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[問題求助] 針對IEC6100-4-2的on-chip ESD 保護設計

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1#
發表於 2008-12-30 15:56:44 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?
# X3 d  l& D. f1 f5 c. H# a* P0 \有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計? ' C7 _# @% O5 w5 K7 E
我個人認為當IC 啟動的時候,所有ESD Clamp 和ESD diode 是完全在關閉的狀態,所以即使hbm過了+/-4kV,system-level亦不一定過+/-15kV1 {6 q  V' o4 }& S5 x* j9 n
我的想法正確嘛?  |: X, k7 @6 Z  A% N) i1 C- l: T# R) c
謝謝....
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2#
 樓主| 發表於 2009-1-10 00:40:29 | 只看該作者
好像沒有人遇到這個問題.....
' T8 t5 A2 Z& Y6 a, e這兒有沒有人負責IC ESD 設計?
3#
發表於 2009-1-17 10:54:01 | 只看該作者
System-Level是說沒有機殼的搭配嗎
, A6 s+ N( V: I- ^* w目前這樣的問題+/-15KV也是diode的設計基本值了7 Q/ w  Y. @# _$ C2 L# t& D# s# y
所以越好的diode啟動保護越快效果越佳
( f: t" d% a$ C) t但因為是limit值所以會有穩定的誤差值
4 i8 _& ]5 j# x) B" I- `大部分要搭配機構去防護
4#
 樓主| 發表於 2009-1-19 15:09:34 | 只看該作者
是呀, 沒有機殼的搭配, 只是加上一些PCB的external component,我們的客戶說打ESD GUN 是把我們的IC被打死,要求我們改善.
2 `7 \+ u4 ~/ k2 k請問你所說的didoe 是IC PAD 內的diode,還是IC 外的TVS DIODE?
  p/ x$ P0 G! }客戶不用TVS
5#
發表於 2009-1-20 16:04:30 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2008-12-30 15:56 發表 # k( ^: R5 R  f
請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?
1 G) e" p' p4 X! q" y2 h有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計?
# U& m5 T5 Y% J: Q- z我個人認為當IC 啟動 ...
5 O& H& G: N+ P# X! L. b6 U

$ s1 w/ E& G4 X/ F# F9 A8 }我有过这方面的经验,我们的片子hbm-6k没有问题,system level 15k也没有问题,外部没有加任何的钳卫器件。不知道你的片子里面用什么样的结构,不要用gcnmos,ggnmos可以用但是目前看来效果不太好,scr的效果很好

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6#
 樓主| 發表於 2009-1-20 18:56:37 | 只看該作者
請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了; @  z# Y5 c' g8 {9 w  P6 ^
ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS
7#
發表於 2009-1-20 21:08:46 | 只看該作者
"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?
8#
發表於 2009-1-20 21:10:46 | 只看該作者
SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。
9#
發表於 2009-1-21 11:42:24 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-20 18:56 發表
& y5 Y  S! E3 m- t. }8 g) d: L請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了
- O5 y4 U4 d* D  L/ cESD protection 則用PNDIO  ...
9 U* a! `9 S, Y9 b
我们的pin比较少,没有像你们的那么多,不过那个成功的片子用的是scr结构(完全利用其击穿机制,没有加任何的detection circuit),是自己做的,代工厂没有提供相应的参考结构,现在已经量产,也做过相应的latch-up实验,并且pass.不知道兄弟用的什么样的结构,可否详细的描述一下,如果可以,我愿意尽自己的微薄之力的。
10#
 樓主| 發表於 2009-1-21 11:53:47 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:08 PM 發表
% \6 Q3 @9 m2 u. ^"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?
3 x% A5 P$ n1 f: _6 H0 G
這是代工廠的建議4 \" F* R8 a) f/ @
而我們則覺得它是最省空間, 我們的ESD design 全是custom 的, 沒有用代工廠的標準IO library
11#
 樓主| 發表於 2009-1-21 12:02:24 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:10 PM 發表 " [5 {: z3 a" g/ s4 C
SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。

