|
成也蕭何, 敗也蕭何
在SOC production test的世界中, 設備使用的"彈性"也是降低持有成本的必要條件,/ N7 P$ i$ N' S1 t1 d8 G# C
愛德萬自原先專注的記憶體測試市場欲跨入SOC測試, 利用其Handler最大並列同測能+ ^ a9 |4 r5 N6 H
力(每次16個元件, 一般Memory Handler每次可測256個元件) 來提高效率並降低成本,
$ h7 V" i; u. Z3 C乍聽之下似乎超越現在的系統 (一般每次可測4個元件) 但是
- x) o/ Z- J8 Q# v. U, g7 P1. 愛德萬的Handler並無法與其他廠牌測試機連接運作 (愛德萬不提供連線電氣規格), 設備投資彈性不足.
) M7 }' m8 w: x- H% v R2. 愛德萬的Tester無法與其他廠牌Handler連接運作, 萬一產品封裝格式M4841不支援, 生意也別想接了.9 ^( x# T5 n/ {
3. 大型SOC使用高腳數大尺寸IC封裝, Tester I/O數量頂多支援同時測試2~4個元件, Handler再強也無用武之地.
0 Y5 \# h# i8 x1 G" z0 Z( U* T' Q# O; f. e, M8 ]
換言之, 中型腳數(<=200pin) 之消費型IC, 應該是最能發揮該系統每次可測16個元件高效率的目標市場,
7 ?# S' o& ~! Q/ G/ H. j: K但是per pin 500Mbps or 800Mbps的高貴I/O又超出該市場所需, 開發低價200Mbps的I/O模組及- m# ?- I& C- k; U
高速3.6Gbps高速序列介面模組(for few LVDS/PCIe/SATA2/HDMI pins)才是符合市場發展的策略.2 A) N) G ]" V% f$ L$ x- L( i A: B
' V+ G7 j: [& Z另外該宣傳稿未見SOC測試常見支援Video AD/DA測試之14bit HF-AWG及Digitizer. Audio band的AWG+ }5 K) s9 [4 J+ s* Y$ d! J
及Digitizer也不知resolution(18 or 24bit?)及noise floor (or SNR). 此外, 元件power supply channel數* ]6 f' L$ d* J, |6 f4 g
也是重點, 一般SOC的pad power與core power電壓不同, 再把analog power分離, 一個元件就需要至少
, D \9 A7 X G) i7 q& t$ ]3個分離電源, 測試機至少要能提供48~64個可程式分離電源, 才能達到宣傳的"一次可測16個元件".
& j, n: D% ? c
9 z5 q8 G3 b$ O! A愛德萬T2000被Intel大量採用, 想必有過人之處, 但是台灣測試產業面對多變的環境及各種客戶,
6 Q0 T* Z( v2 d彈性與效率是同等重要, 既然名為Open, 真的多open一些連接規格反而比較容易活. |
評分
-
查看全部評分
|