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成也蕭何, 敗也蕭何
在SOC production test的世界中, 設備使用的"彈性"也是降低持有成本的必要條件,
' P( `2 |* U9 |$ p% U愛德萬自原先專注的記憶體測試市場欲跨入SOC測試, 利用其Handler最大並列同測能
3 }/ e9 N1 x' I$ M9 n6 I; M力(每次16個元件, 一般Memory Handler每次可測256個元件) 來提高效率並降低成本,
/ ~7 [) W: s! G @乍聽之下似乎超越現在的系統 (一般每次可測4個元件) 但是
6 U& k2 d5 a' P M* B# x1 h! [+ x1. 愛德萬的Handler並無法與其他廠牌測試機連接運作 (愛德萬不提供連線電氣規格), 設備投資彈性不足.
* O6 c7 L% @0 p1 @6 O2. 愛德萬的Tester無法與其他廠牌Handler連接運作, 萬一產品封裝格式M4841不支援, 生意也別想接了.6 u. K n' a& j- i
3. 大型SOC使用高腳數大尺寸IC封裝, Tester I/O數量頂多支援同時測試2~4個元件, Handler再強也無用武之地.- k; v0 q3 v0 X' v W' f+ n
E2 v6 j, S8 g6 l v0 b( s換言之, 中型腳數(<=200pin) 之消費型IC, 應該是最能發揮該系統每次可測16個元件高效率的目標市場,. R0 P& A- `. U4 Z7 G
但是per pin 500Mbps or 800Mbps的高貴I/O又超出該市場所需, 開發低價200Mbps的I/O模組及6 C# @: G# [5 u$ G8 N& f
高速3.6Gbps高速序列介面模組(for few LVDS/PCIe/SATA2/HDMI pins)才是符合市場發展的策略.
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$ u. G) i: o, k) A: N$ l另外該宣傳稿未見SOC測試常見支援Video AD/DA測試之14bit HF-AWG及Digitizer. Audio band的AWG7 s/ R6 l. s- ~- B8 \# m& x
及Digitizer也不知resolution(18 or 24bit?)及noise floor (or SNR). 此外, 元件power supply channel數0 o0 B8 z$ |+ r
也是重點, 一般SOC的pad power與core power電壓不同, 再把analog power分離, 一個元件就需要至少3 F% D) w; }5 ? w% f
3個分離電源, 測試機至少要能提供48~64個可程式分離電源, 才能達到宣傳的"一次可測16個元件".
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愛德萬T2000被Intel大量採用, 想必有過人之處, 但是台灣測試產業面對多變的環境及各種客戶,
( i( A9 v" F& N/ a c7 N彈性與效率是同等重要, 既然名為Open, 真的多open一些連接規格反而比較容易活. |
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