0 t7 ~. `8 S" z, z9 e8 kSCR放電的能力是非常好,但它對Process的variation亦非常敏感,所以我們都不會用..大家亦不希望量產時有任何失誤而賠錢...做研究就好,用在產品就免了
) S8 ^" ?4 I# w但我聽說大陸有很多的設計是用SCR的
12#
發表於 2009-1-21 13:30:29 | 只看該作者
SCR也试着做过,HBM效果很好的,但是不敢推广!呵呵,“Process的variation亦非常敏感”,想挑战8KV以上的可以尝试
  |2 J, q0 I2 A0 W" W' j3 z6 ?' J6 D5 o4 I
[ 本帖最後由 semico_ljj 於 2009-1-21 01:40 PM 編輯 ]
13#
發表於 2009-1-21 16:45:25 | 只看該作者
关于芯片级的esd,我们同一个片子做过ggmos/gcmos/scr三种结构,也有过相应的验证,HBM8k没有问题,但是拿到系统级上面,ggmos/gcmos无法满足客户的15k要求,只有scr结构能够ass,而且我们选的工艺比较稳定,所以选用了scr。个人感觉,pass15k,常规的esd结构很难,其中gcmos的结果最弱(有实验证明的),ggmos居中,scr最好,关于PNDIO + RC-GTNMOS,我没有用过,但是根据别的项目的经验,貌似想pass+/-15k很难

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semico_ljj + 3 + 3 细致。

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14#
發表於 2009-1-21 20:38:01 | 只看該作者
代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。( ?' F4 t6 s0 z2 A; S4 m3 x* |
“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开启速度比ggmos快,应该比ggmos更好才是啊。SCR当然是最好的!
, H- g: Y9 w! H- \pass 15K 是什么标准要求这么高啊,以前没做过。
15#
 樓主| 發表於 2009-1-22 11:02:33 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-21 08:38 PM 發表 + V3 f8 Z# O9 [' m9 {
代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。: k& \$ A  A7 `" r
“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开&#2155 ...

: z% h6 K( S/ ]" U( |( N0 I如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右.
  u, p$ b* Q( p5 g% o; A" R# Y7 M
15k 是IEC61000-4-2是system 上的ESD 要求
3 M  t; O2 o. r* W% A9 mAir discharge 一般要+-15kV
4 T& E$ O+ ^& zContact discharge 一般要+-8kV
5 z5 x$ L; b- b' ?1 d. |  k這個跟JEDEC/ESDA 的HBM standard 是完全不同
  H2 b) f/ U) O* v
: {' C+ i3 p0 u. Q1 ?, l5 Q  s3 ^[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 11:06 AM 編輯 ]
16#
發表於 2009-1-22 11:17:29 | 只看該作者

回復 15# 的帖子

"如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右."这句话有误!实践证明,foundry提供的只有DIODE的标准IO,可以通过至少2KV∼3KV以上!到了亚微米的工艺,厂商就是推荐直接采用Diode的ESD保护。
( _" H, _- K& f( @$ kDiode到底好还是不好,大家可以进一步讨论。
17#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:30:20 | 只看該作者

回復 16# 的帖子

那就奇怪了+ {9 B( r* C$ c2 ^7 W
我對標準IO 的了解不是很多,所以不知道它除了diode以外還有沒有其他的配套, N5 t2 ]/ v0 [7 s
Foundry給我們的ESD design rules都有提到,如果I/O 用diode 的話,一定要有power-clamp( k! i4 M8 r, Y6 q7 D3 m' r
而在我們的產品內,power clamp 的設計就是GTNMOS  a+ `' r4 v. o  P0 K% a$ X" l; K
" U1 X& l8 Y) g' z" i
[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 01:42 PM 編輯 ]
18#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:40:34 | 只看該作者

回復 13# 的帖子

你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?
- |0 K$ r) o4 Y- C+ F% n- |我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路) Q2 q6 z: D0 w+ ?2 H* p
如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD
19#
發表於 2009-2-3 15:43:49 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-22 13:40 發表 0 a+ S4 |9 ^6 N
你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?8 z9 I* a7 L, u6 t
我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路8 d; P4 y1 L# f7 M; u
如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD

9 y* S% v' S, n% P; Z  w有调过的,在芯片级8k没有问题的,但是系统级就不行了。我们没有做TLP,自己倒是做了ESD TEST
20#
發表於 2010-11-29 18:48:26 | 只看該作者
System level ESD 與 Chip level ESD 是兩個完全不同的規範,Syetem ESD 也是模擬 Humam body model ,但是放電能量要比 Chip HBM 大了約 5.6 倍 ( 儲能電容不同,限流電阻不同 ),所以 Chip 要直接承受System ESD 的 15 KV,可說是難上加難,一般系統會用一些方法把能量導走,不要讓 ESD 進到 IC,或是加分立式保護元件,才可能過的了15KV。
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