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這是之前我對JDV的回覆, 貼在此處供您參考:
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Job View在我們公司 是RD跟 Device去做CHECK的/ T6 T1 l1 B* D$ P2 y
因為不可能整顆IC 每個 Pitch width spacing 都CHECK6 R% g" C/ p( X0 a
所以只能用 隨機取樣的方式 做 CHECK
$ S0 ]8 j2 K/ W6 \我認知的步驟如下:
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1. Check Version Code 要確定 這層光罩 全部LAYER的 Version code都有出現, 如果有缺少
' \4 \" E: G2 J7 q; t 就要跟FAB廠 comfirm 看看是不是本來就沒有放.
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2. 找一個 這層光罩 每個LAYER都有出現的地方 (為了便利性)6 {& f, y. [8 B& t& E- j
如果這是個 OPC LAYER 就要找 環境類似或重複性很高的地方去量 X-axis 與 Y-axis的 Pitch( R+ t4 C) M6 T8 ?: {# s" f
如果不是OPC LAYOUT 就只要找 X-axis 與 Y-axis 的任一 width跟 spaing來量" j! E6 R9 {+ E7 k. ~& E9 `
選擇的 樣本數 越多 自然自己就會越心安 JOB Deck view 出包機率也會下降 (因為光罩很貴,你年薪都沒那麼多)
1 u' F9 R; u& U' F9 D o3 _" x 在這邊要特別注意, 如果這層光罩 有 L1+L2+L3+L4 你要盡量去量 Layer與Layer有重疊或鄰近地方的# |2 U, S# K- }( n$ c3 ^: x8 x
wdith, spacing 或 Pitch 才能夠順便CHECK 光罩有沒有在做OR運算的時候出錯
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3. 最後要確定 光罩有沒有 Shift* k& Q6 k/ `) X& k8 R! l
把之前VIEW過的 光罩拿出來疊 看看 width,spacing ,pitch有沒有跑掉, X軸與Y軸都要看
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4. 如果是改版的話, 就只要看兩個版本不一樣的地方, 還有疊起來是不是除了改的地方之外 是完全重合的
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- m; n$ X8 u$ M) t6 D5. 如果這層光罩 有很多不同類型的地方, 比如 ESD IO Interface, PAD, Array, ....etc ) p3 t. F: e( ?" L
為了保險起見 最好每個地方都重複 2-3的步驟 以確保萬無一失4 w: f9 h A2 X4 e/ E/ \& H
+ W$ p: w" H, j5 _- R7 h這是我所知道的CHECK方式,如果有遺漏的地方 也請其他好心的大大補充.
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