C( U* W. J3 X& S, U# n
[ 本帖最後由 sjhor 於 2009-3-17 05:54 PM 編輯 ]
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2#
發表於 2008-11-30 20:23:31 | 只看該作者
1:8的设计一般不会出问题的,倒是Res的matching倒是要注意
3#
 樓主| 發表於 2008-11-30 21:31:58 | 只看該作者
Dear S 大:' Y! r; z$ m) L- u6 M' O/ k
怎樣說 為何通常 bjt 不會有大問題 ?
- m4 q( j: y" e* Q( M) e例如 九公格內的單一unit 是 1umx1um 好 還是 10umx10um 好 ??" i, d* i/ O- U) q6 {+ S3 ]7 y

: U7 p* G) Z& @% i4 }; g如果沒選好 ....影響有多大 ???
* s6 v" a/ t; i! m$ F7 p" B這能用 monte carole 來仿看看嗎 ??* L3 ~5 q/ f3 t

+ Z; G5 I1 T' `" b: d' i$ A/ l多謝.
6 _; D& S+ }! g+ m$ B
4#
發表於 2008-12-1 00:13:48 | 只看該作者
我個人都是選10x10的BJT
1 p4 Z* U4 G8 \+ [+ h1 n以前我們曾從HSPICE Model來看,發覺到10X10在溫度係數上相較於其他size是比較穩的,不過,各家製程廠不見得都會是這種情況,所以,必需以各家所提供的HSICE model比較後才會知道; w! H# U- |5 q1 N( b
至於1:8,若沒有照九宮格的layout排法,在製程上是不會有問題,但出現的performance可能會有一些小問題,但影響多大,其實很難說,畢竟T公司的技術比起其他三級的製程廠技術來說,這些小地方就決定了T公司的價值存在,有些三級製程廠所提供的HSPICE model還不見得很準,有時還得下test key來驗證一下它的HSPICE model的準確性
: H- ]* y$ A- R' O; F1 |0 u9 @% m至於monte carole能不能模擬出來看,當然有辦法模擬,但成效如何,其實還是得看製程廠的技術和提供的model
5#
發表於 2008-12-1 16:02:04 | 只看該作者
是的,一般Foundry提供 5×5的;10×10的;20×20的。实际可以看情况!取10×10的是面积和精度的折衷!
6#
發表於 2008-12-2 18:22:26 | 只看該作者
我曾經下過顆包含BJT的Bandgap電路7 ~4 k$ ?0 W- y8 J. _- k/ [

; u5 i: J- u/ S6 }+ [. ^只是測量晶片時
9 U) h0 M6 J7 \5 j1 z
% D1 o4 A: R9 fperformce降低相當多啊. K! t, U! E% A. ]; E4 n9 d# y

' C4 w9 P" {5 \1 U而且BJT有match到
) C. @# K" [% ?; I6 H, O. @3 D5 q  Q$ O0 q3 ?% c8 W* D
你可以注意BJT Bandgap是否相當的關鍵重要
6 z. v$ e4 m4 r' N4 e; j2 g5 P+ N; h; {& J
再去考量電路的Layout架構
7#
發表於 2008-12-3 11:39:29 | 只看該作者
match对电路影响比较大,如果要降低噪声的话,需要选择较大的bjt,我们选的一般是10×10
8#
發表於 2008-12-3 12:00:30 | 只看該作者
Area 越大,matching 越好
9#
發表於 2009-1-7 18:03:08 | 只看該作者
5×5和10×10在面積上當然10*10的match更好,REF的離散性更好,另外由於E面積的區別,會造成BJT的vbe有所差別
10#
發表於 2009-1-9 14:59:23 | 只看該作者
我的看法是...如果你需要很準的reference電壓
& p0 q* w8 p! v! x: G4 c光想靠layout matching是很難的0 Q) i% z7 W# c5 S' s
多準備一些trim吧0 @$ A+ G4 }3 o0 J# s
基本上1:8已經是ok了  J! |5 T" J5 S# f9 N
重要的是你R的layout跟type
11#
發表於 2009-1-9 16:31:17 | 只看該作者
有種 疊2層 pnp 的 bandgap 架構/ D( B& B5 w1 f; F! q1 ?' I2 r% {% `

