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[問題求助] 請教兩個關于ESD的問題

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1#
發表於 2008-11-29 11:40:06 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?: `$ B# N4 o/ R/ S4 o5 {
第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試
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2#
發表於 2008-12-2 21:21:42 | 只看該作者
原帖由 hvpower 於 2008-11-29 11:40 發表 / I2 E" d; Z8 {) g+ u9 r
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?4 V* I) Q4 E4 S  N/ f- a
第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一 ...
, u4 F6 h+ R( W9 l. O# I

' d# v" F0 s+ x- ]/ Y7 q我是这样理解的:
+ T& }1 o! d9 o第一個:输出PAD也要做ESD保护,否则这个NMOS管也容易损坏; J" H, U) d% a+ D, Y# `2 b, G- q
第二個:这是根据ESD测试标准来测试的,引脚由我们提供,测试公司只负责测试;
- x) i, D  k* Y/ S        我们选择一些具有一些代表性的引脚出来就可以了,不需要每个都测试;
3#
發表於 2008-12-11 13:56:32 | 只看該作者
进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I╱O引脚会进行以下六种测试:8 F- }4 _) n9 K: e* [+ ~% Q# c$ W2 ?' Y
1) PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
& r2 l! T% Y1 }: u2) NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
  L% r( T& H( P5 ?% ~3) PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;7 U9 t: O; a6 s& O2 g$ [
4) ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;( {5 q" E) A# B- ^
5) 引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空;
* x" v' X$ f" a: t' e8 N; ~$ L6) 引脚对引脚反向模式:引脚施加负的:ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。
: }7 W, n: c9 w( o- Z0 X: V2 p5 dVDD引脚只需进行(1)(2)项测试
7 `  M" T4 h0 }7 a5 H1 E" G0 o
4 Z. q% Q4 r- `: [! D; H应该是one by one 的测试,管脚多的话,排列组合就多,很费时的。
4#
發表於 2008-12-11 13:57:33 | 只看該作者
第二个:ESD测试都是有参考引脚的,也就是说某个引脚的ESD测试不是孤立的,而是相对于某个引脚的ESD电压,通常是对电源和地。因此,ESD测试都是一对引脚一对引脚地测试的。ESD测试还有不同的模型,如HBM,CDM等
5#
 樓主| 發表於 2008-12-22 13:50:21 | 只看該作者
THANK YOU  ABOVE  
6#
發表於 2008-12-22 18:30:52 | 只看該作者
It must be tested one by one.  Or you may miss something?
7#
發表於 2010-1-12 18:22:13 | 只看該作者
1. 只要是有跟外界接觸的針腳都要加ESD保護電路7 ^/ R9 [. k/ n9 M* t; K+ K
2.每隻針腳都要測試 一根一根來你可以看JEDEC standard 
8#
發表於 2010-1-20 16:17:25 | 只看該作者
回復 7# wesleysung
+ C. O" F8 k* B8 L" s4 B+ Q: K" E* k8 o: O- I" `! Y) D- `
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?+ r' c+ z5 n5 g$ J* ]9 _5 f
& r. V, _; p6 n  u4 n
每一个与外界相连的PAD都需要加ESD保护,无论是input,output,power pad.4 V1 X% c3 r' L% d& `
: m3 B, D% _$ D
第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試。
+ B) }( t2 v6 h  ~3 p( a' R6 Y) o; C5 ~
只有严格按照JEDEC 的测试要求才能准确地反映IC 的ESD能力。% s: T; t" j! n5 S4 M, e
每一个power pad VS. 每一个power pad;
5 H# t% |. e/ ~; P' o! U* r. y每一个I/O pad VS. 每一个power pad;
- Y/ c; |3 O, {每一个I/O pad VS. 每一个I/O pad
9#
發表於 2010-1-20 18:45:12 | 只看該作者
看了這些文章/ ], n2 q: j8 A9 {" q. @+ `1 t) |
對esd protection又有進一步的認識了
10#
發表於 2013-7-15 17:11:15 | 只看該作者
每测一次,都要换新的IC吗?
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