|
转帖:CMOS 版图设计中对电源总线噪声的考虑
8 s. S6 v- A: X* o 本文所描述的噪声现象不是由于热噪声或者电荷散射所引起的,而是由于CMOS I/O驱动器的输出管脚上的电平变化,在电源总线(VDD和
+ i, P# z9 \: C: K/ G, zVSS)上产生的噪声电压所引起的,被称为电源总线噪声(power bus noise)。 G' h6 {9 J; {. K+ W1 e3 I9 d
我们知道,每当CMOS门改变其输出电平时有一个电流尖峰(current spike)流过电源总线并产生噪声电压,称它是开关噪声。电源总线以及
& H2 [- y2 z+ A- q它们与封装管脚的连接必须有足够的导通性能,使得来自输出驱动器中的所有电流尖峰不致于产生过大的噪声电压,破坏电路的正常操作% D9 B: V, V3 s4 z
。然而,芯片中的电源总线以及压焊封装连接线都具有电阻和电感特性,在多个I/O驱动器(或者输出驱动器)排列的版图区域内,最有可能在* F# ]/ v* {% e8 L, h% ~+ {
电源总线上产生较大的噪声电压,过高的电源噪声电压还影响电路的延迟时间,使电路可能出现迟滞故障。 为了保证电路安全可靠地操作. N* @7 s- p* L
,需要减小和限制电源总线噪声。下面从版图设计角度来考虑如何进行好的强壮的电源设计。 |
|