10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會

amatom

活 動 日 期	2011-10-13
報 名 截 止 日	2011-10-07
人 數 限 制	120人
活 動 場 次	台北
活 動 地 點	維多利亞酒店 1F宴會廳 C廳 (104台北市中山區敬業四路168號)

DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會		通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。		隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。 ' B8 s9 Z! p7 O2 `5 {8 U" v/ Y8 e
08:30-09:00 5 E+ s8 [; x4 S	Registration and Welcome	13:00-13:30 , z- e9 l0 C' {0 [( s	Registration and Welcome 7 u0 u/ F+ z& G, N& l& {
09:00-10:00	DDR1/2/3的電氣特性規格要求	13:30-14:30	速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰 ) n! d8 t9 {, c2 J$ I8 i
10:00-10:30 7 K/ M3 w/ V( g" M8 s6 F. F	DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧 . u) N' ^1 E3 H- ]	14:30-15:00 ' N2 Y; K* v+ H$ A3 z	USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程
10:30-10:50	Break & Product Fair	15:00-15:20	Break & Product Fair : `; g- t' i# t: p+ v; c
10:50-12:00 , C8 j6 `# r+ r5 j	如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程 # i. ~4 n+ m& t1 q: `	15:20-16:30 . I3 X; _( ?7 f) G+ R	USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題
12:00-13:00 $ u  ~4 {0 t: z' h- I  n: q, T" g	Lunch	16:30~17:00	Survey & Lucky Draw 4 A+ L# N4 l: o; I: Q- O5 u

' R4 ?' Q* W4 k1 @+ {: v* o
( {* ~; c( o6 c5 m3 L: x) L0 S2 y( d