: [, C  C, Y1 j7 i& B, Q9 f有高人說對製程偏移影響較小
7 Z, L* Q( D. x7 [$ {& ~' f/ C+ n, P( q
可惜我只看過 run過  沒實際下ic回來測試過...
12#
發表於 2009-1-12 22:20:18 | 只看該作者
其实可以通过仿真大致的确定一下影响! ?! N, C3 k8 V( P; s3 b! F  ]( v" J
不同结构的BG对器件的敏感度是不一样的,可能BJT的变化并无太大影响,也可能有毁坏性的作用
! v- i$ `/ w3 M8 J仿真中一般有dc sense仿真(好像主流的仿真工具都有)' g- k7 u5 s+ o, S/ D0 {& Y+ y
尝试调试一下期间的参数变化(需要design rule和fab库文件的支持),看看那些器件对BG影响最大
13#
發表於 2009-1-13 17:41:30 | 只看該作者
我们公司的bandgap不用trimming , 加上一个电压跟随器(测量用), 电压变化是正负40mv , 架构还没完全看明白,这个bandgap性能到底如何呢?
14#
發表於 2009-11-25 16:20:15 | 只看該作者
如果是我的話我也是會選擇使用 10 x 10 的 BJT& F. p7 \& n8 M8 ~) |
; z% C* l$ r& Y
原因無他…因為layout area比較大,所以gain到的 delta offset也會比較小2 x+ y/ }/ ^) t( d4 V1 F1 C

6 ~! F2 {  N! A$ g: Q+ J另外,bandgap的分壓電阻我到是覺得還好…因為他是ratio式的
5 r& s! w; [2 \* q- k9 u$ p/ K, j' ]/ E2 p' L5 ~
所以即使process飄掉的話也是一起飄向同一邊!!!
15#
發表於 2009-12-22 16:24:01 | 只看該作者
The area of emitter will have mismatch and is proportional to the BJT size, thus bigger is better. Also, the bigger the area is , the less sensitive it will be to the current injected.
16#
發表於 2009-12-23 15:43:13 | 只看該作者
回復 13# guang3000 * s8 {& e" Y! W' i# r
2 B$ A, ]& F4 b/ V/ g  j. Z8 ?
    請問一下   在 Bandgap後加一級的 op buffer , 量出來 40 mV 是一堆 IC的量測值吧
! p( K/ Y. O; |3 n/ a* w6 [1 L9 J8 P7 f* r
    這樣子不是會把 每個 op 的 offset 也包含進來了嗎 ? ( I! r  q) I; ]2 O! a6 O% C
; \. T* D( A0 c! [8 _* t$ h
    有的剛好與 BG 正負相抵, 有的剛好累加, 還是我的解讀有錯呢?
17#
發表於 2011-10-7 16:30:49 | 只看該作者
本帖最後由 2008ql 於 2011-10-7 04:49 PM 編輯 , B- K  c5 V7 F% {+ _
  R% y3 R+ ]0 y% u! t- |
回復 2# semico_ljj
) `9 g& o0 c# Z6 V: l9 u3 s3 ?' U1 }
. V2 S1 @& h4 I& L" H- K" h% n( @& C& R- ^
dear semico_ljj,* G$ r" U: z& P" _9 q! Y9 v
我現在做bandgap reference,覺得連接電阻的metal,以及電阻到地的metal對reference輸出的溫飄有較大影響。請問以您的經驗,這種影響大嗎,有什麽改進的措施嗎?; ?( A5 G5 h" m! K4 n$ {$ E# ]
還有從postsim的結果推斷,地電位應該是向上飄了,有這種可能嗎?: n9 a' z7 E' G0 g5 f
能具體介紹一下您說的電阻匹配嗎?
2 i% g; s( @! h; a謝謝!& w3 k9 n) e, e) D
也請其他各位高手指教!
18#
發表於 2012-7-16 20:58:42 | 只看該作者
相同面積下我再公司作通常會選能畫到16或25顆的尺寸(2X2, 5X5, 10X10)+ G: A5 a2 f2 k
科數越多OP_OFFSET影響越小
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